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Volumn 19, Issue 1, 2011, Pages 1-4

Guest editorial: Special issue on applied LPV modeling and identification

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EID: 78650835239     PISSN: 10636536     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/TCST.2010.2090416     Document Type: Editorial
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.