Optimum signal-to-noise ratio in off-axis integrated cavity output spectroscopy

Optics Letters

Volumn 36, Issue 7, 2011, Pages 1110-1112

  Dyroff, Christoph ^a  

^a KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION CELLS; EFFECTIVE ABSORPTION; INTEGRATED CAVITY OUTPUT SPECTROSCOPIES; MULTI-PASS; NEAR-IR; NOISE CHARACTERISTIC; OFF-AXIS; SIGNAL TO NOISE; TUNABLE DIODE LASER ABSORPTION SPECTROSCOPY; TUNABLE DIODE LASERS;

ABSORPTION; CHEMICAL SENSORS; SEMICONDUCTOR LASERS; SIGNAL TO NOISE RATIO;

ABSORPTION SPECTROSCOPY;

EID: 79956120791     PISSN: 01469592     EISSN: 15394794     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.36.001110     Document Type: Article

References (17)

1. J. B. Paul, L. Lapson, and J. G. Anderson, Appl. Opt. 40, 4904 (2001).
2. L. Menzel, A. A. Kosterev, R. F. Curl, F. K. Tittel, C. Gmachl, F. Capasso, D. L. Sivco, J. N. Baillargeon, A. L. Hutchinson, A. Y. Cho, and W. Urban, Appl. Phys. B 72, 859 (2001).
3. D. S. Baer, J. B. Paul, M. Gupta, and A. O'Keefe, Appl. Phys. B 75, 261 (2002).
4. D. Herriott, H. Kogelnik, and R. Kompfner, Appl. Opt. 3, 523 (1964).
5. J. B. McManus, P. L. Kebabian, and M. S. Zahniser, Appl. Opt. 34, 3336 (1995).
6. E. C. Richard, K. K. Kelly, R. H. Winkler, R. Wilson, T. L. Thompson, R. J. McLaughlin, A. L. Schmeltekopf, and A. F. Tuck, Appl. Phys. B 75, 183 (2002).
7. A. O'Keefe and A. G. Deacon, Rev. Sci. Instrum. 59, 2544 (1988).
8. A. O'Keefe, J. J. Scherer, and J. B. Paul, Chem. Phys. Lett. 307, 343 (1999).
9. E. J. Moyer, D. S. Sayres, G. S. Engel, J. M. St. Clair, F. N. Keutsch, N. T. Allen, J. H. Kroll, and J. G. Anderson, Appl. Phys. B 92, 467 (2008).
10. D. S. Sayres, E. J. Moyer, T. F. Hanisco, J. M. S. Clair, F. N. Keutsch, A. O'Brien, N. T. Allen, L. Lapson, J. N. Demusz, M. Rivero, T. Martin, M. Greenberg, C. Tuozzolo, G. S. Engel, J. H. Kroll, J. B. Paul, and J. G. Anderson, Rev. Sci. Instrum. 80, 044102 (2009).
11. Y. A. Bakhirkin, A. A. Kosterev, C. Roller, R. F. Curl, and F. K. Tittel, Appl. Opt. 43, 2257 (2004).
12. P. Werle and F. Slemr, Appl. Opt. 30, 430 (1991).
13. E. L. Dereniak and G. D. Boreman, Infrared Detectors and Systems (Wiley, 1996).
14. H. Fischer and M. Tacke, J. Opt. Soc. Am. B 8, 1824 (1991).
15. P. Werle, P. Mazzinghi, F. D'Amato, M. D. Rosa, K. Maurer, and F. Slemr, Spectrochim. Acta, Part A 60, 1685 (2004).
16. T. Gensty, W. Elsässer, and C. Mann, Opt. Express 13, 2032 (2005).
17. Y. Takagi, N. Kumazaki, M. Ishihara, K. Kasahara, A. Sugiyama, N. Akikusa, and T. Edamura, Electron. Lett. 44, 860 (2008).