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Volumn 9, Issue 1, 2013, Pages 600-608

Free energy approaches for modeling atomic force microscopy in liquids

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EID: 84872134064     PISSN: 15499618     EISSN: 15499626     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ct3008342     Document Type: Article
Times cited : (69)

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    • Fukuma, T. Private communication
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    • Reischl, B.; Federici, F.; Foster, A. S.; Kobayashi, N.; Fukuma, T. In preparation
    • Reischl, B.; Federici, F.; Foster, A. S.; Kobayashi, N.; Fukuma, T. In preparation.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.