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Volumn 2011, Issue 4, 2011, Pages

Transitions in a probabilistic interface growth model

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self affine roughness (theory)

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EID: 79955840145     PISSN: 17425468     EISSN: 17425468     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/1742-5468/2011/04/P04022     Document Type: Article
Times cited : (6)

References (21)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.