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Volumn , Issue , 2008, Pages 1461-1463

Grounding and induced voltage issues of the injection bump magnet system of the 3-GEV RCS IN J-PARC

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CAPACITORS; INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTORS (IGBT); MAGNETS;

EID: 84898979791     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.