Si nanoparticles in SiO2 An atomic scale observation for optimization of optical devices

EPL

Volumn 87, Issue 2, 2009, Pages

  Talbot, E ^a   Larde R ^a   Gourbilleau, F ^b   Dufour, C ^b   Pareige, P ^a  

^a UNIVERSITÉ ET INSA DE ROUEN   (France)

^b Direction de la Recherche Fondamentale   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 79051469790     PISSN: 02955075     EISSN: 12864854     Source Type: Journal    
DOI: 10.1209/0295-5075/87/26004     Document Type: Article

References (29)

1. Pavesi L., Dal Negro L., Mazzoleni C., Franzo G. and Priolo F. 2000 Nature 408 440
2. Canham L. 2000 Nature 408 411
3. Polman A. 2002 Nat. Mater. 1 10
4. Fiori A. T. and Ravindra N. M. 2003 J. Electron. Mater. 32 1043
5. Tiwari S., Rana F., Hanafi H., Harstein A. and Crabbe E. F. 1996 Appl. Phys. Lett. 68 1377
6. Franzo G., Priolo F., Coffa S. and Polman A. 1994 Appl. Phys. Lett. 64 2235
7. Kenyon A. J., Trwoga P. F., Federighi M. and Pitt C. W. 1994 J. Phys.: Condens. Matter 6 L319
8. Fujii M., Yoshida M., Y. Kanzana M., Hayashi S. and Yamamoto K. 1997 Appl. Phys. Lett. 71 1198
9. Franzo G., Boninelli S., Pacifi D., Priolo F., Iacona F. and Bongiorno C. 2003 Appl. Phys. Lett. 82 3871
10. Daldosso N., Luppi M., Ossicini S., Degoli E., Magri R., Dalba G., Fornasini P., Grisenti R., Rocca F., Pavesi L., Boninelli S., Priolo F., Spinella C. and Iacona F. 2003 Phys. Rev. B 68 085327
11. Ternon C., Dufour C., Gourbilleau F. and Rizk R. 2004 Eur. Phys. J. B 41 325
12. Gourbilleau F., Levalois M., Dufour C., Vicens J. and Rizk R. 2004 J. Appl. Phys. 7 3717
13. Gourbilleau F., Dufour C., Madelon R. and Rizk R. 2007 J. Lumin. 126 581
14. Garrido B., Pellegrino P., Garcia C., Navarro-Urrios D., Daldosso N., Pavesi L., Goubilleau F. and Rizk R. 2006 Appl. Phys. Lett. 89 163103
15. Gourbilleau F., Portier X., Ternon C., Voivenel P., Madelon R. and Rizk R. 2001 Appl. Phys. Lett. 78 3058
16. Garrido B., Garcia C., Seo S.-Y., Pellegrino P., Navarro-Urrios D., Daldosso N., Pavesi L., Gourbilleau F. and Rizk R. 2007 Phys. Rev. B 76 245308
17. Kellogg G. and Tsong T. 1980 J. Appl. Phys. 51 1184
18. Cerezo A., Godfrey T. J and Smith G. D. W. 1988 Rev. Sci. Instrum. 59 862
19. Blavette D., Bostel A., Sarrau J. M., Deconihout B. and Menand A. 1993 Nature 363 432
20. Blavette D., Deconihout B., Bostel A., Sarrau J. M., Bouet M. and Menand A. 1993 Rev. Sci. Instrum. 64 2911
21. Miller M. K. 2000 Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level (Springer)
22. Gault B., Vurpillot F., Gilbert M., Vella A., Menand A., Blavette D. and Deconihout B. 2006 Rev. Sci. Instrum. 77 043705
23. Thomson G. B., Miller M. K. and Fraser H. L. 2004 Ultramicroscopy 100 25
24. Larson D. J., Foord D. R., Perford-Long A. K., Liew H., Blamire M. G., Cerezo A. and Smith G.D. W. 1999 Ultramicroscopy 79 287
25. Iacona F., Bongiorno C., Spinella C., Boninelli S. and Priolo F. 2004 J. Appl. Phys. 95 3723
26. Wang J., Wang X. F., Li Q., Hryciw A. and Meldrum A. 2007 Philos. Mag. 87 11
27. Miller M. K., Cerezo A., Hetherington M. G. and Smith G. D. W. 1996 Atom Probe Field Ion Microscopy ed Miller M. K. (Oxford: Clarendon)
28. Vurpillot F., Bostel A. and Blavette D. 2000 Appl. Phys. Lett. 76 3127
29. Blavette D., Vurpillot F., Pareige P. and Menand A. 2001 Ultramicroscopy 89 145