Direct imaging of free carrier and trap carrier motion in silicon nanowires by spatially-separated femtosecond pump-probe microscopy

Nano Letters

Volumn 13, Issue 3, 2013, Pages 1336-1340

  Gabriel, Michelle M ^a   Kirschbrown, Justin R ^a   Christesen, Joseph D ^a   Pinion, Christopher W ^a   Zigler, David F ^a   Grumstrup, Erik M ^a   Mehl, Brian P ^a   Cating, Emma E M ^a   Cahoon, James F ^a   Papanikolas, John M ^a  

^a University of North Carolina at Chapel Hill   (United States)

Author keywords

carrier diffusion; pump probe spectroscopy; silicon nanowire; Ultrafast microscopy

Indexed keywords

CARRIER DIFFUSIONS; PUMP-PROBE MICROSCOPIES; PUMP-PROBE SPECTROSCOPY; SEMICONDUCTOR NANOSTRUCTURES; SILICON NANOWIRES; SPATIAL AND TEMPORAL RESOLUTIONS; SURFACE RECOMBINATION VELOCITIES; ULTRA-FAST;

PHOTOEXCITATION; PROBES; PUMPS; SILICON;

NANOWIRES;

EID: 84874990821     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl400265b     Document Type: Article

References (27)

1. Kempa, T. J.; Cahoon, J. F.; Kim, S. K.; Day, R. W.; Bell, D. C.; Park, H. G.; Lieber, C. M. Proc. Natl. Acad. Sci. 2012, 109, 1407
2. Kim, S. K.; Day, R. W.; Cahoon, J. F.; Kempa, T. J.; Song, K. D.; Park, H. G.; Lieber, C. M. Nano Lett. 2012, 12, 4971
3. Christesen, J. D.; Zhang, X.; Pinion, C. W.; Celano, T. A.; Flynn, C. J.; Cahoon, J. F. Nano Lett. 2012, 12, 6024
4. Kelzenberg, M. D.; Turner-Evans, D. B.; Putnam, M. C.; Boettcher, S. W.; Briggs, R. M.; Baek, J. Y.; Lewis, N. S.; Atwater, H. A. Energy Environ. Sci. 2011, 4, 866
5. Mehl, B. P.; Kirschbrown, J. R.; Gabriel, M. M.; House, R. L.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. B 2013, 10.1021/jp307089h
6. Mehl, B. P.; Kirschbrown, J. R.; House, R. L.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. Lett. 2011, 2, 1777
7. House, R. L.; Mehl, B. P.; Kirschbrown, J. R.; Barnes, S. C.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 10806
8. House, R. L.; Kirschbrown, J. R.; Mehl, B. P.; Gabriel, M. M.; Puccio, J. A.; Parker, J. K.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 21436
9. House, R. L.; Mehl, B. P.; Zhang, C.; Kirschbrown, J. R.; Barnes, S. C.; Papanikolas, J. M. Proc. SPIE 2009, 7396, 73960G
10. Gundlach, L.; Piotrowiak, P. Opt. Lett. 2008, 33, 992
11. Djurisic, A. B.; Kwok, W. M.; Leung, Y. H.; Phillips, D. L.; Chan, W. K. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 19228
12. Song, J. K.; Willer, U.; Szarko, J. M.; Leone, S. R.; Li, S.; Zhao, Y. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 1679
13. Johnson, J. C.; Knutsen, K. P.; Yan, H. Q.; Law, M.; Zhang, Y. F.; Yang, P. D.; Saykally, R. J. Nano Lett. 2004, 4, 197
14. Huang, L. B.; Hartland, G. V.; Chu, L. Q.; Luxmi; Feenstra, R. M.; Lian, C. X.; Tahy, K.; Xing, H. L. Nano Lett. 2010, 10, 1308
15. Carey, C. R.; Yu, Y. H.; Kuno, M.; Hartland, G. V. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 19077
16. Fujino, T.; Fujima, T.; Tahara, T. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 15327
17. Fu, D.; Ye, T.; Matthews, T. E.; Grichnik, J.; Hong, L.; Simon, J. D.; Warren, W. S. J. Biomed. Opt. 2008, 13, 054036
18. Polli, D.; Grancini, G.; Clark, J.; Celebrano, M.; Virgili, T.; Cerullo, G.; Lanzani, G. Adv. Mater. 2010, 22, 3048
19. Seo, M. A.; Yoo, J.; Dayeh, S. A.; Picraux, S. T.; Taylor, A. J.; Prasankumar, R. P. Nano Lett. 2012, 12, 6334
20. Seo, M. A.; Dayeh, S. A.; Upadhya, P. C.; Martinez, J. A.; Swartzentruber, B. S.; Picraux, S. T.; Taylor, A. J.; Prasankumar, R. P. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 071104
21. Ruzicka, B. A.; Zhao, H. J. Opt. Soc. Am. B 2012, 29, A43
22. Kumar, N.; Ruzicka, B. A.; Butch, N. P.; Syers, P.; Kirshenbaum, K.; Paglione, J.; Zhao, H. Phys. Rev. B 2011, 83, 235306
23. Schmidt, V.; Wittemann, J. V.; Gosele, U. Chem. Rev. 2010, 110, 361
24. Kar, A.; Upadhya, P. C.; Dayeh, S. A.; Picraux, S. T.; Taylor, A. J.; Prasankumar, R. P. IEEE J. Sel. Top. Quant. 2011, 17, 889
25. Mohite, A. D.; Perea, D. E.; Singh, S.; Dayeh, S. A.; Campbell, I. H.; Picraux, S. T.; Htoon, H. Nano Lett. 2012, 12, 1965
26. Allen, J. E.; Hemesath, E. R.; Perea, D. E.; Lensch-Falk, J. L.; Li, Z. Y.; Yin, F.; Gass, M. H.; Wang, P.; Bleloch, A. L.; Palmer, R. E.; Lauhon, L. J. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 168
27. Sze, S. M.; Ng, K. K. In Physics of Semiconductor Devices; 3 rd ed.; Wiley-Interscience: New York, 2007; p 566.