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Volumn 4, Issue 3, 1998, Pages 235-247

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energy filtering transmission electron microscopy; in situ high resolution transmission electron microscopy; interphase boundary dynamics; phase transformations; real time image simulation

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EID: 84887242446     PISSN: 14319276     EISSN: 14358115     Source Type: Journal    
DOI: 10.1017/S1431927698980230     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.