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Volumn , Issue , 2012, Pages 1735-1737

Status of the PAL-XFEL project

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HARD X RAY; LOW EMITTANCE; MEDIUM ENERGY; PHOTOCATHODE RF GUN; SOFT X-RAY; X-RAY FREE ELECTRON LASERS;

EID: 84884377657     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.