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Volumn 847, Issue 1, 2011, Pages 197-219

Topological defect formation from 2PI effective action techniques

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EID: 79951954516     PISSN: 05503213     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.nuclphysb.2011.01.024     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.