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Volumn 5, Issue 9, 2013, Pages 2543-2545

Special issue: Advanced electron microscopy for catalysis

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EELS; Electron microscopy; HAADF; Heterogeneous catalysis; Holography; SEM; STEM; TEM; Tomography

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EID: 84883526558     PISSN: 18673880     EISSN: 18673899     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/cctc.201300657     Document Type: Editorial
Times cited : (4)

References (3)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.