Interrelation between substrate roughness and thin-film structure of functionalized acenes on graphite

Crystal Growth and Design

Volumn 11, Issue 11, 2011, Pages 4996-5001

  Breuer, Tobias ^a   Salzmann, Ingo ^b   Jan, Götzen ^a   Oehzelt, Martin ^b   Morherr, Antonia ^a   Koch, Norbert ^b   Witte, Gregor ^a  

^a PHILIPPS UNIVERSITY MARBURG   (Germany)

^b HUMBOLDT UNIVERSITY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTALLINE STRUCTURE; FILM ROUGHNESS; FUNCTIONALIZED; HIGHLY ORIENTED PYROLYTIC GRAPHITE; ION SPUTTERING; MICRO-ROUGHNESS; MOLECULAR MATERIALS; ORGANIC FILMS; PENTACENES; PERFLUOROPENTACENES; SUBSTRATE PREPARATION; SUBSTRATE ROUGHNESS; THIN-FILM STRUCTURE;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; FILM GROWTH; FILMS; GRAPHITE; PYROLYSIS; SUBSTRATES; SURFACE PROPERTIES; X RAY DIFFRACTION;

FILM PREPARATION;

EID: 82955251605     PISSN: 15287483     EISSN: 15287505     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cg200894y     Document Type: Article

References (31)

1. Anthony, J. E. Chem. Rev. 2006, 106, 5028.
2. Karl, N., Farchioni, R., Grosso, G., Eds. Organic Electronic Materials; Springer: New York, 2001.
3. Duhm, S.; Heimel, G.; Salzmann, I.; Glowatzki, H.; Johnson, R. L.; Vollmer, A.; Rabe, J. P.; Koch, N. Nat. Mater. 2008, 7, 326.
4. Ueno, N.; Kera, S. Prog. Surf. Sci. 2008, 83, 490.
5. Sassella, A.; Borghesi, A.; Meinardi, F.; Tubino, R.; Gurioli, M.; Botta, C.; Porzio, W.; Barbarella, G. Phys. Rev. B 2000, 62, 11170.
6. Breuer, T.; Witte, G. Phys. Rev. B 2011, 83, 155428.
7. Witte, G.; Wöll, Ch. J. Mater. Res. 2004, 19, 7.
8. Stöhr, M.; Gabriel, M.; Möller, R. Europhys. Lett. 2002, 59, 423.
9. Käfer, D.; Witte, G. Chem. Phys. Lett. 2007, 442, 376.
10. Götzen, J.; Schwalb, C. H.; Schmidt, C.; Mette, G.; Marks, M.; Höfer, U.; Witte, G. Langmuir 2001, 27, 993.
11. Dürr, A. C.; Koch, N.; Kelch, M.; Ghijsen, J.; Johnson, R. L.; Pireaux, J. J.; Schwartz, J.; Schreiber, F.; Dosch, H.; Kahn, A. Phys. Rev. B 2003, 68, 115428.
12. Peisert, H.; Biswas, I.; Zhang, L.; Knupfer, M.; Hanack, M.; Dini, D.; Batchelor, D.; Chasse, T. Surf. Sci. 2006, 600, 4024.
13. Käfer, D.; Ruppel, L.; Witte, G. Phys. Rev. B 2007, 75, 085309.
14. Zheng, Y.; Wee, A. T. S.; Chandrasekhar, N. ACS Nano 2010, 4, 2104.
15. Ivanco, J.; Haber, T.; Krenn, J. R.; Netzer, F. P.; Resel, R.; Ramsey, M. G. Surf. Sci. 2007, 601, 178.
16. Götzen, J.; Käfer, D.; Wöll, Ch.; Witte, G. Phys. Rev. B 2010, 81, 085440.
17. Zacharia, R.; Ulbricht, H.; Hertel, T. Phys. Rev. B 2004, 69, 155406.
18. Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Kobayashi, M.; Gao, Y.; Fukai, Y.; Inoue, Y.; Sato, F.; Tokito, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8138.
19. Käfer, D.; El Helou, M.; Gemel, Ch.; Witte, G. Cryst. Growth Des. 2008, 8, 3053.
20. Duhm, S.; Hosoumi, S.; Salzmann, I.; Gerlach, A.; Oehzelt, M.; Wedl, B.; Lee, T. L.; Schreiber, F.; Koch, N.; Ueno, N. Phys. Rev. B 2010, 81, 045418.
21. Kowarik, S.; Gerlach, A.; Hinderhofer, A.; Milita, S.; Borgatti, F.; Zontone, F.; Suzuki, T.; Biscarini, F.; Schreiber, F. Phys. Status Solidi (RRL) 2008, 2, 120.
22. Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Rabe, J. P.; Koch, N.; Oehzelt, M.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T. Langmuir 2008, 24 (14), 7294.
23. Jung, Y.; Kline, R. J.; Fischer, D. A.; Liu, E. K.; Heeny, M.; McCulloch, I.; DeLongchamp, D. M. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 742.
24. Yang, H.; Yang, C.; Kim, S. H.; Jang, M.; Park, C. E. ACS Appl. Mater. Interfaces 2010, 2, 391.
25. Ruiz, R.; Choudhary, D.; Nickel, B.; Toccoli, T.; Chang, K.-C.; Mayer, A. C.; Clancy, P.; Blakely, J. M.; Headrick, R. L.; Iannotta, S.; Malliaras, G. G. Chem. Mater. 2004, 16, 4497.
26. Söhnchen, S.; Lukas, S.; Witte, G. J. Chem. Phys. 2004, 121, 525.
27. Götzen, J.; Lukas, S.; Birkner, A.; Witte, G. Surf. Sci. 2011, 605, 577.
28. Djuric, T.; Ules, T.; Flesch, H. G.; Planck, H.; Shen, Q.; Teichert, C.; Resel, R.; Ramsey, M. G. Cryst. Growth Des. 2011, 11, 1015.
29. Müllegger, S.; Mitsche, S.; Pölt, P.; Hänel, K.; Birkner, A.; Wöll, Ch.; Winkler, A. Thin Solid Films 2005, 484, 408.
30. Müllegger, S.; Salzmann, I.; Resel, R.; Winkler, A. Appl. Phys. Lett. 2003, 83 (22), 4536.
31. Müllegger, S.; Salzmann, I.; Resel, R.; Hlawacek, G.; Teichert, C.; Winkler, A. J. Chem. Phys. 2004, 121, 2272.