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Volumn 336, Issue 6084, 2012, Pages 989-990

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ELECTRICAL CONDUCTIVITY; MEASUREMENT METHOD; PARTICULATE MATTER; SEMICONDUCTOR INDUSTRY;

EID: 84861442533     PISSN: 00368075     EISSN: 10959203     Source Type: Journal    
DOI: 10.1126/science.1223302     Document Type: Short Survey
Times cited : (40)

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    • [transl. from Nuovo Cimento 14, 171 (1937)].
    • (1937) Nuovo Cimento , vol.14 , pp. 171


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.