MgB2 films with very high critical current densities due to strong grain boundary pinning

Applied Physics Letters

Volumn 85, Issue 14, 2004, Pages 2842-2844

  Kitaguchi, H ^a   Matsumoto, A ^a   Kumakura, H ^a   Doi, T ^b   Yamamoto, H ^c   Saitoh, K ^c   Sosiati, H ^d   Hata, S ^d  

^a NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE   (Japan)

^b KAGOSHIMA UNIVERSITY   (Japan)

^c HITACHI LTD   (Japan)

^d KYUSHU UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRITICAL CURRENT DENSITY (SUPERCONDUCTIVITY); DEPOSITION; ELECTRON CYCLOTRON RESONANCE; GRAIN BOUNDARIES; INTERMETALLICS; MAGNESIUM COMPOUNDS; MAGNETIC FILMS; MICROSTRUCTURE; NANOSTRUCTURED MATERIALS; SAMPLING; SUPERCONDUCTING MATERIALS; THERMAL EFFECTS; THIN FILMS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

DARK FIELD IMAGES (DFI); DIFFRACTION PATTERNS; FLUX PINNING; ROTATION AXIS;

METALLIC FILMS;

EID: 8444233616     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1805195     Document Type: Article

References (17)

1. J. Nagamatsu, N. Nakagawa, Y. Zenitani, and J. Akimitsu, Nature (London) 410, 63 (2001).
2. D. Larbalestier, L. D. Cooley, M. O. Rikel, A. A. Polyanskii, J. Jiang, S. Patnaik, X. Y. Cai, D. M. Feldmann, A. Gurevich, A. A. Squitieri, M. T. Naus, C. B. Eom, E. E. Hellstrom, R. J. Cava, K. A. Regan, N. Rogado, M. A. Hayward, T. He, J. S. Slusky, P. Khalifah, K. Inumaru, and M. Haas, Nature (London) 410, 186 (2001).
3. Y. Bugoslavsky, G. K. Perkins, X. Qi, L. F. Cohen, and A. D. Caplin, Nature (London) 410, 563 (2001).
4. K. Komori, K. Kawagishi, Y. Takano, H. Fujii, S. Arisawa, H. Kumakura, M. Fukutomi, and K. Togano, Appl. Phys. Lett. 81, 1047 (2002).
5. R. Flükiger, H. L. Suo, N. Musolino, C. Beneduce, P. Toulemonde, and P. Lezza, Physica C 385, 286 (2003).
6. C. Buzea and T. Yamashita, Semicond. Sci. Technol. 14, R115 (2001)
7. S. Y. Xu, Qi Li, E. Wertz, Y. F. Hu, A. V. Pogrebnyakov, X. H. Zeng, X. X. Xi, and J. M. Redwing, Phys. Rev. B 68, 224501 (2003)
8. X. Zeng, A. V. Pogrebnyakov, A. Kotcharov, J. E. Jones, X. X. Xi, E. M. Lysczek, J. M. Redwing, S. Xu, Q. Li, J. Lettieri, D. G. Schlom, W. T. Ian, X. Pan, and Z. K. Liu, Nat. Mater. 1, 35 (2002).
9. W. N. Kang, E. M. Choi, H. J. Kim, H. J. Kim, and S. I. Lee, Physica C 385, 24 (2003).
10. X. H. Zeng, A. V. Pogrebnyakov, M. H. Zhu, J. E. Jones, X. X. Xi, S. Y. Xu, E. Wertz, Q Li, J. M. Redwing, J. Lettieri, V. Vaithyanathan, D. G. Schlom, Z. K. Liu, O. Trithaveesak, and J. Schubert, Appl. Phys. Lett. 82, 2097 (2003).
11. S. H. Moon, H. M. Kim, S. S. Yim, K. B. Kim, Y. W. Kim, S. I. Yoo, and H. N. Lee, Semicond. Sci. Technol. 17, S15 (2004).
12. S. H. Moon, J. H. Yun, H. N. Lee, J. I. Kye, H. G. Kim, W. Chung, and B. Oh, Appl. Phys. Lett. 79, 2429 (2001).
13. J. M. Rowell, S. Y. Xu, X. H. Zeng, A. V. Pogrebnyakov, Qi Li, X. X. Xi, J. M. Redwing, W. Tian, and X. Pan, Appl. Phys. Lett. 83, 102 (2003).
14. S. L. Prischepa, M. L. Della Rocca, L. Maritato, M. Salvato, R. Di Capua, M. G. Maglione, and R. Vaglio, Phys. Rev. B 67, 024512 (2003).
15. M. P. Paranthaman, D. K. Christen, H. M. Christen, J. R. Thompson, H. R. Kerchner, C. Cantoni, and H. Y. Zhai, Physica C 378-381, 1252 (2002).
16. M. Paranthaman, C. Cantoni, H. Y. Zhai, H. M. Christen, T. Aytug, S. Sathyamurthy, E. D. Specht, J. R. Thompson, D. H. Lowndes, H. R. Kerchner, and D. K. Christen, Appl. Phys. Lett. 78, 3669 (2001).
17. S. F. Wang, Y. L. Zhou, Y. B. Zhu, Z. Liu, Q. Zhang, Z. H. Chen, H. B. Lu, S. Y. Dai, and G. Z. Yang, Semicond. Sci. Technol. 16, 748 (2003).