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Volumn , Issue , 2006, Pages 424-427

Multiplexed CMOS sensor arrays for die stress mapping

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CURRENT MIRROR (CM); DIE STRESS MAPPING; IN-PLANE NORMAL STRESS; MOSIS TINY CHIP;

EID: 84865441329     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ESSCIR.2006.307471     Document Type: Conference Paper
Times cited : (31)

References (17)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.