-
1
-
-
66449127373
-
-
George, S. M.; Yoon, B.; Dameron, A. A. Acc. Chem. Res. 2009, 42, 498-508.
-
(2009)
Acc. Chem. Res.
, vol.42
, pp. 498-508
-
-
George, S.M.1
Yoon, B.2
Dameron, A.A.3
-
2
-
-
84880140910
-
-
Zhou, H.; Bent, S. F. J. Vac. Sci. Technol., A 2013, 31, 040801-040818.
-
(2013)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.31
, pp. 040801-040818
-
-
Zhou, H.1
Bent, S.F.2
-
3
-
-
77957798201
-
-
Loscutoff, P. W.; Lee, H.-B.-R.; Bent, S. F. Chem. Mater. 2010, 22, 5563-5569.
-
(2010)
Chem. Mater.
, vol.22
, pp. 5563-5569
-
-
Loscutoff, P.W.1
Lee, H.-B.-R.2
Bent, S.F.3
-
4
-
-
75749092623
-
-
Loscutoff, P. W.; Zhou, H.; Clendenning, S. B.; Bent, S. F. ACS Nano 2009, 4, 331-341.
-
(2009)
ACS Nano
, vol.4
, pp. 331-341
-
-
Loscutoff, P.W.1
Zhou, H.2
Clendenning, S.B.3
Bent, S.F.4
-
5
-
-
0345979435
-
-
Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533-1554.
-
(1996)
Chem. Rev.
, vol.96
, pp. 1533-1554
-
-
Ulman, A.1
-
6
-
-
79951966665
-
-
Kim, W.-H.; Lee, H.-B.-R.; Heo, K.; Lee, Y. K.; Chung, T.-M.; Kim, C. G.; Hong, S.; Heo, J.; Kim, H. J. Electrochem. Soc. 2011, 158, D1-D5.
-
(2011)
J. Electrochem. Soc.
, vol.158
-
-
Kim, W.-H.1
Lee, H.-B.-R.2
Heo, K.3
Lee, Y.K.4
Chung, T.-M.5
Kim, C.G.6
Hong, S.7
Heo, J.8
Kim, H.9
-
7
-
-
0035839824
-
-
Yan, M.; Koide, Y.; Babcock, J. R.; Markworth, P. R.; Belot, J. A.; Marks, T. J.; Chang, R. P. H. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1709-1711.
-
(2001)
Appl. Phys. Lett.
, vol.79
, pp. 1709-1711
-
-
Yan, M.1
Koide, Y.2
Babcock, J.R.3
Markworth, P.R.4
Belot, J.A.5
Marks, T.J.6
Chang, R.P.H.7
-
9
-
-
33845404360
-
-
Wang, C.; Pan, X.; Sun, C.; Urisu, T. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 233105-233105-3.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 233105-2331053
-
-
Wang, C.1
Pan, X.2
Sun, C.3
Urisu, T.4
-
10
-
-
72249088616
-
-
Lee, H.-B.-R.; Kim, W.-H.; Lee, J. W.; Kim, J.-M.; Heo, K.; Hwang, I. C.; Park, Y.; Hong, S.; Kim, H. J. Electrochem. Soc. 2010, 157, D10-D15.
-
(2010)
J. Electrochem. Soc.
, vol.157
-
-
Lee, H.-B.-R.1
Kim, W.-H.2
Lee, J.W.3
Kim, J.-M.4
Heo, K.5
Hwang, I.C.6
Park, Y.7
Hong, S.8
Kim, H.9
-
12
-
-
70350220866
-
-
Lee, B. H.; Lee, K. H.; Im, S.; Sung, M. M. J. Nanosci. Nanotechnol. 2009, 9, 6962-6967.
-
(2009)
J. Nanosci. Nanotechnol.
, vol.9
, pp. 6962-6967
-
-
Lee, B.H.1
Lee, K.H.2
Im, S.3
Sung, M.M.4
-
14
-
-
84877321603
-
-
Zhou, H.; Blackwell, J. M.; Lee, H.-B.-R.; Bent, S. F. ACS Appl. Mater. Interfaces 2013, 5, 3691-3696.
-
(2013)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.5
, pp. 3691-3696
-
-
Zhou, H.1
Blackwell, J.M.2
Lee, H.-B.-R.3
Bent, S.F.4
-
17
-
-
0023422146
-
-
Do, C. H.; Pearce, E. M.; Bulkin, B. J.; Reimschuessel, H. K. J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem. 1987, 25, 2409-2424.
-
(1987)
J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem.
, vol.25
, pp. 2409-2424
-
-
Do, C.H.1
Pearce, E.M.2
Bulkin, B.J.3
Reimschuessel, H.K.4
-
20
-
-
0024701981
-
-
Wasserman, S. R.; Tao, Y. T.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 1074-1087.
-
(1989)
Langmuir
, vol.5
, pp. 1074-1087
-
-
Wasserman, S.R.1
Tao, Y.T.2
Whitesides, G.M.3
-
21
-
-
5244297041
-
-
Snyder, R. G.; Strauss, H. L.; Elliger, C. A. J. Phys. Chem. 1982, 86, 5145-5150.
-
(1982)
J. Phys. Chem.
, vol.86
, pp. 5145-5150
-
-
Snyder, R.G.1
Strauss, H.L.2
Elliger, C.A.3
-
22
-
-
34547700860
-
-
Jiang, X.; Chen, R.; Bent, S. F. Surf. Coat. Technol. 2007, 201, 8799-8807.
-
(2007)
Surf. Coat. Technol.
, vol.201
, pp. 8799-8807
-
-
Jiang, X.1
Chen, R.2
Bent, S.F.3
|