-
1
-
-
3142704378
-
-
Quinn, B. M.; van't Hof, P. G.; Lemay, S. G. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8360-8361
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 8360-8361
-
-
Quinn, B.M.1
Van'T Hof, P.G.2
Lemay, S.G.3
-
3
-
-
0000342724
-
-
Heyrovskỳ, M.; Jirkovskỳ, J.; Müller, B. R. Langmuir 1994, 11, 4293-4299
-
(1994)
Langmuir
, vol.11
, pp. 4293-4299
-
-
Heyrovskỳ, M.1
Jirkovskỳ, J.2
Müller, B.R.3
-
4
-
-
0000451617
-
-
Heyrovskỳ, M.; Jirkovskỳ, J.; Štruplová- Bartáčková, M. Langmuir 1994, 11, 4300-4308
-
(1994)
Langmuir
, vol.11
, pp. 4300-4308
-
-
Heyrovskỳ, M.1
Jirkovskỳ, J.2
Štruplová- Bartáčková, M.3
-
5
-
-
0000482734
-
-
Heyrovskỳ, M.; Jirkovskỳ, J.; Štruplová- Bartáčková, M. Langmuir 1994, 11, 4309-4312
-
(1994)
Langmuir
, vol.11
, pp. 4309-4312
-
-
Heyrovskỳ, M.1
Jirkovskỳ, J.2
Štruplová- Bartáčková, M.3
-
6
-
-
0036219361
-
-
Hellberg, D.; Scholz, F.; Schauer, F.; Weitschies, W. Electrochem. Commun. 2002, 4, 305-309
-
(2002)
Electrochem. Commun.
, vol.4
, pp. 305-309
-
-
Hellberg, D.1
Scholz, F.2
Schauer, F.3
Weitschies, W.4
-
7
-
-
23844432665
-
-
Hellberg, D.; Scholz, F.; Schubert, F.; Lovrić, M.; Omanović, D.; Hernández, V. A.; Thede, R. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 14715-14726
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 14715-14726
-
-
Hellberg, D.1
Scholz, F.2
Schubert, F.3
Lovrić, M.4
Omanović, D.5
Hernández, V.A.6
Thede, R.7
-
8
-
-
4143152018
-
-
Scholz, F.; Hellberg, D.; Harnisch, F.; Hummel, A.; Hasse, U. Electrochem. Commun. 2004, 6, 929-933
-
(2004)
Electrochem. Commun.
, vol.6
, pp. 929-933
-
-
Scholz, F.1
Hellberg, D.2
Harnisch, F.3
Hummel, A.4
Hasse, U.5
-
9
-
-
10644259666
-
-
Rees, N. V.; Banks, C. E.; Compton, R. G. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 18391-18394
-
(2004)
J. Phys. Chem. B
, vol.108
, pp. 18391-18394
-
-
Rees, N.V.1
Banks, C.E.2
Compton, R.G.3
-
10
-
-
33645800386
-
-
Clegg, A. D.; Rees, N. V.; Banks, C. E.; Compton, R. G. ChemPhysChem 2006, 7, 807-811
-
(2006)
ChemPhysChem
, vol.7
, pp. 807-811
-
-
Clegg, A.D.1
Rees, N.V.2
Banks, C.E.3
Compton, R.G.4
-
12
-
-
57549085138
-
-
Xiao, X. Y.; Fan, F.-R. F.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 16669-16677
-
(2008)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.130
, pp. 16669-16677
-
-
Xiao, X.Y.1
Fan, F.-R.F.2
Bard, A.J.3
-
13
-
-
77957124001
-
-
Kwon, S. J.; Fan, F.-R. F.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 13165-13167
-
(2010)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.132
, pp. 13165-13167
-
-
Kwon, S.J.1
Fan, F.-R.F.2
Bard, A.J.3
-
14
-
-
78449247483
-
-
Bard, A. J.; Zhou, H.; Kwon, S. J. Isr. J. Chem. 2010, 50, 267-276
-
(2010)
Isr. J. Chem.
, vol.50
, pp. 267-276
-
-
Bard, A.J.1
Zhou, H.2
Kwon, S.J.3
-
15
-
-
79952672742
-
-
Kwon, S. J.; Zhou, H.; Fan, F.-R. F.; Vorobyev, V.; Zhang, B.; Bard, A. J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2011, 13, 5394-5402
-
(2011)
Phys. Chem. Chem. Phys.
, vol.13
, pp. 5394-5402
-
-
Kwon, S.J.1
Zhou, H.2
Fan, F.-R.F.3
Vorobyev, V.4
Zhang, B.5
Bard, A.J.6
-
16
-
-
79955427969
-
-
Zhou, Y.-G.; Rees, N. V.; Compton, R. G. Angew. Chem., Int. Ed. 2011, 50, 4219-4221
-
(2011)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.50
, pp. 4219-4221
-
-
Zhou, Y.-G.1
Rees, N.V.2
Compton, R.G.3
-
17
-
-
0003853137
-
-
In; Bard, A. J. Mirkin, M. Marcel Dekker: New York
-
Fan, F.-R. F.; Demaille, C. In Scanning Electrochemical Microscopy; Bard, A. J.; Mirkin, M., Eds.; Marcel Dekker: New York, 2001; p 75.
-
(2001)
Scanning Electrochemical Microscopy
, pp. 75
-
-
Fan, F.-R.F.1
Demaille, C.2
-
18
-
-
6744227162
-
-
O'Brien, R. W.; White, L. R. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 2 1978, 74, 1607-1626
-
(1978)
J. Chem. Soc., Faraday Trans. 2
, vol.74
, pp. 1607-1626
-
-
O'Brien, R.W.1
White, L.R.2
-
19
-
-
0345368668
-
-
Ohshima, H.; Healy, T. W.; White, L. R. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 2 1983, 79, 1613-1628
-
(1983)
J. Chem. Soc., Faraday Trans. 2
, vol.79
, pp. 1613-1628
-
-
Ohshima, H.1
Healy, T.W.2
White, L.R.3
-
20
-
-
0011475228
-
-
Heston, W. M., Jr.; Iler, R. K.; Sears, G. W., Jr. J. Phys. Chem. 1960, 64, 147-150
-
(1960)
J. Phys. Chem.
, vol.64
, pp. 147-150
-
-
Heston Cheeseman, W.M.1
Iler, R.K.2
Sears Cheeseman, G.W.3
|