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Volumn 30, Issue 8, 1996, Pages 41-

The challenge of GSM testing

(1)  Geiger, Al a  

a NONE

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EID: 8444232572     PISSN: 02784831     EISSN: None     Source Type: Trade Journal    
DOI: None     Document Type: Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.