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Volumn 7, Issue 11, 2012, Pages 691-692

Atomic force microscopy: A tip for diagnosing cancer

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NANOSTRUCTURED MATERIALS; NANOTECHNOLOGY;

EID: 84869049599     PISSN: 17483387     EISSN: 17483395     Source Type: Journal    
DOI: 10.1038/nnano.2012.196     Document Type: Short Survey
Times cited : (64)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.