Pump-probe microscopy: Spatially resolved carrier dynamics in ZnO rods and the influence of optical cavity resonator modes

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 117, Issue 16, 2013, Pages 4390-4398

  Mehl, Brian P ^a   Kirschbrown, Justin R ^a   Gabriel, Michelle M ^a   House, Ralph L ^a   Papanikolas, John M ^a  

^a University of North Carolina at Chapel Hill   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

PHOTOEXCITATION; PROBES; ZINC OXIDE;

CHARGE RECOMBINATIONS; FINITE ELEMENT SIMULATIONS; HEXAGONAL CROSS-SECTIONS; INTENSITY DISTRIBUTION; PHOTOEXCITED CARRIERS; PICOSECOND TIME SCALE; PUMP-PROBE MICROSCOPIES; TRANSIENT ABSORPTION;

WHISPERING GALLERY MODES;

EID: 84874969282     PISSN: 15206106     EISSN: 15205207     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp307089h     Document Type: Article

References (38)

1. Yoffe, A. D. Adv. Phys. 2002, 51, 799-890
2. Allen, M. W.; Swartz, C. H.; Myers, T. H.; Veal, T. D.; McConville, C. F.; Durbin, S. M. Phys. Rev. B 2010, 81.
3. Tay, Y. Y.; Tan, T. T.; Boey, F.; Liang, M. H.; Ye, J.; Zhao, Y.; Norby, T.; Li, S. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 2373-2379
4. Vanmaekelbergh, D.; van Vugt, L. K. Nanoscale 2011, 3, 2783-2800
5. Yang, P. D.; Gargas, D. J.; Moore, M. C.; Ni, A.; Chang, S. W.; Zhang, Z. Y.; Chuang, S. L. Acs Nano 2010, 4, 3270-3276
6. Ruhle, S.; van Vugt, L. K.; Li, H. Y.; Keizer, N. A.; Kuipers, L.; Vanmaekelbergh, D. Nano Lett. 2008, 8, 119-123
7. Zimmler, M. A.; Bao, J.; Capasso, F.; Muller, S.; Ronning, C. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 051101-051104
8. van Vugt, L. K.; Ruhle, S.; Ravindran, P.; Gerritsen, H. C.; Kuipers, L.; Vanmaekelbergh, D. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 147401-147405
9. Ozgur, U.; Alivov, Y. I.; Liu, C.; Teke, A.; Reshchikov, M. A.; Dogan, S.; Avrutin, V.; Cho, S. J.; Morkoc, H. J. Appl. Phys. 2005, 98, 041301-041404
10. Djurisic, A. B.; Leung, Y. H. Small 2006, 2, 944-961
11. Wang, Z. L. J. Phys.: Condens. Matter 2004, 16, R829-R858
12. Nobis, T.; Grundmann, M. Phys. Rev. A 2005, 72, 063806-063817
13. Nobis, T.; Kaidashev, E. M.; Rahm, A.; Lorenz, M.; Grundmann, M. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 103903-103907
14. Czekalla, C.; Nobis, T.; Rahm, A.; Cao, B. Q.; Zuniga-Perez, J.; Sturm, C.; Schmidt-Grund, R.; Lorenz, M.; Grundmann, M. Phys. Status Solidi B 2010, 247, 1282-1293
15. Yang, Y. H.; Dong, J. W.; Wang, N. W.; Yang, G. W. J. Appl. Phys. 2011, 109, 093511-093517
16. Yang, Y. H.; Zhang, Y.; Wang, N. W.; Wang, C. X.; Li, B. J.; Yang, G. W. Nanoscale 2011, 3, 592-597
17. Liu, J. Z.; Lee, S.; Ahn, Y. H.; Park, J. Y.; Koh, K. H.; Park, K. H. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 263102-263105
18. Sun, L. X.; Chen, Z. H.; Ren, Q. J.; Yu, K.; Bai, L. H.; Zhou, W. H.; Xiong, H.; Zhu, Z. Q.; Shen, X. C. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 156403-156407
19. Kirschbrown, J. R.; House, R. L.; Mehl, B. P.; Gabriel, M. M.; Parker, J. K.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. C 2011, in press.
20. House, R. L.; Mehl, B. P.; Kirschbrown, J. R.; Barnes, S. C.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 10806-10816
21. House, R. L.; Kirschbrown, J. R.; Mehl, B. P.; Gabriel, M. M.; Puccio, J. A.; Parker, J. K.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 21436-21442
22. Mehl, B. P.; House, R. L.; Uppal, A.; Reams, A. J.; Zhang, C.; Kirschbrown, J. R.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. A 2010, 114, 1241-1246
23. Mehl, B. P.; Kirschbrown, J. R.; House, R. L.; Papanikolas, J. M. J. Phys. Chem. Lett. 2011, 2, 1777-1781
24. Cheng, B.; Samulski, E. T. Chem. Commun. 2004, 986-987
25. Li, F.; Li, Z.; Jin, F. J. Mater. Lett. 2007, 61, 1876-1880
26. Zipfel, W. R.; Williams, R. M.; Webb, W. W. Nat. Biotechnol. 2003, 21, 1368-1376
27. Johnson, J. C.; Yan, H. Q.; Yang, P. D.; Saykally, R. J. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 8816-8828
28. Hendry, E.; Koeberg, M.; Bonn, M. Phys. Rev. B 2007, 76, 045214-045220
29. Mitsubori, S.; Katayama, I.; Lee, S. H.; Yao, T.; Takeda, J. J. Phys.: Condens. Matter 2009, 21, 064211-064216
30. Song, J. K.; Willer, U.; Szarko, J. M.; Leone, S. R.; Li, S.; Zhao, Y. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 1679-1684
31. Yamamoto, A.; Kido, T.; Goto, Y. F.; Chen, Y.; Yao, T.; Kasuya, A. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 469-471
32. Lin, J. H.; Chen, Y. J.; Lin, H. Y.; Hsieh, W. F. J. Appl. Phys. 2005, 97, 033526-033532
33. Klingshirn, C. F. Semiconductor optics, 3 rd ed.; Springer: Berlin, New York, 2007.
34. Bauer, C.; Boschloo, G.; Mukhtar, E.; Hagfeldt, A. Chem. Phys. Lett. 2004, 387, 176-181
35. Okamoto, K.; Fujita, S.; Kawakami, Y.; Scherer, A. Phys. Status Solidi B 2003, 240, 368-371
36. Okamoto, K.; Inoue, K.; Kawakami, Y.; Fujita, S.; Terazima, M.; Tsujimura, A.; Kidoguchi, I. Rev. Sci. Instrum. 2003, 74, 575-577
37. Okamoto, K.; Scherer, A.; Kawakami, Y. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 161104-161107
38. Said, A. A.; Sheikbahae, M.; Hagan, D. J.; Wei, T. H.; Wang, J.; Young, J.; Vanstryland, E. W. J. Opt. Soc. Am. B 1992, 9, 405-414