Effect of different annealing temperatures and SiO2/Si(100) substrate on the properties of nickel containing titania thin sol-gel films

Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

Volumn 209, Issue 5, 2012, Pages 953-965

  Pärna, Rainer ^a   Joost, Urmas ^a   Nãmmiste, Ergo ^a   Käämbre, Tanel ^a   Kikas, Arvo ^a   Kuusik, Ivar ^a   Kink, Ilmar ^a,b   Hirsimäki, Mika ^c   Kisand, Vambola ^a  

^a UNIVERSITY OF TARTU   (Estonia)

^b Estonian Nanotechnology Competence Center   (Estonia)

^c TAMPERE UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Finland)

Author keywords

light induced hydrophilicity; nickel; sol gel; substrate effects; thin films; titania

Indexed keywords

ANNEALING; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; DEPOSITION; ENERGY DISPERSIVE X RAY ANALYSIS; FILM PREPARATION; HYDROPHILICITY; NICKEL; NICKEL COMPOUNDS; OXIDE MINERALS; SILICA; SOL-GEL PROCESS; SOL-GELS; SUBSTRATES; THIN FILMS; TITANIUM DIOXIDE; ULTRAVIOLET VISIBLE SPECTROSCOPY; X RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY; X RAY DIFFRACTION;

ANNEALING TEMPERATURES; ENERGY DISPERSIVE X-RAY ANALYSIS (EDX); EXPERIMENTAL TECHNIQUES; FUNDAMENTAL ABSORPTION EDGE; INTERLAYER FORMATION; LIGHT-INDUCED HYDROPHILICITIES; SUBSTRATE EFFECTS; TITANIA;

X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 84860667019     PISSN: 18626300     EISSN: 18626319     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.201127641     Document Type: Article

References (48)

1. M. Keshmiri, M. Mohseni, and, T. Troczynski, Appl. Catal. B: Environ. 53, 209-219 (2004).
2. G. M. Keima, M. J. Colgan, and, M. J. Brett, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 85, 321-331 (2005).
3. R. Wang, K. Hashimoto, A. Fujishima, M. Chikuni, E. Kojima, A. Kitamura, M. Shimohigoshi, and, T. Watanabe, Nature 388, 431-432 (1997).
4. R. Wang, K. Hashimoto, A. Fujishima, M. Chikuni, E. Kojima, A. Kitamura, M. Shimohigoshi, and, T. Watanabe, Adv. Mater. 10, 135-138 (1998).
5. X. Hong, Z. Wang, W. Cai, F. Lu, J. Zhang, Y. Yang, N. Ma, and, Y. Liu, Chem. Mater. 17, 1548-1552 (2005).
6. Z. G. Li, and, S. Miyake, Appl. Surf. Sci. 255, 9149-9153 (2009).
7. R. Lõpez, R. Gõmez, and, M. E. Llanos, Catal. Today 148, 103-108 (2009).
8. R. S. Sonawane, B. B. Kale, and, M. K. Dongare, Mater. Chem. Phys. 85, 52-57 (2004).
9. O. Carp, C. L. Huisman, and, A. Reller, Prog. Solid State Chem. 32, 33-177 (2004).
10. S. D. Sharma, D. Singh, K. K. Saini, C. Kant, V. Sharma, S. C. Jain, and, C. P. Sharma, Appl. Catal., A: General 314, 40-46 (2006).
11. C. M. Visinescu, R. Sanjines, F. Lévy, and, V. I. Pârvulescu, Appl. Catal., B: Environ. 60, 155-162 (2005).
12. Y.-M. Lim, J.-H. Jeong, J.-H. An, Y.-S. Jeon, K.-O. Jeon, K.-S. Hwang, and, B.-H. Kim, J. Ceram. Proc. Res. 6, 302-304 (2005).
13. C. E. Rodríguez Torres, A. F. Cabrera, L. A. Errico, S. Duhalde, M. Rentería, F. Golmar, and, F. H. Sánchez, Physica B 398, 219-222 (2007).
14. V. Kisand, U. Joost, V. Reedo, R. Pärna, T. Tätte, J. Shulga, A. Saar, L. Matisen, A. Kikas, and, I. Kink, Appl. Surf. Sci. 256, 4538-4542 (2010).
15. T. Watanabe, S. Fukayama, M. Miyauchi, A. Fujishima, and, K. Hashimoto, J. Sol-Gel Sci. Technol. 19, 71-76 (2000).
16. L. M. NikoliÄ, L. RadonjiÄ, and, V. V. SrdiÄ, Ceram. Int. 31, 261-266 (2005).
17. R. Pärna, U. Joost, E. NÃmmiste, T. Käämbre, A. Kikas, I. Kuusik, M. Hirsimäki, I. Kink, and, V. Kisand, Appl. Surf. Sci. 257, 6897-6907 (2011).
18. T. Tätte, M. Paalo, V. Kisand, V. Reedo, A. Kartushinsky, K. Saal, U. Mäeorg, A. LÃhmus, and, I. Kink, Nanotechnology 18, 125301 (2007).
19. V. Kisand, J. Shulga, T. Tätte, U. Visk, M. Natali, G. Mistura, M. Paalo, M. Lobjakas, and, I. Kink, Mater. Sci. Eng. B 137, 162-165 (2007).
20. D. Nečas, P. Klapetek, and, C. Anderson, Gwyddion version 2.19, 2010.
21. P. Scherrer, Nachr. Ges. Wiss. Goett. 26, 98-100 (1918).
22. Md. Mosaddeq-ur-Rahman, G. Yu, T. Soga, T. Jimbo, H. Ebisu, and, M. Umeno, J. Appl. Phys. 88, 4634-4641 (2000).
23. F. Chen, H. M. Deng, D. J. Huang, P. X. Yang, and, J. H. Chu, J. Phys.: Conf. Ser. 276, 012160 (2011).
24. I. R. Beattie, and, T. R. Gilson, Proc. R. Soc. A 307, 407-429 (1968).
25. A. Li Bassi, D. Cattaneo, V. Russo, C. E. Bottani, E. Barborini, T. Mazza, P. Piseri, P. Milani, F. O. Ernst, K. Wegner, and, S. E. Pratsinis, J. Appl. Phys. 98, 074305-1-074305-9 (2005).
26. M. I. Baraton, G. Busca, M. C. Prieto, G. Ricchiardi, and, V. S. Escribano, J. Solid State Chem. 112, 9-14 (1994).
27. G. Busca, G. Ramis, J. M. G. Amores, V. S. Escrubano, and, P. Piaggio, J. Chem. Soc. Faraday Trans. 90, 3181-3190 (1994).
28. R. E. Dietz, G. I. Parisot, and, A. E. Meixner, Phys. Rev. B 4, 2302-2310 (1971).
29. S. Hashimoto, and, A. Tanaka, Surf. Interface Anal. 34, 262-265 (2002).
30. M. Dhayal, S. D. Sharma, C. Kant, K. K. Saini, and, S. C. Jain, Surf. Sci. 602, 1149-1154 (2008).
31. R. Sanjinés, H. Tang, H. Berger, F. Gozzo, G. Margaritondo, and, F. Lévy, J. Appl. Phys. 75, 2945-2951 (1994).
32. J. Yu, J. C. Yu, W. Ho, and, Z. Jiang, New J. Chem. 26, 607-613 (2002).
33. M. L. Miller, and, R. W. Linton, Anal. Chem. 57, 2314-2319 (1985).
34. C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, J. F. Moulder, and, G. E. Muilenberg, (eds.), Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy (Perkin-Elmer Co., Eden Prairie, 1979).
35. F. U. Hillebrecht, J. C. Fuggle, P. A. Bennett, and, Z. Zolnierek, Phys. Rev. B 27, 2179-2193 (1983).
36. S.-W. Ho, C.-Y. Chu, and, S.-G. Chen, J. Catal. 178, 34-48 (1998).
37. D. Alders, F. C. Voogt, T. Hibma, and, G. A. Sawatzky, Phys. Rev. B 54, 7716-7719 (1996).
38. N. Fairley, CasaXPS version 2.3.12, 2000.
39. S. H. Lim, C. Ferraris, M. Schreyer, K. Shih, J. O. Leckie, and, T. J. White, J. Solid State Chem. 180, 2905-2915 (2007).
40. M. Fleischhammer, M. Panthöfer, and, W. Tremel, J. Solid State Chem. 182, 942-947 (2009).
41. R. Ruus, A. Kikas, A. Saar, A. Ausmees, E. NÃmmiste, J. Aarik, A. Aidla, T. Uustare, and, I. Martinson, Solid State Commun. 104, 199-203 (1997).
42. F. M. F. de Groot, M. O. Figueiredo, M. J. Basto, M. Abbate, H. Petersen, and, J. C. Fuggle, Phys. Chem. Miner. 19, 140-147 (1992).
43. F. M. F. de Groot, J. C. Fuggle, B. T. Thole, and, G. A. Sawatzky, Phys. Rev. B 41, 928-937 (1990).
44. I. Preda, M. Abbate, A. Gutiérrez, S. Palacín, A. Vollmer, and, L. Soriano, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 156-158, 111-114 (2007).
45. G. Radtke, S. Lazar, and, G. A. Botton, Phys. Rev. B 74, 115117-1-115117-8 (2006).
46. P. Vitanov, Tz. Babeva, Z. Alexieva, A. Harizanova, and, Z. Nenova, Vacuum 76, 219-222 (2004).
47. H. Tang, K. Prasad, R. Sanjinès, P. E. Schmid, and, F. Lévy, J. Appl. Phys. 75, 2042-2047 (1994).
48. T. Umebayashi, T. Yamaki, H. Itoh, and, K. Asai, J. Phys. Chem. Solids 63, 1909-1920 (2002).