Erratum: Reaction spectroscopy of frontier orbitals (The Journal of Physical Chemistry C (2011) 115:20 (10056−10062) DOI: 10.1021/jp1122147);Reaction spectroscopy of frontier orbitals

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 115, Issue 20, 2011, Pages 10056-10062

  Henzl, Jörg ^a   Morgenstern, Karina ^a  

^a LEIBNIZ UNIVERSITY HANNOVER   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

GOLD COMPOUNDS; MOLECULAR ORBITALS; MOLECULES; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; TEMPERATURE;

HIGHEST OCCUPIED MOLECULAR ORBITAL; INELASTIC ELECTRON TUNNELING; LOW-TEMPERATURE SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; LOWEST UNOCCUPIED MOLECULAR ORBITAL; REACTION SPECTROSCOPY; RECONSTRUCTED SURFACES; SCANNING TUNNELING SPECTROSCOPY; TRANSIENT POPULATION;

ELECTRON TUNNELING;

EID: 79959961879     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/acs.jpcc.0c00381     Document Type: Erratum

References (63)

1. Wagner, C.; Franke, R.; Fritz, T. Phys. Rev. B 2007, 75, 235432.
2. Schulze, G.; Franke, K. J.; Gagliardi, A.; Romano, G.; Lin, C. S.; Rosa, A. L.; Niehaus, T. A.; Frauenheim, Th.; Di Carlo, A.; Pecchia, A.; Pascual, J. I. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 136801.
3. Tao, C.; Sun, J.; Zhang, X.; Yamachika, R.; Wegner, D.; Bahri, Y.; Samsonidze, G.; Cohen, M. L.; Louie, S. G.; Tilley, T. D.; Segalman, R. A.; Crommie, M. F. Nano Lett. 2009, 9, 3963-3967.
4. Lu, X.; Grobis, M.; Khoo, K. H.; Louie, S. G.; Crommie, M. F. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 096802.
5. Lennartz, M. C.; Caciuc, V.; Atodiresei, N.; Karthäuser, S.; Blügel, S. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 066801.
6. Dujardin, G.; Walkup, R. E.; Avouris, Ph. Science 1992, 255, 1232-1235.
7. Alavi, A.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seidemann, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5372-5375.
8. For a review for processes induced on silicon surfaces, see Mayne, A. J.; Dujardin, G.; Comtet, G.; Riedel, D. Chem. Rev. 2006, 106, 4355-4378.
9. Komeda, T.; Kim, Y.; Fujita, Y.; Sainoo, Y.; Kawai, M. J. Chem. Phys. 2004, 120, 5347-5352.
10. Morgenstern, K.; Rieder, K.-H. Chem. Phys. Lett. 2002, 358, 250.
11. Morgenstern, K.; Rieder, K.-H. J. Chem. Phys. 2002, 116, 5746.
12. Kim, Y.; Komeda, T.; Kawai, M. Surf. Sci. 2002, 502-503, 7-11.
13. Komeda, T.; Kim, Y.; Kawai, M.; Persson, B. N. J.; Ueba, H. Science 2002, 295, 2055-2058.
14. Sainoo, Y.; Kim, Y.; Okawa, T.; Komeda, T.; Shigekawa, H.; Kawai, M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 246102.
15. Motobayashi, K.; Kim, Y.; Ueba, H.; Kawai, M. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 076101.
16. Hartley, G. S. Nature 1937, 140, 281-281.
17. Tamai, N.; Miyasaka, H. Chem. Rev. 2000, 100, 1875-1890.
18. Kobayashi, S.; Yokoyama, H.; Kamei, H. Chem. Phys. Lett. 1987, 138, 333-338.
19. Fujino, T.; Tahara, T. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 4203-4210.
20. Chang, C.-W.; Lu, Y.-C.; Wang, T.-T.; Diau, E.W.-G. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 10109-10118.
21. Zhang, C.; Du, M.-H.; Cheng, H.-P.; Zhang, X.-G.; Roitberg, A. E.; Krause, J. L. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 158301.
22. del Valle, M.; Gutierrez, R.; Tejedor, C.; Cuniberti, G. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 176-179.
23. Ichimura, K.; Oh, S.-K.; Nakagawa, M. Science 2000, 288, 1624-1626.
24. Kumar, A. S.; Ye, T.; Takami, T.; Yu, B.-C.; Flatt, A. K.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Nano Lett. 2008, 8, 1644-1648.
25. Monti, S.; Orlandi, G.; Palmieri, P. Chem. Phys. 1982, 71, 87-99.
26. Nägele, T.; Hoche, R.; Zinth, W.; Wachtveitl, J. Chem. Phys. Lett. 1997, 272, 489-495.
27. Conti, I.; Garavelli, M.; Orlandi, G.; Ciamician, G. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 5216-5230.
28. Tiberio, G.; Muccioli, L.; Berardi, R.; Zannoni, C. Chem- PhysChem 2010, 11, 1018-1028.
29. Henzl, J.; Mehlhorn, M.; Gawronski, H.; Rieder, K. H.; Morgenstern, K. Angew. Chem., Int. Ed. 2006, 45, 603-606.
30. Choi, B. Y.; Kahng, S. J.; Kim, S.; Kim, H.; Kim, H. W.; Song, Y. J.; Ihm, J.; Kuk, Y. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 156106.
31. Alemani, M.; Peters, M. V.; Hecht, S.; Rieder, K.-H.; Moresco, F.; Grill, L. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 14446-14447.
32. Henzl, J.; Bredow, Th.; Morgenstern, K. Chem. Phys. Lett. 2007, 435, 278.
33. Henzl, J.; Mehlhorn, M.; Morgenstern, K. Nanotechnology 2007, 18, 495502.
34. Morgenstern, K. Acc. Chem. Res. 2009, 42, 213.
35. Henzl, J.; Morgenstern, K. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 6035-6044.
36. Füchsel, G.; Klamroth, T.; Dokic, J.; Saalfrank, P. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 16337-16345.
37. McNellis, E.; Meyer, J.; Baghi, A. D.; Reuter, K. Phys. Rev. B 2009, 80, 35414.
38. McNellis, E.; Meyer, J.; Reuter, K. Phys. Rev. B 2009, 80, 205414.
39. Ovari, L.; Wolf, M.; Tegeder, P. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 15370-15374.
40. Hagen, S.; Leyssner, F.; Nandi, D.; Wolf, M.; Tegeder, P. Chem. Phys. Lett. 2007, 444, 85-90.
41. Hagen, S.; Kate, P.; Leyssner, F.; Nandi, D.; Wolf, M.; Tegeder, P. J. Chem. Phys. 2008, 129, 164102.
42. Piantek, M.; Miguel, J.; Krüger, A.; Navio, C.; Bernien, M.; Ball, D. K.; Hermann, K.; Kuch, W. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 20307-20315.
43. Wolf, M.; von Oppen, F., Eds. Appl. Phys. A 2008, 93, 241-364, special issue.
44. Ho, W. J. Chem. Phys. 2002, 117, 11033-11061.
45. Simic-Milosevic, V.; Mehlhorn, M.; Rieder, K.-H.; Meyer, J.; Morgenstern, K. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 116102.
46. Barth, J. V.; Brune, H.; Ertl, G.; Behm, R. J. Phys. Rev. B 1990, 42, 9307.
47. Voigtländer, B.; Meyer, G.; Amer, N. M. Phys. Rev. B 1991, 44, 10354.
48. Meyer, J. A.; Baike, I. D.; Kopatzki, E.; Behm, R. J. Surf. Sci. 1996, 365, L647.
49. Morgenstern, K.; Kibsgaard, J.; Lauritsen, J. V.; Lægsgaard, E.; Besenbacher, F. Surf. Sci. 2007, 601, 1967-1972.
50. Böhringer, M.; Morgenstern, K.; Schneider, W.-D.; Berndt, R. Angew. Chem. 1999, 111, 832-834;
51. Angew. Chem., Int. Ed. 1999, 38, 821-823.
52. Thomson, M.A. ArgusLab 4.0; Planaria Software, LCC: Seattle, WA, www.arguslab.com.
53. Gonzalez-Lakunza, N.; Canas-Ventura, M. E.; Ruffieux, P.; Rieger, R.; Müllen, K.; Fasel, R.; Arnau, A. ChemPhysChem 2009, 10, 2943-2946.
54. Lin, N.; Payer, D.; Dmitriev, A.; Strunskus, Th.; Wöll, Ch.; Barth, J. V.; Kern, K. Angew. Chem., Int. Ed. 2005, 44, 1488-1491.
55. Kühne, D.; Klappenberger, F.; Decker, F.; Schlickum, U.; Brune, H.; Klyatskaya, S.; Ruben, M.; Barth, J. V. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 3881-3883.
56. Lobo-Checa, J.; Matena, M.; Müller, K.; Dil, J. H.; Meier, F.; Gade, L. H.; Jung, T. A.; Stöhr, M. Science 2009, 325, 300-303.
57. Zoth, L. A.; Kirchner, Th.; Cuevas, J.-C.; Pauly, F.; Huhn, Th.; Scheer, E.; Erbe, A. Small 2010, 6, 1529-1535.
58. Trevor, D. J.; Chidsey, C. E. D. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 964-968.
59. Peale, D. R.; Cooper, B. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1992, 10, 2210-2215.
60. Rost, M. Phys. Rev. Lett. 2007, 99, 26610.
61. Antczak, G.; Ehrlich, G. Surface Diffusion; Cambridge University Press: New York, 2010; Chapter 5.
62. Gawronski, H.; Morgenstern, K.; Rieder, K.-H. Eur. Phys. J. D 2005, 35, 349.
63. Sprodowski, C.; Morgenstern, K. J. Phys.: Condens. Matter 2010, 22, 264005.