Collision induced complex formation following electron capture of SO 2-H2O complex interacting with argon atoms

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 115, Issue 33, 2011, Pages 9091-9096

  Tachikawa, Hiroto ^a  

^a HOKKAIDO UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AB INITIO MOLECULAR DYNAMICS; AR ATOM; ARGON ATOMS; COMPLEX ANIONS; COMPLEX FORMATIONS; ELECTRON CAPTURE; NEUTRAL COMPLEXES; REACTION DYNAMICS; REACTION MECHANISM; STABLE STRUCTURES;

ATOMS; ELECTRONS; IONS; MOLECULAR DYNAMICS; MOLECULAR OXYGEN; REACTION KINETICS; SULFUR;

SULFUR DIOXIDE;

EID: 80051862116     PISSN: 10895639     EISSN: 15205215     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp202778t     Document Type: Article

References (14)

1. Beard, K. V.; Bringi, V. N.; Thurai, M. Atmos. Res. 2010, 97, 395-415
2. Cheyns, K; Mertens, J.; Diels, J.; Smolders, E.; Springael, D. Environ. Pollut. 2010, 158, 1405-1411
3. Shukla, J. B.; Misra, A. K.; Naresh, R.; Chandr, P. Nonlinear Anal.: Real World Appl. 2010, 11, 2659-2668
4. Wang, X.-B.; Yang, X.; Nicholas, J. B.; Wang, L.-S. Science 2001, 294, 1322
5. Tarbuck, T. L.; Richmond, G. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 16806
6. Tarbuck, T. L.; Richmond, G. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 3256
7. Robertson, W. H.; Price, E. A.; Weber, J. M.; Shin, J.-W.; Weddle, G. H.; Johnson, M. A. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 6527
8. Woronowicz, E. A.; Robertson, W. H.; Weddle, G. H.; Johnson, M. A.; Myshakin, E. M.; Jordan, K. D. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 7086
9. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr. ; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision B.04; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
10. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Mennucci, B.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Caricato, M.; Li, X.; Hratchian, H. P.; Izmaylov, A. F.; Bloino, J.; Zheng, G.; Sonnenberg, J. L.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Montgomery, J. A., Jr. ; Peralta, J. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Rega, N.; Millam, N. J.; Klene, M.; Knox, J. E.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Zakrzewski, V. G.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, Ö.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cioslowski, J.; Fox, D. J. Gaussian 09, Revision A.1; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2009.
11. Tachikawa, H.; Orr-Ewing, A. J. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 11575
12. Tachikawa, H. J. Phys. Chem. A 2010, 114, 4951
13. Tachikawa, H. J. Phys. Chem. A 2010, 114, 4951
14. Kondo, S.; Hashimoto, K.; Tachikawa, H. Chem. Phys. Lett. 2006, 431, 45