-
3
-
-
0032510134
-
-
Ebbesen, T. W.; Lezec, H. J.; Ghaemi, H. F.; Thio, T.; Wolff, P. A. Nature 1998, 391, 667.
-
(1998)
Nature
, vol.391
, pp. 667
-
-
Ebbesen, T.W.1
Lezec, H.J.2
Ghaemi, H.F.3
Thio, T.4
Wolff, P.A.5
-
4
-
-
0000021844
-
-
Ghaemi, H. F.; Thio, T.; Grupp, D. E.; Ebbesen, T. W.; Lezec, H. J. Phys. Rev. B 1998, 58, 6779.
-
(1998)
J. Phys. Rev. B
, vol.58
, pp. 6779
-
-
Ghaemi, H.F.1
Thio, T.2
Grupp, D.E.3
Ebbesen, T.W.4
Lezec, H.5
-
5
-
-
80054789569
-
-
Wood, R. W. Philos. Mag. (1798-1977) 1902, 4-396.
-
(1798)
Philos. Mag
, vol.1902
, pp. 4-396
-
-
Wood, R.W.1
-
6
-
-
0003811887
-
-
on Gratings; Höhler, G., Ed.; Springer Tracts in Modern Physics, Vol. 111; Springer Verlag: Berlin
-
Raether, H. In Surface Plasmons on Smooth, Rough Surfaces, on Gratings; Höhler, G., Ed.; Springer Tracts in Modern Physics, Vol. 111; Springer Verlag: Berlin, 1988.
-
(1988)
Surface Plasmons on Smooth, Rough Surfaces
-
-
Raether, H.1
-
7
-
-
0000026083
-
-
Watts, R. A.; Preist, T. W.; Sambles, J. R. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 3978.
-
(1997)
Phys. Rev. Lett.
, vol.79
, pp. 3978
-
-
Watts, R.A.1
Preist, T.W.2
Sambles, J.R.3
-
8
-
-
6144245370
-
-
Kitson, S. C.; Barnes, W. L.; Sambles, J. R. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 2670.
-
(1996)
Phys. Rev. Lett.
, vol.77
, pp. 2670
-
-
Kitson, S.C.1
Barnes, W.L.2
Sambles, J.R.3
-
11
-
-
0020833987
-
-
Glass, N. E.; Maradudin, A. A.; Celli, V. J. Opt. Soc. Am. 1983, 73, 1240.
-
(1983)
J. Opt. Soc. Am.
, vol.73
, pp. 1240
-
-
Glass, N.E.1
Maradudin, A.A.2
Celli, V.3
-
13
-
-
0001535216
-
-
Sobnack, M. B.; Tan, W. C.; Wanstall, N. P.; Preist, T. W.; Sambles, J. R. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 5667.
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.80
, pp. 5667
-
-
Sobnack, M.B.1
Tan, W.C.2
Wanstall, N.P.3
Preist, T.W.4
Sambles, J.R.5
-
14
-
-
33750602915
-
-
Popov, E.; Nevière, M.; Wenger, J.; Lenne, P.-F.; Rigneault, H.; Chaumet, P.; Bonod, N.; Dintinger, J.; Ebbesen, T. J. Opt. Soc. Am. A 2006, 23, 2342.
-
(2006)
J. Opt. Soc. Am. A
, vol.23
, pp. 2342
-
-
Popov, E.1
Nevière, M.2
Wenger, J.3
Lenne, P.-F.4
Rigneault, H.5
Chaumet, P.6
Bonod, N.7
Dintinger, J.8
Ebbesen, T.9
-
16
-
-
3242878340
-
-
Porto, J. A.; García-Vidal, F. J.; Pendry, J. B. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 2845.
-
(2845)
Phys. Rev. Lett
, vol.1999
, pp. 83
-
-
Porto, J.A.1
García-Vidal, F.J.2
Pendry, J.B.3
-
17
-
-
0034670775
-
-
Popov, E.; Nevière, M.; Enoch, S.; Reinisch, R. Phys. Rev. B 2000, 62, 16100.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.62
, pp. 16100
-
-
Popov, E.1
Nevière, M.2
Enoch, S.3
Reinisch, R.4
-
18
-
-
0035251449
-
-
Martín-Moreno, L.; García-Vidal, F. J.; Lezec, H. J.; Pellerin, K. M.; Thio, T.; Pendry, J. B.; Ebbesen, T. W. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 1114.
-
(2001)
Phys. Rev. Lett.
, vol.86
, pp. 1114
-
-
Martín-Moreno, L.1
García-Vidal, F.J.2
Lezec, H.J.3
Pellerin, K.M.4
Thio, T.5
Pendry, J.B.6
Ebbesen, T.W.7
-
20
-
-
0037011597
-
-
Degiron, A.; Lezec, H. J.; Barnes, W. L.; Ebbesen, T. W. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4327.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 4327
-
-
Degiron, A.1
Lezec, H.J.2
Barnes, W.L.3
Ebbesen, T.W.4
-
21
-
-
10844235545
-
-
van der Molen, K. L.; Segerink, F. B.; van Hulst, N. F.; Kuipers, L. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 4316.
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.85
, pp. 4316
-
-
van der Molen, K.L.1
Segerink, F.B.2
van Hulst, N.F.3
Kuipers, L.4
-
22
-
-
2942696453
-
-
Klein Koerkamp, K. J.; Enoch, S.; Segerink, F. B.; van Hulst, N. F.; Kuipers, L. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 183901.
-
(2004)
Phys. Rev. Lett.
, vol.92
, pp. 183901
-
-
Klein Koerkamp, K.J.1
Enoch, S.2
Segerink, F.B.3
van Hulst, N.F.4
Kuipers, L.5
-
23
-
-
77952029159
-
-
Garcia-Vidal, F. J.; Martin-Moreno, L.; Ebbesen, T. W.; Kuipers, L. Rev. Mod. Phys. 2010, 82, 729.
-
(2010)
Rev. Mod. Phys.
, vol.82
, pp. 729
-
-
Garcia-Vidal, F.J.1
Martin-Moreno, L.2
Ebbesen, T.W.3
Kuipers, L.4
-
24
-
-
78149449676
-
-
Rodrigo, S. G.; Mahboud, O.; Degiron, A.; Genet, C.; García-Vidal, F. J.; Martín-Moreno, L.; Ebbesen, T. W. Opt. Express 2010, 18, 23691.
-
(2010)
Opt. Express
, vol.18
, pp. 23691
-
-
Rodrigo, S.G.1
Mahboud, O.2
Degiron, A.3
Genet, C.4
García-Vidal, F.J.5
Martín-Moreno, L.6
Ebbesen, T.W.7
-
25
-
-
0035934780
-
-
Coyle, S.; Netti, M. C.; Baumberg, J. J.; Ghanem, M. A.; Birkin, P. R.; Bartlett, P. N.; Whittaker, D. M. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 176801.
-
(2001)
Phys. Rev. Lett.
, vol.87
, pp. 176801
-
-
Coyle, S.1
Netti, M.C.2
Baumberg, J.J.3
Ghanem, M.A.4
Birkin, P.R.5
Bartlett, P.N.6
Whittaker, D.M.7
-
26
-
-
34547564900
-
-
Cole, R. M.; Baumberg, J. J.; Garcia de Abajo, F. J.; Mahajan, S.; Abdelsalam, M.; Bartlett, P. N. Nano Lett. 2007, 7, 2094.
-
(2094)
Nano Lett
, vol.2007
-
-
Cole, R.M.1
Baumberg, J.J.2
Garcia de Abajo, F.J.3
Mahajan, S.4
Abdelsalam, M.5
Bartlett, P.N.6
-
27
-
-
70350014970
-
-
Vesseur, E. J. R.; García de Abajo, F. J.; Polman, A. Nano Lett. 2009, 9, 3147.
-
(2009)
Nano Lett
, vol.9
, pp. 3147
-
-
Vesseur, E.J.R.1
García de Abajo, F.J.2
Polman, A.3
-
28
-
-
47549086779
-
-
Fleischmann, M.; Hendra, P.; McQuillan, A. Chem. Phys. Lett. 1974, 26, 163.
-
(1974)
Chem. Phys. Lett.
, vol.26
, pp. 163
-
-
Fleischmann, M.1
Hendra, P.2
McQuillan, A.3
-
30
-
-
28144436289
-
-
Baumberg, J. J.; Kelf, T. A.; Sugawara, Y.; Cintra, S.; Abdelsalam, M. E.; Bartlett, P. N.; Russell, A. E. Nano Lett. 2005, 5, 2262.
-
(2005)
Nano Lett
, vol.5
, pp. 2262
-
-
Baumberg, J.J.1
Kelf, T.A.2
Sugawara, Y.3
Cintra, S.4
Abdelsalam, M.E.5
Bartlett, P.N.6
Russell, A.E.7
-
32
-
-
24944473986
-
-
Rigneault, H.; Capoulade, J.; Dintinger, J.; Wenger, J.; Bonod, N.; Popov, E.; Ebbesen, T. W.; Lenne, P.-F. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 117401.
-
(2005)
Phys. Rev. Lett.
, vol.95
, pp. 117401
-
-
Rigneault, H.1
Capoulade, J.2
Dintinger, J.3
Wenger, J.4
Bonod, N.5
Popov, E.6
Ebbesen, T.W.7
Lenne, P.-F.8
-
33
-
-
72849110526
-
-
Bär, S.; Chizhik, A.; Gutbrod, R.; Schleifenbaum, F.; Chizhik, A.; Meixner, A. J. Anal. Bioanal. Chem. 2010, 396, 3.
-
(2010)
J. Anal. Bioanal. Chem.
, vol.396
, pp. 3
-
-
Bär, S.1
Chizhik, A.2
Gutbrod, R.3
Schleifenbaum, F.4
Chizhik, A.5
Meixner, A.6
-
34
-
-
78149290647
-
-
Vesseur, E. J. R.; García de Abajo, F. J.; Polman, A. Phys. Rev. B 2010, 82, 165419.
-
(2010)
Phys. Rev. B
, vol.82
, pp. 165419
-
-
Vesseur, E.J.R.1
García de Abajo, F.J.2
Polman, A.3
-
35
-
-
0032657184
-
-
Hulteen, J. C.; Treichel, D. A.; Smith, M. T.; Duval, M. L.; Jensen, T. R.; Duyne, R. P. V. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 3854.
-
(1999)
J. Phys. Chem. B
, vol.103
, pp. 3854
-
-
Hulteen, J.C.1
Treichel, D.A.2
Smith, M.T.3
Duval, M.L.4
Jensen, T.R.5
Duyne, R.P.V.6
-
36
-
-
79958210045
-
-
Ditlbacher, H.; Krenn, J. R.; Schider, G.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 1762.
-
(1762)
Appl. Phys. Lett
, vol.2002
-
-
Ditlbacher, H.1
Krenn, J.R.2
Schider, G.3
Leitner, A.4
Aussenegg, F.R.5
-
37
-
-
11344268541
-
-
Matthias, S.; Müller, F.; Jamois, C.; Wehrspohn, R. B.; Gösele, U. Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 2004, 16, 2166.
-
(2004)
Adv. Mater. (Weinheim, Ger. )
, vol.16
, pp. 2166
-
-
Matthias, S.1
Müller, F.2
Jamois, C.3
Wehrspohn, R.B.4
Gösele, U.5
-
38
-
-
0032636883
-
-
Twelfth IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems; IEEE Publishing: New York
-
Laerme, F.; Schilp, A.; Funk, K.; Offenberg, M. Bosch deep silicon etching: improving uniformity and etch rate for advanced MEMS applications. Twelfth IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems; IEEE Publishing: New York, 1999; pp 211-216.
-
(1999)
Bosch deep silicon etching: improving uniformity and etch rate for advanced MEMS applications
, pp. 211-216
-
-
Laerme, F.1
Schilp, A.2
Funk, K.3
Offenberg, M.4
-
39
-
-
33748900042
-
-
Brieger, S.; Dubbers, O.; Fricker, S.; Manzke, A.; Pfahler, C.; Plettl, A.; Ziemann, P. Nanotechnology 2006, 17, 4991.
-
(2006)
Nanotechnology
, vol.17
, pp. 4991
-
-
Brieger, S.1
Dubbers, O.2
Fricker, S.3
Manzke, A.4
Pfahler, C.5
Plettl, A.6
Ziemann, P.7
-
40
-
-
34547243235
-
-
Manzke, A.; Pfahler, C.; Dubbers, O.; Plettl, A.; Ziemann, P.; Crespy, D.; Schreiber, E.; Ziener, U.; Landfester, K. Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 2007, 19, 1337.
-
(2007)
Adv. Mater. (Weinheim, Ger. )
, vol.19
, pp. 1337
-
-
Manzke, A.1
Pfahler, C.2
Dubbers, O.3
Plettl, A.4
Ziemann, P.5
Crespy, D.6
Schreiber, E.7
Ziener, U.8
Landfester, K.9
-
41
-
-
0000581078
-
-
Vasile, M. J.; Niu, Z.; Nassar, R.; Zhang, W.; Liu, S. J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., M eas., Phenom. 1997, 15, 2350.
-
(1997)
J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct. -Process., M eas., Phenom.
, vol.15
, pp. 2350
-
-
Vasile, M.J.1
Niu, Z.2
Nassar, R.3
Zhang, W.4
Liu, S.5
-
42
-
-
38049168664
-
-
Hofmann, C. E.; Vesseur, E. J. R.; Sweatlock, L. A.; Lezec, H. J.; de Abajo, F. J. G.; Polman, A.; Atwater, H. A. Nano Lett. 2007, 7, 3612.
-
(2007)
Nano Lett
, vol.7
, pp. 3612
-
-
Hofmann, C.E.1
Vesseur, E.J.R.2
Sweatlock, L.A.3
Lezec, H.J.4
de Abajo, F.J.G.5
Polman, A.6
Atwater, H.A.7
-
43
-
-
68149120318
-
-
Nagpal, P.; Lindquist, N. C.; Oh, S.-H.; Norris, D. J. Science 2009, 325, 594.
-
(2009)
J. Science
, vol.325
, pp. 594
-
-
Nagpal, P.1
Lindquist, N.C.2
Oh, S.-H.3
Norris, D.4
-
44
-
-
71049179498
-
-
Ferry, V. E.; Verschuuren, M. A.; Li, H. B. T.; Schropp, R. E. I.; Atwater, H. A.; Polman, A. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 183503.
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 183503
-
-
Ferry, V.E.1
Verschuuren, M.A.2
Li, H.B.T.3
Schropp, R.E.I.4
Atwater, H.A.5
Polman, A.6
-
45
-
-
77953830963
-
-
Ferry, V. E.; Verschuuren, M. A.; Li, H. B. T.; Verhagen, E.; Walters, R. J.; Schropp, R. E. I.; Atwater, H. A.; Polman, A. Opt. Express 2010, 18, A237.
-
(2010)
Opt. Express
, vol.18
-
-
Ferry, V.E.1
Verschuuren, M.A.2
Li, H.B.T.3
Verhagen, E.4
Walters, R.J.5
Schropp, R.E.I.6
Atwater, H.A.7
Polman, A.8
-
47
-
-
0019634645
-
-
Fischer, U. C.; Zingsheim, H. P. J. Vac. Sci. Technol. (N. Y., NY, U. S.) 1981, 19, 881.
-
(1981)
J. Vac. Sci. Technol. (N. Y., NY, U. S. )
, vol.19
, pp. 881
-
-
Fischer, U.C.1
Zingsheim, H.P.2
-
49
-
-
20744451267
-
-
Tan, B. J. Y.; Sow, C. H.; Koh, T. S.; Chin, K. C.; Wee, A. T. S.; Ong, C. K. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 11100.
-
(2005)
J. Phys. Chem. B
, vol.109
, pp. 11100
-
-
Tan, B.J.Y.1
Sow, C.H.2
Koh, T.S.3
Chin, K.C.4
Wee, A.T.S.5
Ong, C.K.6
-
51
-
-
58449084932
-
-
Landström, L.; Brodoceanu, D.; Bäuerle, D.; García-Vidal, F. J.; Rodrigo, S. G.; Martín-Moreno, L. Opt. Express 2009, 17, 761.
-
(2009)
Opt. Express
, vol.17
, pp. 761
-
-
Landström, L.1
Brodoceanu, D.2
Bäuerle, D.3
García-Vidal, F.J.4
Rodrigo, S.G.5
Martín-Moreno, L.6
-
52
-
-
77956672227
-
-
Ding, B.; Pemble, M. E.; Korovin, A. V.; Peschel, U.; Romanov, S. G. Phys. Rev. B 2010, 82, 035119.
-
(2010)
Phys. Rev. B
, vol.82
, pp. 035119
-
-
Ding, B.1
Pemble, M.E.2
Korovin, A.V.3
Peschel, U.4
Romanov, S.G.5
-
53
-
-
79959346083
-
-
Ding, B.; Pemble, M. E.; Korovin, A. V.; Peschel, U.; Romanov, S. G. Appl. Phys. A 2011, 103, 889.
-
(2011)
Appl. Phys. A
, vol.103
, pp. 889
-
-
Ding, B.1
Pemble, M.E.2
Korovin, A.V.3
Peschel, U.4
Romanov, S.G.5
-
54
-
-
0031947320
-
-
Xia, Y.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 1998, 37, 550.
-
(1998)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.37
, pp. 550
-
-
Xia, Y.1
Whitesides, G.M.2
-
55
-
-
5344241941
-
-
B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., M eas., Phenom
-
Chou, S. Y.; Krauss, P. R.; Renstrom, P. J. J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., M eas., Phenom. 1996, 14, 4129.
-
(1996)
J. Vac. Sci. Technol.
, vol.14
, pp. 4129
-
-
Chou, S.Y.1
Krauss, P.R.2
Renstrom, P.J.3
-
57
-
-
65549136138
-
-
Popov, E.; Enoch, S.; Bonod, N. Opt. Express 2009, 17, 6770.
-
(2009)
Opt. Express
, vol.17
, pp. 6770
-
-
Popov, E.1
Enoch, S.2
Bonod, N.3
-
58
-
-
43149103161
-
-
Teperik, T. V.; García de Abajo, F. J.; Borisov, A. G.; Abdelsalam, M.; Bartlett, P. N.; Sugawara, Y.; Baumberg, J. J. Nat. Photonics 2008, 2, 299.
-
(2008)
J. Nat. Photonics
, vol.2
, pp. 299
-
-
Teperik, T.V.1
García de Abajo, F.J.2
Borisov, A.G.3
Abdelsalam, M.4
Bartlett, P.N.5
Sugawara, Y.6
Baumberg, J.7
-
59
-
-
4544268028
-
-
Yanev, V.; Krischok, S.; Opitz, A.; Wurmus, H.; Schaefer, J.; Schwesinger, N.; Ahmed, S.-I.-U. Surf. Sci. 2004, 566-568, 1229.
-
(2004)
Surf. Sci.
, vol.566-568
, pp. 1229
-
-
Yanev, V.1
Krischok, S.2
Opitz, A.3
Wurmus, H.4
Schaefer, J.5
Schwesinger, N.6
Ahmed, S.-I.-U.7
-
63
-
-
40749163059
-
-
Perchec, J. L.; Quémerais, P.; Barbara, A.; Lopéz-Ríos, T. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 066408.
-
(2008)
Phys. Rev. Lett.
, vol.100
, pp. 066408
-
-
Perchec, J.L.1
Quémerais, P.2
Barbara, A.3
Lopéz-Ríos, T.4
-
64
-
-
66849111728
-
-
Kuttge, M.; García de Abajo, F. J.; Polman, A. Opt. Express 2009, 17, 10385.
-
(2009)
Opt. Express
, vol.17
, pp. 10385
-
-
Kuttge, M.1
García de Abajo, F.J.2
Polman, A.3
-
65
-
-
79952613072
-
-
Huang, F. M.; Wilding, D.; Speed, J. D.; Russell, A. E.; Bartlett, P. N.; Baumberg, J. J. Nano Lett. 2011, 11, 1221.
-
(2011)
J. Nano Lett.
, vol.11
, pp. 1221
-
-
Huang, F.M.1
Wilding, D.2
Speed, J.D.3
Russell, A.E.4
Bartlett, P.N.5
Baumberg, J.6
|