Investigating morphology and stability of fac-tris (2-phenylpyridyl) iridium(III) films for OLEDs

Advanced Functional Materials

Volumn 21, Issue 12, 2011, Pages 2225-2231

  Smith, Arthur R G ^a   Ruggles, Jeremy L ^a   Cavaye, Hamish ^a   Shaw, Paul E ^a   Darwish, Tamim A ^b   James, Michael ^b   Gentle, Ian R ^a   Burn, Paul L ^a,c  

^a UNIVERSITY OF QUEENSLAND   (Australia)

^b AUSTRALIAN NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY ORGANISATION   (Australia)

^c UNIVERSITY OF NEW SOUTH WALES   (Australia)

Author keywords

morphology; neutron reflectometry; optoelectronics; organic light emitting diodes; stability

Indexed keywords

BLEND RATIOS; BLENDED FILMS; CHEMICAL COMPOSITIONS; EMISSIVE LAYERS; HIGHER WEIGHT; IR(PPY)3; MULTILAYER STRUCTURES; NEUTRON REFLECTOMETRY; ORGANIC LIGHT-EMITTING; OUT-OF-PLANE; SMALL MOLECULES; STABLE FILMS; STRUCTURAL CHANGE; THERMAL-ANNEALING;

ANNEALING; BLENDING; FILM PREPARATION; IRIDIUM; IRIDIUM COMPOUNDS; LIGHT EMISSION; MORPHOLOGY; MULTILAYERS; NEUTRON DIFFRACTION; NEUTRON REFLECTION; ORGANIC LIGHT EMITTING DIODES (OLED); PHASE SEPARATION; REFLECTION; REFLECTOMETERS; THERMODYNAMIC STABILITY;

MULTILAYER FILMS;

EID: 79959499096     PISSN: 1616301X     EISSN: 16163028     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adfm.201002365     Document Type: Article

References (31)

1. C. W. Tang, S. A. VanSlyke, Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 913.
2. C. W. Tang, S. A. VanSlyke, C. H. Chen, J. Appl. Phys. 1989, 65, 3610.
3. A. C. Grimsdale, K. L. Chan, R. E. Martin, P. G. Jokisz, A. B. Holmes, Chem. Rev. 2009, 109, 897.
4. P. L. Burn, S.-C. Lo, I. D. W. Samuel, Adv. Mater. 2007, 19, 1675.
5. S.-C. Lo, P. L. Burn, Chem. Rev. 2007, 107, 1097.
6. M. A. Baldo, S. Lamansky, P. E. Burrows, M. E. Thompson, S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 4.
7. C. Adachi, M. A. Baldo, M. E. Thompson, S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 2001, 90, 5048.
8. L. Xiao, Z. Chen, B. Qu, J. Luo, S. Kong, Q. Gong, J. Kido, Adv. Mater. 2011, 23, 926.
9. M. Ikai, S. Tokito, Y. Sakamoto, T. Suzuki, Y. Taga, Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 156.
10. N. C. Giebink, B. W. D'Andrade, M. S. Weaver, J. J. Brown, S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 2009, 105, 124514.
11. V. Sivasubramaniam, F. Brodkorb, S. Hanning, O. Buttler, H. P. Loebl, V. van Elsbergen, H. Boerner, U. Scherf, M. Kreyenschmidt, Solid State Sci. 2009, 11, 1933.
12. J. Chang, Y.-J. Yu, J. H. Na, J. An, C. Im, D.-H. Choi, J.-I. Jin, S. H. Lee, Y. K. Kim, J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 2008, 46, 2395.
13. N. C. Giebink, B. W. D'Andrade, M. S. Weaver, P. B. Mackenzie, J. J. Brown, M. E. Thompson, S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 2008, 103, 044509.
14. F. So, D. Kondakov, Adv. Mater. 2010, 22, 3762.
15. A. Amassian, V. A. Pozdin, R. Li, D.-M. Smilgies, G. G. Malliaras, J. Mater. Chem. 2010, 20, 2623.
16. G. R. Webster, W. J. Mitchell, P. L. Burn, R. K. Thomas, G. Fragneto, J. P. J. Markham, I. D. W. Samuel, J. Appl. Phys. 2002, 91, 9066.
17. P. C. Jukes, S. J. Martin, A. M. Higgins, M. Geoghegan, R. A. L. Jones, S. Langridge, A. Wehrum, S. Kirchmeyer, Adv. Mater. 2004, 16, 807.
18. A. J. Parnell, A. D. F. Dunbar, A. J. Pearson, P. A. Staniec, A. J. C. Dennison, H. Hamamatsu, M. W. A. Skoda, D. G. Lidzey, R. A. L. Jones, Adv. Mater. 2010, 22, 2444.
19. W. J. Mitchell, P. L. Burn, R. K. Thomas, G. Fragneto, Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 2724.
20. W. J. Mitchell, P. L. Burn, R. K. Thomas, G. Fragneto, J. P. J. Markham, I. D. W. Samuel, J. Appl. Phys. 2004, 95, 2391.
21. S. V. Vickers, H. Barcena, K. A. Knights, R. K. Thomas, J. C. Ribierre, S. Gambino, I. D. W. Samuel, P. L. Burn, G. Fragneto, Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 263302.
22. H. Aziz, Z. D. Popovic, N.-X. Hu, Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 370.
23. S. Chung, J.-H. Lee, J. Jeong, J.-J. Kim, Y. Hong, Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 253302.
24. X. Zhou, J. He, L. S. Liao, M. Lu, X. M. Ding, X. Y. Hou, X. M. Zhang, X. Q. He, S. T. Lee, Adv. Mater. 2000, 12, 265.
25. A. Grundstein, V. Meentemeyer, J. Dowd, Int. J. Biometeorol. 2009, 53, 255.
26. W. Marty, T. Sigrist, D. Wyler, Am. J. Forensic. Med. Pathol. 2001, 22, 215.
27. J. H. Kwon, T. J. Park, W. S. Jeon, J. J. Park, Proc. SPIE 2007, 6828, 682802.
28. B. W. D'Andrade, S. R. Forrest, A. B. Chwang, Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3858.
29. M. James, A. Nelson, A. Brule, J. C. Schulz, J. Neutron Res. 2006, 14, 91
30. M. James, A. Nelson, S. A. Holt, T. Saerbeck, W. A. Hamilton, F. Klose, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. A 2011, 632, 112
31. A. Nelson, J. Appl. Crystallogr. 2006, 39, 273.