Infrared-optical spectroscopy of transparent conducting perovskite (La,Ba)SnO3 thin films

Applied Physics Letters

Volumn 104, Issue 2, 2014, Pages

  Seo, Dongmin ^a   Yu, Kwangnam ^a   Jun Chang, Young ^a   Sohn, Egon ^b   Hoon Kim, Kee ^b   Choi, E J ^a  

^a University of Seoul   (South Korea)

^b Seoul National University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CONDUCTING ELECTRONS; DRUDE RESPONSE; EFFECTIVE MASS; ELECTRON-DOPED; HALL EFFECT MEASUREMENT; PLASMA FREQUENCIES; TRANSPARENT CONDUCTING OXIDE; TRANSPARENT THIN FILM;

SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY;

THIN FILMS;

EID: 84893129331     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4861776     Document Type: Article

References (23)

1. H. J. Kim, U. Kim, H. M. Kim, T. H. Kim, H. S. Mun, B. G. Jeon, K. T. Hong, W. J. Lee, C. Ju, K. H. Kim, and K. Char, Appl. Phys. Express 5, 061102 (2012). 10.1143/APEX.5.061102
2. X. Luo, Y. S. Oh, A. Sirenko, P. Gao, T. A. Tyson, K. Char, and S.-W. Cheong, Appl. Phys. Lett. 100, 172112 (2012). 10.1063/1.4709415
3. H. J. Kim, U. Kim, H. M. Kim, T. H. Kim, J. Kim, H. M. Kim, B. G. Jeon, W. J. Lee, H. S. Mun, K. T. Hong, J. Yu, K. Char, and K. H. Kim, Phys. Rev. B 86, 165205 (2012). 10.1103/PhysRevB.86.165205
4. A. Ohtomo, K. Tamura, K. Saikusa, K. Takahashi, T. Makino, Y. Segawa, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Appl. Phys. Lett. 75, 2635 (1999). 10.1063/1.125102
5. H. Toyosaki, M. Kawasaki, and Y. Tokura, Appl. Phys. Lett. 93, 132109 (2008). 10.1063/1.2993346
6. R. L. Weiher, J. Appl. Phys. 33, 2834 (1962). 10.1063/1.1702560
7. E. Moreira, J. M. Henriques, D. L. Azevedo, E. W. S. Caetano, V. N. Freire, and E. L. Albuquerque, J. Solid State Chem. 187, 186-194 (2012). 10.1016/j.jssc.2011.12.027
8. H. R. Liu, J. H. Yang, H. J. Xiang, X. G. Gong, and S. H. Wei, Appl. Phys. Lett. 102, 112109 (2013). 10.1063/1.4798325
9. B. G. Kim, J. Y. Jo, and S. W. Cheong, J. Solid State Chem. 197, 134-138 (2013). 10.1016/j.jssc.2012.08.047
10. S. Sallis, D. O. Scanlon, S. C. Chae, N. F. Quackenbush, D. A. Fischer, J. C. Woicik, J. H. Guo, S. W. Cheong, and L. F. J. Piper, Appl. Phys. Lett. 103, 042105 (2013). 10.1063/1.4816511
11. D. O. Scanlon, Phys. Rev. B 87, 16201-R (2013) 10.1103/PhysRevB.87. 161201.
12. D. N. Basov, R. D. Averitt, D. van der Marel, M. Dressel, and K. Haule, Rev. Mod. Phys. 83 (2), 471 (2011) 10.1103/RevModPhys.83.471.
13. R. J. Choudhary, S. B. Ogale, S. R. Shinde, V. N. Kulkarni, K. S. Harshavardhan, M. Strikovski, B. Hannoyer, and T. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 84, 1483 (2004) 10.1063/1.1651326.
14. H. L. porter, C. Mion, A. L. Cai, X. Zhang, and J. F. Muth, Mater. Sci. Eng. B 119, 210-212 (2005). 10.1016/j.mseb.2005.02.042
15. J. Rho, K. Yu, R. H. Jeong, J. H. Park, J. S. Chung, and E. J. Choi, Jpn. J. Appl. Phys. 50, 120209 (2011) 10.1143/JJAP.50.120209.
16. Y. F. Guo, L. M. Chen, M. Lei, X. Guo, P. G. Li, and W. H. Tang, Physica C 450, 96-100 (2006). 10.1016/j.physc.2006.08.017
17. A. B. Kuzmenko, Rev. Sci. Instrum. 76, 083108 (2005). 10.1063/1.1979470
18. P. D. Borges, L. M. R. Scolfaro, H. W. L. Alves, and E. F. da Silva, Jr., Theor. Chem. Acc. 126, 39 (2010). 10.1007/s00214-009-0672-3
19. H. Odaka, S. Iwata, N. Taga, S. Ohnishi, Y. Kaneta, and Y. Shigesato, Jpn. J. Appl. Phys. 36, 5551 (1997). 10.1143/JJAP.36.5551
20. M. Oshikiri, Y. Imanaka, F. Aryasetiawan, and G. Kido, Physica B 298, 472 (2001). 10.1016/S0921-4526(01)00365-9
21. T. Okuda, K. Nakanishi, S. Miyasaka, and Y. Tokura, Phys. Rev. B 63, 113104 (2001). 10.1103/PhysRevB.63.113104
22. H. Mun, U. Kim, H. M. Kim, C. Park, T. H. Kim, H. J. Kim, K. H. Kim, and K. Char, Appl. Phys. Lett. 102, 252105 (2013). 10.1063/1.4812642
23. I. Hamberg, C. G. Granqvist, K. F. Berggren, B. E. Sernelius, and L. Engström, Phys. Rev. B 30, 3240 (1984) 10.1103/PhysRevB.30.3240.