-
1
-
-
0036202567
-
-
Bol A. A., van Beek R., Meijerink A., Chem. Mat., 2002, 14, 1121
-
(2002)
Chem. Mat.
, vol.14
, pp. 1121
-
-
Bol, A.A.1
van Beek, R.2
Meijerink, A.3
-
2
-
-
10644224440
-
-
Wang X., Kong X. G., Shan G. Y., Yu Y., Sun Y. J., Feng L. Y., Chao K. F., Lu S. Z., Li Y. J., J. Phys. Chem. B, 2004, 108, 18408
-
(2004)
J. Phys. Chem. B
, vol.108
, pp. 18408
-
-
Wang, X.1
Kong, X.G.2
Shan, G.Y.3
Yu, Y.4
Sun, Y.J.5
Feng, L.Y.6
Chao, K.F.7
Lu, S.Z.8
Li, Y.J.9
-
3
-
-
31144452094
-
-
Pereira A. S., Peres M., Soares M. J., Alves E., Neves A., Monteiro T., Trindade T., Nanotechnology, 2006, 17, 834
-
(2006)
Nanotechnology
, vol.17
, pp. 834
-
-
Pereira, A.S.1
Peres, M.2
Soares, M.J.3
Alves, E.4
Neves, A.5
Monteiro, T.6
Trindade, T.7
-
4
-
-
18744398496
-
-
Peng H. Y., Lee C. W., Everitt H. O., Lee D. S., Steckl A. J., Zavada J. M., Appl. Phys. Lett., 2005, 86, 51110
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.86
, pp. 51110
-
-
Peng, H.Y.1
Lee, C.W.2
Everitt, H.O.3
Lee, D.S.4
Steckl, A.J.5
Zavada, J.M.6
-
5
-
-
25144491808
-
-
Wang K., Martin R. W., O'Donnell K. P., Katchkanov V., Nogales E., Lorenz K., Alves E., Ruffenach S., Briot O., Appl. Phys. Lett., 2005, 87, 112107
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 112107
-
-
Wang, K.1
Martin, R.W.2
O'Donnell, K.P.3
Katchkanov, V.4
Nogales, E.5
Lorenz, K.6
Alves, E.7
Ruffenach, S.8
Briot, O.9
-
6
-
-
61449184653
-
-
Bodiou L., Braud A., Doualan J. L., Moncorge R., Park J. H., Munasinghe C., Steckl A. J., Lorenz K., Alves E., Daudin B., J. Appl. Phys., 2009, 105, 043104
-
(2009)
J. Appl. Phys.
, vol.105
, pp. 043104
-
-
Bodiou, L.1
Braud, A.2
Doualan, J.L.3
Moncorge, R.4
Park, J.H.5
Munasinghe, C.6
Steckl, A.J.7
Lorenz, K.8
Alves, E.9
Daudin, B.10
-
7
-
-
33750612516
-
-
Sun Y., Ndifor-Angwafor N. G., Riley D. J., Ashfold M. N. R., Chem. Phys. Lett., 2006, 431, 352
-
(2006)
Chem. Phys. Lett.
, vol.431
, pp. 352
-
-
Sun, Y.1
Ndifor-Angwafor, N.G.2
Riley, D.J.3
Ashfold, M.N.R.4
-
8
-
-
54949103971
-
-
Xing G. Z., Yi J. B., Tao J. G., Liu T., Wong L. M., Zhang Z., Li G. P., Wang S. J., Ding J., Sum T. C., Huan C. H. A., Wu T., Adv. Mater., 2008, 20, 3521
-
(2008)
Adv. Mater.
, vol.20
, pp. 3521
-
-
Xing, G.Z.1
Yi, J.B.2
Tao, J.G.3
Liu, T.4
Wong, L.M.5
Zhang, Z.6
Li, G.P.7
Wang, S.J.8
Ding, J.9
Sum, T.C.10
Huan, C.H.A.11
Wu, T.12
-
9
-
-
37349092724
-
-
Yang J. H., Wang D. D., Yang L. L., Zhang Y. J., Lang J. H., Fan H. G., Gao M., Wang Y. X., J. Alloys Comp., 2008, 450, 508
-
(2008)
J. Alloys Comp.
, vol.450
, pp. 508
-
-
Yang, J.H.1
Wang, D.D.2
Yang, L.L.3
Zhang, Y.J.4
Lang, J.H.5
Fan, H.G.6
Gao, M.7
Wang, Y.X.8
-
10
-
-
25144462707
-
-
Özgür Ü., Alivov Y. I., Liu C., Teke A., Reshchikov M. A., Doǧan S., Avrutin V., Cho S. J., Morkoc H., J. Appl. Phys., 2005, 98, 041301
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.98
, pp. 041301
-
-
Özgür, Ü.1
Alivov, Y.I.2
Liu, C.3
Teke, A.4
Reshchikov, M.A.5
Doǧan, S.6
Avrutin, V.7
Cho, S.J.8
Morkoc, H.9
-
11
-
-
70249111282
-
-
Zhang X. M., Lu M. Y., Zhang Y., Chen L. J., Wang Z. L., Adv. Mater., 2009, 21, 1
-
(2009)
Adv. Mater.
, vol.21
, pp. 1
-
-
Zhang, X.M.1
Lu, M.Y.2
Zhang, Y.3
Chen, L.J.4
Wang, Z.L.5
-
12
-
-
0035827304
-
-
Huang M. H., Mao S., Feick H., Yan H. Q., Wu Y. Y., Kind H., Weber E., Russo R., Yang P. D., Science, 2001, 292, 1897
-
(2001)
Science
, vol.292
, pp. 1897
-
-
Huang, M.H.1
Mao, S.2
Feick, H.3
Yan, H.Q.4
Wu, Y.Y.5
Kind, H.6
Weber, E.7
Russo, R.8
Yang, P.D.9
-
15
-
-
67650329885
-
-
Xing G. Z., Yi J. B., Wang D. D., Liao L., Yu T., Shen Z. X., Huan C. H. A., Sum T. C., Ding J., Wu T., Phys. Rev. B, 2009, 79, 174406
-
(2009)
Phys. Rev. B
, vol.79
, pp. 174406
-
-
Xing, G.Z.1
Yi, J.B.2
Wang, D.D.3
Liao, L.4
Yu, T.5
Shen, Z.X.6
Huan, C.H.A.7
Sum, T.C.8
Ding, J.9
Wu, T.10
-
16
-
-
50849084134
-
-
Tan X. L., Wang X. K., Geckeis H., Rabung T. H., Environ. Sci. Technol., 2008, 42, 6532
-
(2008)
Environ. Sci. Technol.
, vol.42
, pp. 6532
-
-
Tan, X.L.1
Wang, X.K.2
Geckeis, H.3
Rabung, T.H.4
-
17
-
-
0002017381
-
-
Vercaemst R., Poelman D., Fiermans L., van Meirhaeghe R. L., Laflere W. H., Cardon F., J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom., 1995, 74, 45
-
(1995)
J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom.
, vol.74
, pp. 45
-
-
Vercaemst, R.1
Poelman, D.2
Fiermans, L.3
van Meirhaeghe, R.L.4
Laflere, W.H.5
Cardon, F.6
-
19
-
-
67349169504
-
-
Wang D. D., Yang J. H., Xing G. Z., Yang L. L., Lang J. H., Gao M., Wu T., J. Lumin., 2009, 129, 996
-
(2009)
J. Lumin.
, vol.129
, pp. 996
-
-
Wang, D.D.1
Yang, J.H.2
Xing, G.Z.3
Yang, L.L.4
Lang, J.H.5
Gao, M.6
Wu, T.7
-
20
-
-
55349139706
-
-
Wang D. D., Yang J. H., Yang L. L., Zhang Y. J., Lang J. H., Gao M., Cryst. Res. Technol., 2008, 43, 1041
-
(2008)
Cryst. Res. Technol.
, vol.43
, pp. 1041
-
-
Wang, D.D.1
Yang, J.H.2
Yang, L.L.3
Zhang, Y.J.4
Lang, J.H.5
Gao, M.6
-
21
-
-
80655130689
-
-
Li D., Leung Y. H., Djurisic A. B., Liu Z. T., Xie M. H., Shi S. L., Xu S. J., Chan W. K., Appl. Phys. Lett., 2004, 85, 160
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.85
, pp. 160
-
-
Li, D.1
Leung, Y.H.2
Djurisic, A.B.3
Liu, Z.T.4
Xie, M.H.5
Shi, S.L.6
Xu, S.J.7
Chan, W.K.8
-
22
-
-
34247877836
-
-
Sadhu S., Sen T., Patra A., Chem. Phys. Lett., 2007, 440, 121
-
(2007)
Chem. Phys. Lett.
, vol.440
, pp. 121
-
-
Sadhu, S.1
Sen, T.2
Patra, A.3
-
23
-
-
37549072206
-
-
Zeng X. Y., Yuan J. L., Wang Z. Y., Zhang L., Adv. Mater., 2007, 19, 4510
-
(2007)
Adv. Mater.
, vol.19
, pp. 4510
-
-
Zeng, X.Y.1
Yuan, J.L.2
Wang, Z.Y.3
Zhang, L.4
|