Fabrication of red organic light emitting diodes (OLEDs) using EuxY(1-x)(TTA)3Phen organic complexes for solid state lighting

Advanced Materials Letters

Volumn 2, Issue 1, 2011, Pages 65-70

  Thejo Kalyani, N ^a   Dhoble, S J ^b   Pode, R B ^c  

^a PRIYADARSHINI COLLEGE OF ENGINEERING   (India)

^b RTM NAGPUR UNIVERSITY   (India)

^c Kyung Hee University   (South Korea)

Author keywords

Electroluminescence; HOMO; Luminance; LUMO; OLED device

Indexed keywords

EID: 84860283826     PISSN: 09763961     EISSN: 0976397X     Source Type: Journal    
DOI: 10.5185/amlett.2010.10169     Document Type: Article

References (27)

1. Shukla, S.K.; Bharadvaja, A.; Tiwari, A.; Pilla, S.; Parashar, G.K.; Dubey, G.C. Adv. Mat. Lett. 2010, 1, 129. DOI: 10.5185/amlett.2010.3105
2. Yuan, X.; Tian, Z. Adv. Mat. Lett. 2010, 1, 135. DOI: 10.5185/amlett.2010.4119
3. McGehee, M.D.; .Bergstedt, T.; Zhang, C.; Saab, A.P.; O'Regan M.B.; Bazan, G.C.; Srdanov V.I.; Heeger, A.H. Adv. Mater. 1999, 11, 1346. DOI: 10.1063/1.1410319
4. Zhao, D.; Hong, Z.; Liang, C.; Zhao, D.; Liu, X.; Li, W.; Lee C.S.; Lee, S.T. Thin Solid Films 2000, 363, 208. DOI: 10.1016/S0040-6090(99)01038-X
5. Liang, C.J.; Hong, Z.R.; Liu, X.Y.; Zhao, D.X.; Zhao D.; Li, W.L.; Peng, J.B.; Yu, J.Q.; Lee C.S.; Lee, S.T. Thin Solid Films 2000, 359, 14. DOI: 10.1016/S0040-6090(99)00713-0
6. Pyo, S.W.; Lee, S.P.; Lee, H.S.; Kwon, O.K.; Hoe, H.S.; Lee, S.H.; Ha,Y.K.; Kim, Y.K.; Kim, J.S. Thin Solid Films 2000,.363, 232. DOI: 10.1088/0022-3727/41/15/155113
7. Zhu, W.; Jiang, Q.; Lu, Z.; Wei, X.; Xie, M.; Zou D.; Tsutsui, T. Synth. Met. 2000, 111-112, 445. DOI: 10.1063/1.1410319
8. Zhao, D.; Li, W.; Hong, Z.; Liu, X.; Liang, C.; Zhao, D. J. Lumin. 1999, 82, 105. DOI: 10.1016/S0022-2313(99)00038-1
9. Kido J.; Nagai, K.J. Alloys Compds 1993, 192, 30. DOI: 10.1002/1099-0518(20000915)38:18<3211::AID-POLA10>3.0.CO;2-L
10. Sano, T.; Fujita, M.; Fujii, T.; Hamada, Y.; Shibata K.; Kuroki, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 1883. DOI: 10.1021/ed080p1474
11. Adachi C.; Baldo M. A.; Forest, S.R. J. Appl. Phys. 2000, 87, 11. DOI: 10.1103/PhysRevB.64.085201
12. Chen, B.; Lin, X.; Cheng, L.; Lee, C.; Gambling, W.A.; Lee, S. J. Phys. D: Appl. Phys. 2001, 34, 30. DOI: 10.1088/0022-3727/34/1/306
13. Ma, C.; Zhang, B.; Liang, Z.; Xie, P.; Wang, X.; Zhang, B.; Cao, Y.; Jiang, X.; Zhang, Z. J. Mater. Chem. 2002, 12, 1671. DOI: 10.1021/ic702457b
14. Ohmari, Y.; Kajii, H.; Sawatani, T.; Ueta, H.; Yoshino, K.J. Curr. Appl. Phys. 2005, 5, 345 DOI: 10.1016/j.cap.2004.01.046
15. Qu, B.; Chen, Z.; Liu, Y.; Cao, H.; Xu, S.; Cao, S.; Lan, Z.; Wang Z.; Gong, Q.J. Phys. D: Appl. Phys. 2006, 39, 2680. DOI: 10.1088/0022-3727/39/13/007
16. Cocchi, M.; Kalinowski, J.; Murphy, L.; Williams, J.A.G.; Fattori, V. Organic Electronics 2010, 11, 388. DOI: 10.1016/j.orgel.2009.11.017
17. Chang, C.H.; Chen, C.C.; Wu, C.C.; Chang, S.Y.; Hung, J.Y.; Chi, Y. Organic Electronics 2010, 11, 266. DOI: 10.1016/j.orgel.2009.11.004 18. Kido, J.; Kohda, M. Chem. Rev. 2002, 102, 2357. DOI: 10.1021/cr010448y
18. Kido, J.; Kohda, M. Chem. Rev. 2002, 102, 2357. DOI: 10.1021/cr010448y
19. Tang, C.W.; Van Slyke, S.A. Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 913. DOI: 10.1038/347539a0
20. Adachi, C.; Tokito, S.; Tsutsui, T.; Saito, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1988, 27, 713. DOI: 10.1002/ecj.10048
21. Adachi, C.; Tokito, S.; Tsutsui T.; Saito, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1988, 27, 269. DOI:10.1016/S0143-7208(97)00089-2
22. Tang, C.W.; Van Slyke, S.A.; Chen, C.H. J. Appl. Phys. Lett. 1989, 65, 3610. DOI: 10.1038/347539a0
23. Gschneiduer, K.A. Jr.; Bünzli, J.-C. G.; Pencharsky, V.K. (Eds), in Hand book on physics and chemistry of rare earth, Elsevier, 2005, 35.
24. Heil, H.; Steiger, J.; Schmechel, R.; Von Seggerm, H. J. Appl. Phys. 2001, 90, 10. DOI: 10.1063/1.1410319
25. Xie, W.; Liu, S. Semicond. Sci. Technol. 2006, 21, 316. DOI: 10.1088/0268-1242/21/3/020
26. O'Brien, D.F; Baldo, M.A.; Thompson, M.E.; Forrest, S.R. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 442. DOI: 10.1103/PhysRevB.60.14422
27. Baldo, M.A.; Lamansky, S.; Burrows, P.E.; Thompson, M.E.; Forrest, S.R. Appl. Phys.Lett. 1999, 75, 4. DOI: 10.1103/PhysRevB.60.14422