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Volumn 48, Issue 5, 2011, Pages 28-33

An odomoeter for Cpus

(2)  Keane, John a   Kim, Chris H a  

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CIRCUIT FAILURES; SWITCHING SPEED; WEAR AND TEAR;

EID: 79955592310     PISSN: 00189235     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/MSPEC.2011.5753241     Document Type: Article
Times cited : (31)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.