Highly enhanced light extraction from surface plasmonic loss minimized organic light-emitting diodes

Advanced Materials

Volumn 25, Issue 26, 2013, Pages 3571-3577

  Kim, Jung Bum ^a   Lee, Jeong Hwan ^a   Moon, Chang Ki ^a   Kim, Sei Yong ^a   Kim, Jang Joo ^a  

^a Seoul National University   (South Korea)

Author keywords

high refractive index microstructure; intrinsic absorption loss; surface plasmonic loss; transparent organic light emitting diodes

Indexed keywords

HIGH LIGHTS; HIGH REFRACTIVE INDEX; INTRINSIC ABSORPTIONS; LIGHT EXTRACTION; MICROPATTERNS; OPTICAL SIMULATION; OUT-COUPLING EFFICIENCY; TRANSPARENT ORGANIC LIGHT-EMITTING DIODES;

ELECTRONIC EQUIPMENT; MICROSTRUCTURE; ORGANIC LIGHT EMITTING DIODES (OLED); REFRACTIVE INDEX;

PLASMONS;

EID: 84879935941     PISSN: 09359648     EISSN: 15214095     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.201205233     Document Type: Article

References (37)

1. S. Nowy, B. C. Krummacher, J. Frischeisen, N. A. Reinke, W. Brütting, J. Appl. Phys. 2008, 104, 123109.
2. R. Meerheim, M. Furno, S. Hofmann, B. r. Lüssem, K. Leo, Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 253305.
3. S.-Y. Kim, J.-J. Kim, Org. Electron. 2010, 1, 1010-1015.
4. S. Möller, S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 2002, 91, 3324.
5. Y. Sun, S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 2006, 100, 073106.
6. H. Kwon, Y. Yee, C.-H. Jeong, H.-J. Nam, J.-U. Bu, J. Micromech. Microeng. 2008, 18, 065003.
7. T. Tsutsui, M. Yahiro, H. Yokogawa, K. Kawano, M. Yokoyama, Adv. Mater. 2001, 13, 1149-1152.
8. Y. R. Do, Y.- C. Kim, Y.- W. Song, Y.-H. Lee, J. Appl. Phys. 2004, 96, 7629.
9. T. Nakamura, H. Fujii, N. Juni, N. Tsutsumi, Opt. Rev. 2006, 13, 104-110.
10. Y. Sun, S. R. Forrest, Nature Photon. 2008, 2, 483-487.
11. S. Jeon, J.- W. Kang, H.- D. Park, J.- J. Kim, J. R. Youn, J. Shim, J.- H. Jeong, D.- G. Choi, K.- D. Kim, A. O. Altun, S.- H. Kim, Y.- H. Lee Kim, S. Jeon, J.- H. Jeong, Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 223307.
12. H.- H. Cho, B. Park, H.- J. Kim, S. Jeon, J.- H. Jeong, J.- J. Kim, Appl. opt. 2010, 49, 4024-4028.
13. H.- H. Cho, B. Park, H.- J. Kim, J. Shim, S. Jeon, J.- H. Jeong, J.- J. Kim, Currr. Appl. Phys. 2010, 10, e139-2142.
14. S. Reineke, F. Linder, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lüssem, K. Leo, Nature. 2009, 459, 234-238.
15. W. H. Koo, S. M. Jeong, F. Araoka, K. Ishikawa, S. Nishimira, T. Toyooka, H. Takezo, Nature Photon. 2010, 4, 222-226.
16. A. O. Altun, S. Jeon, J. Shim, J.- H. Jeong, D.- G. Choi, K.- D. Kim, J.- H. Choi, S.- W. Lee, E.- S. Lee, H.- D. Park, J. R. Youn, J.- J. Kim, Y.- H. Lee, J.- W. Kang, Org. Electron. 2010, 11, 711-716.
17. W. H. Koo, W. Youn, P. Zhu, X.-H. Li, N. Tansu, F. So, Adv. Funct.Mater. 2012, 22, 3454-3459.
18. Z. B. Wang, M. G. Helander, J. Qiu, D. P. Puzzo, M. T. Greiner, Z. M. Hudson, S. Wang, Z. W. Liu, Z. H. Lu, Nature Photon. 2011, 5, 753-757.
19. J. Meyer, T. Winkler, S. Hamwi, S. Schmale, H.-H. Johannes, T. Weimann, P. Hinze, W. Kowlasky, T. Riedl, J. Adv. Mater. 2008, 20, 3839-3843.
20. S. Nowy, J. Frischeisen, W. Brütting, Proc. of SPIE. 2009, 7415, 74151C.
21. J. Frischeisen, D. Yokoyama, A. Endo, C. Adachi, W. Brütting, Org. Electron. 2011, 12, 809-817.
22. J.- H. Lee, S. Lee, J.- B. Kim, J. Jang, J.-J. Kim, J. Mater. Chem. 2012, 2, 15262.
23. R. R. Chance, A. Prock, R. Silbey, J. Chem. Phys. 1974, 60, 2744-2748.
24. J. Wasey, A. Safonov, I. D. W. Samuel, W. L. Barnes, Phys. Rev. B. 2011, 64, 205201.
25. W. Brütting, J. Frischeisen, T. D. Schmidt, B. J. Scholz, C. Mayr, phys. status solidi a. 2012, 1-22.
26. C.- L. Lin, H.- W. Lin, C.-C. Wu, Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 021101.
27. C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, S. R. Forrest, J Appl Phys. 2001, 90, 5048.
28. Y. Kawamura, K. Goushi, J. Brooks, J. J. Brown, H. Sasabe, C. Adachi, Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 071104.
29. W.- I. Jeong, S. Y. Kim, J.-J. Kim, J. W. Kang, Chem. Phys. 2009, 355, 25-30.
30. Y. Kawamura, J. Brooks, J. J. Brown, H. Sasabe, C. Adachi, Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 017404.
31. S. R. Forrest, D. D. C Bradley, M. E. Thomson, Adv.Mater. 2003, 15, No. 13.
32. I. Tanaka, S. Tokito, Jpn. J. Appl. Phys. 2004, 43, 7733-7736.
33. W. L. Barnes, J. Mod. Opt. 1998, 45, 661-699.
34. Refractive indices were measured by KRISS (Korea Research Institute of Standards and Scienc 34e).
35. R. A. Synowicki, Thin Solid Films 1998, 394, 313-314.
36. E. D. Palik, G. Ghosh, Handbook of optical constants of solids. (Academic Press, San Diego, 1998)
37. Y. S. Jung, J. Y. Seo, D. W. Lee, D. Y. Jeon, Thin Solid Films 2003, 445, 63-71.