Single and double core-hole ionization energies in molecules

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 116, Issue 15, 2012, Pages 3856-3865

  Thomas, T Darrah ^a  

^a OREGON STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL PROCESS; CORE-IONIZATION; FINAL-STATE EFFECTS; HIGHER ORDER; MOLECULAR CONFORMATION; MOLECULAR FRAGMENTATION; THEORETICAL CALCULATIONS; WAGNER PLOTS;

MOLECULES;

IONIZATION POTENTIAL;

EID: 84860186710     PISSN: 10895639     EISSN: 15205215     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp211741e     Document Type: Article

References (69)

1. Kowalczyk, S. P.; Pollak, R. A.; McFeely, F. R.; Ley, L.; Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1973, 8, 2387-2391
2. Kowalczyk, S. P.; Ley, L.; McFeely, F. R.; Pollak, R. A.; Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1974, 9, 381-391
3. Bahl, M. K.; Woodall, R. O.; Watson, R. L.; Irgolic, K. J. J. Chem. Phys. 1976, 64, 1210-1218
4. Bahl, M. K.; Watson, R. L.; Irgolic, K. J. J. Chem. Phys. 1978, 68, 3272-3279
5. Franke, R.; Chassé, T.; Streubel, P.; Meisel, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1991, 56, 381-388
6. Wong, J.; Sun, W.; Ma, Z.; Sou, I. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2001, 113, 215-220
7. Eickhof, T.; Medicherla, V.; Drube, W. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2004, 137-140, 85-88
8. Gaarenstroom, S. W.; Winograd, N. J. Chem. Phys. 1977, 67, 3500-3506
9. Ashe, A. J., III; Bahl, M. K.; Bomben, K. D.; Chan, W. T.; Gimzewski, J. K.; Sitton, P. G.; Thomas, T. D. J. Am. Chem. Soc. 1979, 101, 1764-1767
10. Aitken, E. J.; Bahl, M. K.; Bomben, K. D.; Gimzewski, J. K.; Nolan, G. S.; Thomas, T. D. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 4873-4879
11. Sæthre, L. J.; Thomas, T. D. J. Org. Chem. 1991, 56, 3935-3942
12. Nolan, G. S.; Sæthre, L. J.; Siggel, M. R.; Thomas, T. D.; Ungier, L. J. Am. Chem. Soc. 1985, 107, 6463-6467
13. Siggel, M. R. F.; Nolan, G. S.; Sæthre, L. J.; Thomas, T. D.; Ungier, L. J. Phys. Chem. 1987, 91, 3969-3974
14. Sodhi, R. N.; Cavell, R. G. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1983, 32, 283-312
15. Sodhi, R. N. S.; Cavell, R. G. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1986, 41, 1-24
16. Cavell1, R. G.; Sodhi, R. N. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1986, 41, 25-36
17. Young, L.; Kanter, E. P.; Krässig, B.; Li, Y.; March, A. M.; Pratt, S. T.; Santra, R.; Southworth, S. H.; Rohringer, N.; DiMauro, L. F.; Doumy, G.; Roedig, C. A.; Berrah, N.; Fang, L.; Hoener, M.; Bucksbaum, P. H.; Cryan, J. P.; Ghimire, S.; Glownia, J. M.; Reis, D. A.; Bozek, J. D.; Bostedt, C.; Messerschmidt, M. Nature 2010, 466, 56-61
18. Cryan, J. P.; Glownia, J. M.; Andreasson, J.; Belkacem, A.; Berrah, N.; Blaga, C. I.; Bostedt, C.; Bozek, J.; Buth, C.; DiMauro, L. F.; Fang, L.; Gessner, O.; Guehr, M.; Hajdu, J.; Hertlein, M. P.; Hoener, M.; Kornilov, O.; Marangos, J. P.; March, A. M.; McFarland, B. K.; Merdji, H.; Petrović, V. S.; Raman, C.; Ray, D.; Reis, D.; Tarantelli, F.; Trigo, M.; White, J. L.; White, W.; Young, L.; Bucksbaum, P. H.; Coffee, R. N. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 083004
19. Fang, L.; Hoener, M.; Gessner, O.; Tarantelli, F.; Pratt, S. T.; Kornilov, O.; Buth, C.; Gühr, M.; Kanter, E. P.; Bostedt, C.; Bozek, J. D.; Bucksbaum, P. H.; Chen, M.; Coffee, R.; Cryan, J.; Glownia, M.; Kukk, E.; Leone, S. R.; Berrah, N. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 083005
20. Linusson, P.; Takahashi, O.; Ueda, K.; Eland, J. H. D.; Feifel, R. Phys. Rev. A 2011, 83, 022506
21. Lablanquie, P.; Penent, F.; Palaudoux, J.; Andric, L.; Selles, P.; Carniato, S.; Bucar, K.; Žitnik, M.; Huttula, M.; Eland, J. H. D.; Shigemasa, E.; Soejima, K.; Hikosaka, Y.; Suzuki, I. H.; Nakano, M.; Ito, K. Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 063003
22. Eland, J. H. D.; Tashiro, M.; Linusson, P.; Ehara, M.; Ueda, K.; Feifel, R. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 213005
23. Berrah, N.; Fang, L.; Murphy, B.; Osipov, T.; Ueda, K.; Kukk, E.; Feifel, R.; van der Meulen, P.; Salen, P.; Schmidt, H. T.; Thomas, R. D.; Larsson, M.; Richter, R.; Prince, K. C.; Bozek, J. D.; Bostedt, C.; Wada, S.; Piancastelli, M. N.; Tashiro, M.; Ehara, M. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2011, 108, 16912-16915
24. Lablanquie, P.; Grozdanov, T. P.; Žitnik, M.; Carniato, S.; Selles, P.; Andric, L.; Palaudoux, J.; Penent, F.; Iwayama, H.; Shigemasa, E.; Hikosaka, Y.; Soejima, K.; Nakano, M.; Suzuki, I. H.; Ito, K. Phys. Rev. Lett. 2011, 107, 193004
25. Cederbaum, L. S.; Tarantelli, F.; Sgamellotti, A.; Schirmer, J. J. Chem. Phys. 1986, 85, 6513-6523
26. Cederbaum, L. S.; Tarantelli, F.; Sgamellotti, A.; Schirmer, J. J. Chem. Phys. 1987, 86, 2168-2175
27. Santra, R.; Kryzhevoi, N. V.; Cederbaum, L. S. Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 013002
28. Kryzhevoi, N. V.; Santra, R.; Cederbaum, L. S. J. Chem. Phys. 2011, 135, 084302
29. Tashiro, M.; Ehara, M.; Fukuzawa, H.; Ueda, K.; Buth, C.; Kryzhevoi, N. V.; Cederbaum, L. S. J. Chem. Phys. 2010, 132, 184302
30. Takahashi, O.; Tashiro, M.; Ehara, M.; Yamasaki, K.; Ueda, K. J. Phys. Chem. A 2011, 115, 12070-12082
31. Takahashi, O.; Tashiro, M.; Ehara, M.; Yamasaki, K.; Ueda, K. Chem. Phys. 2011, 384, 28-35
32. Liberman, D. Bull. Am. Phys. Soc. 1964, 9, 731
33. Hedin, L.; Johansson, A. J. Phys. B 1969, 2, 1336-1346
34. Wagner, C. D. Anal. Chem. 1975, 47, 1201-1203
35. Wagner, C. D. Faraday Discuss. Chem. Soc. 1975, 60, 291-300
36. Williams, A. R.; Lang, J. D. Phys. Rev. Lett. 1978, 40, 954-957
37. Thomas, T. D. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1980, 20, 117-125
38. Martin, R. L.; Shirley, D. A. J. Am. Chem. Soc. 1974, 96, 5299-5304
39. Davis, D. W.; Shirley, D. A. J. Am. Chem. Soc. 1976, 98, 7898-7903
40. Smith, S. R.; Thomas, T. D. J. Am. Chem. Soc. 1978, 100, 5459-5466
41. Siggel, M. R.; Thomas, T. D. J. Am. Chem. Soc. 1986, 108, 4360-4363
42. Siggel, M. R. F.; Thomas, T. D. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 5795-800
43. Ji, D.; Thomas, T. D. J. Phys. Chem. 1994, 98, 4301-4303
44. Davis, D. W.; Rabalais, J. W. J. Am. Chem. Soc. 1974, 96, 5305-5310
45. Mills, B. E.; Martin, R. L.; Shirley, D. A. J. Am. Chem. Soc. 1976, 98, 2380-2385
46. Benoit, F. M.; Harrison, A. G. J. Am. Chem. Soc. 1977, 99, 3980-3984
47. Cavell, R. G.; Allison, D. A. J. Am. Chem. Soc. 1977, 99, 4203-4204
48. Brown, R. S.; Tse, A. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 5222-5226
49. Nordfors, D.; Mårtensson, N.; Ågren, H. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1990, 53, 129-139
50. Nordfors, D.; Mårtensson, N.; Ågren, H. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1991, 56, 167-187
51. Carroll, T. X.; Thomas, T. D.; Bergersen, H.; Børve, K. J.; Sæthre, L. J. J. Org. Chem. 2006, 71, 1961-1968
52. Carroll, T. X.; Thomas, T. D.; Sæthre, L. J.; Børve, K. J. J. Phys. Chem. A 2009, 113, 3481-3490
53. Myrseth, V.; Sæthre, L. J.; Børve, K. J.; Thomas, T. D. J. Org. Chem. 2007, 72, 5715-5723
54. Sæthre, L. J.; Thomas, T. D.; Svensson, S. J. Chem. Soc., Perkin Trans. 2 1997, 749-755
55. Thomas, T. D.; Sæthre, L. J.; Børve, K. J.; Gundersen, M.; Kukk, E. J. Phys. Chem. 2005, 109, 5085
56. Janak, J. F. Phys. Rev. B 1978, 18, 7165-7168
57. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Mennucci, B.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Caricato, M.; Li, X.; Hratchian, H. P.; Izmaylov, A. F.; Bloino, J.; Zheng, G.; Sonnenberg, J. L.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Montgomery, J. A., Jr.; Peralta, J. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Rega, N.; Millam, J. M.; Klene, M.; Knox, J. E.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C; Jaramillo, J.; Gomperts, R. E.; Stratmann, O.; Yazyev, A. J.; Austin, R.; Cammi, C.; Pomelli, J. W.; Ochterski, R.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Zakrzewski, V. G.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, O.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cioslowski, J.; Fox, D. J. Gaussian 09, revision A.1; Gaussian Inc.: Wallingford, CT, 2009.
58. Holme, A.; Børve, K. J.; Sæthre, L. J.; Thomas, T. D. J. Chem. Theory Comput. 2011, 7, 4104-4114
59. Thomas, T. D.; Saethre, L. J.; Børve, K. J.; Bozek, J. D.; Huttula, M.; Kukk, E. J. Phys. Chem. A 2004, 108, 4983-4990
60. Sæthre, L. J.; Børve, K. J.; Thomas, T. D. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2011, 183, 2-9
61. Børve, K. J.; Thomas, T. D. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2000, 107, 155-161
62. Moretti, G. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 95, 95-144
63. Wagner, C. D. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1977, 10, 305-315
64. NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database, version 3.5; NIST Standard Reference Database 20; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, 2003. Wagner plots available at http://srdata.nist.gov/xps/ WagnerPlot.aspx (accessed April 2012).
65. Myrseth, V.; Bozek, J. D.; Kukk, E.; Sæthre, L. J.; Thomas, T. D. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2002, 122, 57
66. Feyer, V.; Plekan, O.; Richter, R.; Coreno, M.; Vall-llosera, G.; Prince, K. C.; Trofimov, A. B.; Zaytseva, I. L.; Moskovskaya, T. E.; Gromov, E. V.; Schirmer, J. J. Phys. Chem. A 2009, 113, 5736-5742
67. Schwartz, M. E. Chem. Phys. Lett. 1970, 6, 631-535
68. Bonham, R. A.; Bartell, L. S. J. Am. Chem. Soc. 1959, 81, 3491-3496
69. Boldyrev, A. I.; Simons, J. J. Chem. Phys. 1992, 97, 4272-4281