Thermoplasmonics in thin metal films

Trends in Thin Solid Films Research

Volumn , Issue , 2007, Pages 69-109

  Passian, A ^a   Lereu, A L ^a,b   Farahi, R H ^a   Ferrell, T L ^a   Thundat, T ^a  

^a OAK RIDGE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b ICFO INSTITUT DE CIENCIES FOTONIQUES   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84878596298     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Book    
DOI: None     Document Type: Chapter

References (112)

1. P. M. Martin, Vacuum Technology & coating 32, (April 2006).
2. P. M. Martin, Vacuum Technology & coating 32, (June 2006).
3. K. Schwab, E. A. Henriksen, J. M. Worlock, and M. L. Roukes, Nature 404, 974 (2000).
4. C. Girard, Rep. Prog. Phys. 68, 1883 (2005).
5. C. Girard, and E. Dujardin, J. Opt. A 8, S73 (2006).
6. A. Passian, A. L. Lereu, E. T. Arakawa, A. Wig, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Opt. Lett. 30, 41 (2005).
7. A. Passian, A. L. Lereu, R. H. Ritchie, F. Meriaudeau, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Thin Solid Films 497, 315 (2006).
8. A. Passian, A. L. Lereu, E. T. Arakawa, R. H. Ritchie, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Appl. Phys. Lett. 85, 2703 (2004).
9. A. L. Lereu, A. Passian, JP. Goudonnet, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Appl. Phys. Lett. [86,] 154101 (2005).
10. A. Passian, S. Zahrai, A. L. Lereu, R. H. Farahi, T. L. Ferrell, and T. Thundat, Phys. Rev. E 73, 066311 (2006).
11. R. H. Farahi, A. Passian, S. Zahrai, A. L. Lereu, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Ultramicroscopy [106,] 815 (2006).
12. R. H. Farahi, A. Passian, T. L. Ferrell, and T. Thundat, Opt. Lett. 30, 616 (2005).
13. G. T. Sincerbox, and J. C. Gordon II, Appl. Opt. 20, 1491 (1981).
14. E. M. Yeatman, and M. E. Caldwell, Appl. Phys. Lett. 55, 613 (1989).
15. O. Solgaard, F. Ho, J. I. Thackara, and D. M. Bloom, Appl. Phys. Lett. 61, 2500 (1992).
16. N. A. Janunts, and Kh. V. Nerkararyan, Appl. Phys. Lett. 79, 299 (2001).
17. A. Köck, E. Gornik, G. Abstreiter, G. Böhm, M. Walther, and G. Weimann, Appl. Phys. Lett. 60, 2011 (1992).
18. K. Sasaki and T. Nagamura, Appl. Phys. Lett. 71, 434 (1997).
19. A. D. Boardman, Electromagnetic Surface Modes, John Wiley & Sons, New York (1982).
20. F. Meriaudeau, T. R. Downey, A. Passian, A. Wig, and T. L. Ferrell, Appl. Opt. 37, 34 (1998).
21. F. Meriaudeau, T. R. Downey, A. Wig, A. Passian, M. Buncick, and T. L. Ferrell, Sensors and Actuators B 54, 106 (1999).
22. F. Meriaudeau, A.Wig, A. Passian, T. Downey, M. Buncick, and T. L. Ferrell, Sensors and Actuators B 69, 51 (2000).
23. J. Homola, S. S. Yee, and G. Gauglitz, Sensors and Actuators B 54, 315 (1999).
24. M. Mehrvar, C. Bis, J. M. Scharer, M. Moo-Young, J. H. Luong, Analytical Sciences [16,] 677 (2000).
25. O. Sqalli, I. Utke, P. Hoffmann, and F. Marquis-Weible, J. Appl. Phys. 92, 1078 (2002).
26. H. Ditlbacher, J. R. Krenn, N. Felidj, B. Lamprecht, G. Schider, M. Salerno, A. Leitner, and F. R. Aussenegg, Appl. Phys. Lett. 80, 404 (2002).
27. A. Bouhelier, T. Huser, H. Tamaru, H.-J. Guntherodt, D. W. Pohl, F. I. Baida and D. Van Labeke, Phys. Rev. B 63, 155404 (2001).
28. R. H. Ritchie, Phys. Rev. 106, 847 (1957).
29. T. L. Ferrell, T. A. Calcott, and R. J. Warmack, Am. Sci. 73, 344 (1985).
30. A. Wig, F. Meriaudeau, A. Passian, J.-P. Goudonnet, and T. L. Ferrell, Microscopy Today 00-3, 22 (2000).
31. J. R. Krenn, J.-C. Weeber, A. Dereux, E. Bourillot, J.-P. Goudonnet, B. Schider, A. Leitner, F. R. Aussenegg, and C. Girard, Phys. Rev. B 60, 5029 (1999).
32. S. I. Bozhevolnyi, J. Erland, K. Leosson, P. M. W. Skovgaard, and J. M. Hvam, Phys. Rev. Lett. 86, 3008 (2001).
33. T. L. Ferrell, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 96, 483 (1995).
34. T. L. Ferrell, Phys. Rev. B 50, 14738 (1994).
35. M. S. Anderson, Appl. Phys. Lett. 76, 3130 (2000).
36. S. W. Kennerly, R. J. Warmack, and T. L. Ferrell, ORNL/TM-9407, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN, (1986).
37. J. W. Little, T. A. Callcott, T. L. Ferrell, and E. T. Arakawa, Phys. Rev. B 29, 1606 (1984).
38. J. Lehmann, M. Merschdorf, W. Pfeiffer, A. Thon, S. Voll, and G. Gerber, Phys. Rev. Lett. 85, 2921 (2000).
39. R. S. Becker, V. E. Anderson, R. D. Birkhoff, T. L. Ferrell, and R. H. Ritchie, Canadian Journal of Physics 59, 521 (1981).
40. L. Martin-Moreno, F. J. Garcia-Vidal, H. J. Lezec, K. M. Pellerin, T. Thio, J. B. Pendry, and T. W. Ebbesen, Phys. Rev. Lett. 86, 1114 (2001).
41. A. Passian, et al., J. Appl. Phys. 92, 6326 (2002). - Ultramicroscopy 97, 401-406 (2003). - Phys. Rev. Lett. 90, 124503 (2003). - Appl. Phys. Lett. 84, 1013 (2004).
42. A. Passian, et al., J. Appl. Phys. 91, (2002). - Ultramicroscopy 97, 391-399 (2003). - Submitted to Phys. Rev. E, (2006).
43. D. Bohm, and D. Pines, Phys. Rev. 82, 625 (1951).
44. P. Englebienne, A. Van Hoonacker, and M. Verhas, Spectroscopy: An International Journal 17 (2/3), 255 (2003).
45. W. H. Weber, and G. W. Ford, Opt. Lett. 6, 122 (1981).
46. M. E. Caldwell, and E. M. Yeatman, Appl. Opt. 31, 3880 (1992).
47. S. Hayashi, K. Kozaru, and K. Yamamoto, Solid State Commun. 79, 763 (1991).
48. C. Nylander, B. Liedberg, and T. Lind, Sensors and Actuators 3, 79 (1982/1983).
49. K. Matsubara, S. Kawata, and S. Minami, Appl. Opt. 27, 1160 (1988).
50. W. Hickel, B. Rothenhaüsler, and W. Knoll, J. Appl. Phys. 66, 4832 (1989).
51. T. Okamoto and I. Yamaguchi, Opt. Commun. 93, 265 (1992).
52. H. Kano and S. Kawata, Appl. Opt. 33, 5166 (1994).
53. R. T. Deck and D. Sarid, J. Opt. Soc. Am. 72, 1613 (1982).
54. R. E. Benner, R. Dornhaus, and R. K. Chang, Opt. Commun. 30, 145 (1979).
55. J. W. Attridge, P. B. Daniels, J. K. Deacon, G. A. Robinson, and G. P. Davidson, Biosens. Bioelectron. 6, 201 (1991).
56. A. Otto, Z. Phys. 216, 398 (1968).
57. E. Kretschmann, Z. Phys. 241, 313 (1971).
58. A. Passian, R. H. Ritchie, A. L. Lereu, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Phys. Rev. B 71, [115425] (2005).
59. A. Passian, A. Wig, A. L. Lereu, F. Meriaudeau, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Appl. Phys. Lett. 85, 3420 (2004).
60. H. Raether, Surface plasmons on smooth and rough surfaces and on gratings, Springer, Berlin (1988).
61. S. Kawata, Near Field Optics and Surface Plasmon Polaritons, Springer, New York (2001).
62. J. Tominaga, and D. P. Tsai, Optical nanotechnologies: The manipulation of surface and local plasmons, Springer, Berlin (2003).
63. G. Binnig, and H. Rohrer, Helv. Phys. Acta. 55, 726 (1982).
64. R. C. Reddick, R. J. Warmack, and T. L. Ferrell, Phys. Rev. B 39, 767 (1989).
65. A. Passian, A. Wig, A. L. Lereu, P. G. Evans, F. Meriaudeau, T. Thundat, and T. L. Ferrell, Ultramicroscopy 100, 429 (2004).
66. N. N. Lebedev, Special functions and their applications, Dover Publications, Inc., New York (1972).
67. A. Passian, A. L. Lereu, A. Wig, F. Meriaudeau, T. Thundat, T. L. Ferrell, Phys. Rev. B 71, 165418 (2005).
68. S. Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, and G. van Tendeloo, Handbook of Microscopy, Wiley-VCH, Berlin (1997).
69. W. Göpel, J. Hesse, and J. N. Zemel, Sensors, JohnWiley & Sons, New York (1997).
70. A. Liebsch, Electronic excitations at metal surfaces, Plenum, New York (1997).
71. B. E. Sernelius, Surface Modes in Physics, Wiley-VCH, Berlin (2001).
72. B. Hecht, H. Bielefeldt, L. Novotny, Y. Inouye, and D. W. Pohl, Phys. Rev. Lett. 77, [1889] (1996).
73. L. Novotny, B. Hecht, and D. W. Pohl, J. Appl. Phys. 81, 1798 (1996).
74. P. Dawson, F. de Fornel, and J-P. Goudonnet, J. Appl. Phys. 81, 1798 (1996).
75. M. Specht, J. D. Pedarnig, W. M. Heckl, and T. W. Hänsch, Phys. Rev. Lett. 68, 476 (1992).
76. J. C. Weeber, J. R. Krenn, A. Dereux, B. Lamprecht, Y. Lacroute, and P. Goudonnet, Phys. Rev. B 64, 045411 (2001).
77. E. D. Palik, Handbook of Optical Constants of Solids, Academic Press Inc. (1985).
78. T. Inagaki, JP. Goudonnet, and E. T. Arakawa, Optical Sciences 58, 156 (1988).
79. K. D. Cole, Int. J. of Thermophys. 25, 1567 (2004).
80. E. Welsch, K. Ettrich, D. Ristau, and U. Willamowski, Int. J. of Thermophys. 20, 965 (1999).
81. J. A. Batista, D. Takeuti, A. M. Mansanares, and E. C. da Silva, Analytical Sciences [17,] s73 (2001).
82. B. C. Li, and S. Y. Zhang, Int. J. of Thermophys. 19, 615 (1998).
83. S. Wu, and N. J. Dovichi, J. Appl. Phys. 67, 1170 (1990).
84. P. M. Adam, L. Salomon, F. de Fornel, and J. -P. Goudonnet. Phys. Rev. B 48, 2680 (1993).
85. M. I. Newton, G. McHale, P. D. Hooper, M. R. Willis, and S. D. Burt, Vacuum 46, 315 (1995).
86. G. Grimvall, and T. G. Andersson, J. Phys. D 16, 1985 (1983).
87. N. G. Semaltianos, and E. G. Wilson, Thin Solid Films 366, 111 (2000).
88. Y. Takata, H. Haneda, T. Mitsuhashi, and Y. Wada, Applied Surface Science 189, 227 (2002).
89. R. I. Tucceri, J. of Electroanalytical Chemistry 505, 72 (2001).
90. G. Chen, and P. Hui, Appl. Phys. Lett. 74, 2942 (1999).
91. J. Liu, and N. Giodano, Phys. Rev. B 43, 1385 (1991).
92. C. G. M. Marangoni, Ann. Phys. Chem. (Poggendorf) 143, 337 (1871).
93. L. E. Scriven, and C. V. Sternling, Nature 187, 186 (1960).
94. J. Thomson, Philosophy Magazine Series 4 10, 330 (1855).
95. P. G. de Gennes, Rev. Mod. Phys. 57, 827 (1985).
96. P. Dell'Aversana, V. Tontodonato, and L. Carotenuto, Phys. Fluids 9, 2475 (1998).
97. F. Brochard, Langmuir 5, 432 (1989).
98. R. Monti, R. Savino, and G. Alterio, Acta Astronautica 51, 789 (2002).
99. S. Daniels, M. K. Chaudhury, and J. C. Chen, Science 291, 633 (2001).
100. M. K. Chaudhury, and G. M. Whitesides, Science 256, 1539 (1992).
101. B. S. Gallardo, V. K. Gupta, F. D. Eagerton, L. I. Jong, V. S. Craig, R. R. Shah, and N. L. Abbott, Science 283, 57 (1999).
102. R. Savino, R. Monti, and G. Alterio, Physics of Fluids 13, 1513 (2001).
103. A. A. Darhuber, J. P. Valentino, J. M. Davis, S. M. Troian, and S. Wagner, Appl. Phys. Lett. 82, 657 (2003).
104. K. Ichimura, S. Oh, and M. Nakagawa, Science 288, 1624 (2000).
105. N. Garnier, R. O. Grigoriev, and M. F. Schatz, Phys. Rev. Lett. 91, 054501(4) (2003).
106. R. H. Farahi, A. Passian, T. L. Ferrell, and T. Thundat, Appl. Phys. Lett. 85, 4237 (2004).
107. K. T. Kotz, K. A. Noble, G. W. Faris, Appl. Phys. Lett. 85, 2658 (2004).
108. N. H. March, and M. P. Tosi, Liquid State Physics, World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd., Singapore (2002).
109. H. Bénard, Rev. Gén. Sci. Pures Appl. 11, 1261 (1900).
110. P. Dell'Aversana, and G. P. Neitzel, Physics Today 51 (1), 38 (1998).
111. A. A. Darhuber, and S. M. Troian, Annual Review of Fluid Mechanics 37, 425 (2005).
112. G. L. Liu, J. Kim, Y. Lu and L. P. Lee, Nature materials 5, 27 (2005