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Volumn 12, Issue 12, 2013, Pages 1085-1086

Oxide interfaces: Streaks of conduction

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EID: 84888139933     PISSN: 14761122     EISSN: 14764660     Source Type: Journal    
DOI: 10.1038/nmat3820     Document Type: Note
Times cited : (3)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.