Reversible ferromagnetism study in un-doped ZnO thin films

Journal of Nanoscience and Nanotechnology

Volumn 11, Issue 12, 2011, Pages 10557-10561

  Xia, D X ^a   Zhang, W H ^b   Xie, F Y ^b   Chen, J ^b   Xu, J B ^a  

^a CHINESE UNIVERSITY OF HONG KONG   (Hong Kong)

^b SUN YAT SEN UNIVERSITY   (China)

Author keywords

Defects; Ferromagnetism; ZnO thin film

Indexed keywords

ANNEALING PROCESS; CATHODOLUMINESCENCE SPECTRA; MAGNETIC PERFORMANCE; OXYGEN VACANCY DEFECTS; PURE ZNO; ROOM TEMPERATURE FERROMAGNETISM; SPIN-COATING METHOD; ZNO THIN FILM;

ANNEALING; DEFECTS; INDUCTIVELY COUPLED PLASMA; MASS SPECTROMETRY; METALLIC FILMS; OPTICAL FILMS; OXYGEN VACANCIES; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

FERROMAGNETISM;

EID: 84863180363     PISSN: 15334880     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/jnn.2011.4010     Document Type: Conference Paper

References (36)

1. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
2. D. Yan, Z. Sun, Q. Liu, Z. Li, Z. Pan, J. Wang, and S. Wei, Appl. Phys. Lett. 91, 062113 (2007).
3. D. A. Schwartz and D. R. Gamelin, Adv. Mater. 16, 2115 (2004).
4. S. Banerjee, M. Manal, N. Gayathri, and M. Sardar, Appl. Phys. Lett. 91, 182501 (2007).
5. Q. Xu, H. Schmidt, S. Zhou, K. Potzger, M. Helm, H. Hochmuth, M. Lorenz, A. Setzer, P. Esquinazi, C. Meinecke, and M. Grundmann, Appl. Phys. Lett. 92, 082508 (2008).
6. M. Kapilashrami, J. Xu, V. Strom, K. V. Rao, and L. Belova, Appl. Phys. Lett. 95, 033104 (2009).
7. M. A. Garcia, J. M. Merino, E. Fernndez Pinel, A. Quesada, J. de la Venta, M. L. Ruz, M. L. Ruiz Gonzlez, G. R. Castro, P. Crespo, J. Llopis, J. M. Gonzlez-Calbet, and A. Hernando, Nano Lett. 7, 1489 (2007).
8. J. B. Yi, H. Pan, J. Y. Lin, J. Ding, Y. P. Feng, S. Thongmee, T. Liu, H. Gong, and L. Wang, Adv. Mater. 20, 1170 (2008).
9. G. Xing, D. Wang, J. Yi, L. Yang, M. Gao, M. He, J. Yang, J. Ding, T. C. Sum, and T. Wu, Appl. Phys. Lett. 96, 112511 (2010).
10. K. Potzger, S. Zhou, J. Grenzer, M. Helm, and J. Fassbender, Appl. Phys. Lett. 92, 182504 (2008).
11. Z. Yan, Y. Ma, D. Wang, J. Wang, Z. Gao, L. Wang, P. Yu, and T. Song, Appl. Phys. Lett. 92, 081911 (2008).
12. V. Fernandes, R. J. O. Mosanek, P. Schio, J. J. Klein, A. J. A. Oliveira, W. A. Ortiz, N. Mattoso, J. Varalda, W. H. Schreiner, M. Abbate, and D. H. Mosca, Phys. Rev. B 80, 035202 (2009).
13. M. Y. Ge, H. Wang, E. Z. Liu, J. F. Liu, J. Z. Zhang, Y. K. Li, Z. A. Xu, and H. Y. Li, Appl. Phys. Lett. 93, 062505 (2008).
14. J. M. D. Coey, M. Venkatesan, P. Stamenov, C. B. Fitzgerald, and L. S. Dorneles, Phys. Rev. B 72, 024450 (2005).
15. A. Sundaresan, R. Bhargavi, N. Rangarajan, U. Siddesh, and C. N. R. Rao, Phys. Rev. B 74, 161306 (R) (2006).
16. C. Madhu, A. Sundaresan, and C. N. R. Rao, Phys. Rev. B 77, 201306 (R) (2008).
17. J. Osorio-Guille'n, S. Lany, S. V. Barabash, and A. Zunger, Phys. Rev. Lett. 96, 107203 (2006).
18. A. L. Schoenhalz, J. T. Arantes, A. Fazzio, and G. M. Dalpian, Appl. Phys. Lett. 94, 162503 (2009).
19. Q. Wang, Q. Sun, and P. Jena, J. Chem. Phys. 129, 164714 (2008).
20. Q. Wang, Q. Sun, G. Chen, Y. Kawazoe, and P. Jena, Phys. Rev. B 77, 205411 (2008).
21. J. M. D. Coey, M. Venkatesan, and C. B. Fitzgerald, Nat. Mater. 4, 173 (2005).
22. J. M. D. Coey, Solid State Sciences 7, 660 (2005).
23. M. A. Garcia, E. F. Pinel, J. de la Venta, A. Quesada, V. Bouzas, J. F. Fernández, J. J. Romero, M. S. M. González, and J. L. Costa-Krämer, J. Appl. Phys. 105, 013925 (2009).
24. J. S. Thakur, G. W. Auner, V. M. Naik, P. Kharel, G. Lawes, R. Suryanarayanan, and R. Naik, J. Appl. Phys. 102, 093904 (2007).
25. N. H. Hong, J. Sakai, N. Poirot, and V. Brize, Phys. Rev. B 73, 132404 (2006).
26. K. Vanheusden, C. H. Seager, W. L. Warren, D. R. Tallant, and J. A. Voigt, Appl. Phys. Lett. 68, 403 (1996).
27. D. Q. Gao, Z. H. Zhang, J. L. Fu, Y. Xu, J. Qi, and D. S. Xue, J. Appl. Phys. 105, 113928 (2009).
28. X. L. Wu, G. G. Siu, C. L. Fu, and H. C. Ong, Appl. Phys. Lett. 78, 2285 (2001).
29. S. B. Zhang, S. H. Wei, and A. Zunger, Phys. Rev. B 63, 075205 (2001).
30. Y. F. Tian, J. Antony, R. Souza, S. S. Yan, L. M. Mei, and Y. Qiang, Appl. Phys. Lett. 92, 192109 (2008).
31. A. Poppl and G. Volkel, Status Solidi A 125, 571 (1991).
32. T. Tatsumi, M. Fujita, N. Kawamoto, M. Sasajima, and Y. Horikoshi, Jpn. J. Appl. Phys. Part 43, 2602 (2004).
33. D. Karmakar, S. K. Mandal, R. M. Kadam, P. L. Paulose, A. K. Rajarajan, T. K. Nath, A. K. Das, I. Dasgupta, and G. P. Das, Phys. Rev. B 75, 144404 (2007).
34. S. Yang, L. E. Halliburton, A. Manvannan, P. H. Bunton, D. B. Baker, M. Klemm, S. Horn, and A. Fujishima, Appl. Phys. Lett. 94, 162114 (2009).
35. D. Kim, J. Hong, Y. R. Park, and K. J. Kim, J. Phys.: Condens. Matter. 21, 195405 (2009).
36. H. Chou, C. P. Lin, H. S. Hsu, and S. J. Sun, Appl. Phys. Lett. 96, 092503 (2010).