-
2
-
-
33947163005
-
-
Dionigi, C.; Stoliar, P.; Porzio, W.; Destri, S.; Cavallini, M.; Bilotti, I.; Brillante, A.; Biscarini, F. Langmuir 2007, 23, 2030-2036
-
(2007)
Langmuir
, vol.23
, pp. 2030-2036
-
-
Dionigi, C.1
Stoliar, P.2
Porzio, W.3
Destri, S.4
Cavallini, M.5
Bilotti, I.6
Brillante, A.7
Biscarini, F.8
-
3
-
-
63849201464
-
-
Perlich, J.; Memesa, M.; Diethert, A.; Metwalli, E.; Wang, W.; Roth, S. V.; Timmann, A.; Gutmann, J. S.; Müller-Buschbaum, P. ChemPhysChem 2009, 10, 799-805
-
(2009)
ChemPhysChem
, vol.10
, pp. 799-805
-
-
Perlich, J.1
Memesa, M.2
Diethert, A.3
Metwalli, E.4
Wang, W.5
Roth, S.V.6
Timmann, A.7
Gutmann, J.S.8
Müller-Buschbaum, P.9
-
4
-
-
69949137259
-
-
Lechmann, M. C.; Kessler, D.; Gutmann, J. S. Langmuir 2009, 25, 10202-10208
-
(2009)
Langmuir
, vol.25
, pp. 10202-10208
-
-
Lechmann, M.C.1
Kessler, D.2
Gutmann, J.S.3
-
5
-
-
77149177068
-
-
Tahk, D.; Kim, T.-I.; Yoon, H.; Moonkee, C.; Shin, K.; Suh, K. Y. Langmuir 2010, 26, 2240-2243
-
(2010)
Langmuir
, vol.26
, pp. 2240-2243
-
-
Tahk, D.1
Kim, T.-I.2
Yoon, H.3
Moonkee, C.4
Shin, K.5
Suh, K.Y.6
-
6
-
-
33748465385
-
-
Wolkenhauer, M.; Bumbu, G.-G.; Cheng, Y.; Roth, S. V.; Gutmann, J. S. Appl. Phys. Lett. 2006, 79, 054101
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.79
, pp. 054101
-
-
Wolkenhauer, M.1
Bumbu, G.-G.2
Cheng, Y.3
Roth, S.V.4
Gutmann, J.S.5
-
7
-
-
78650699734
-
-
Kim, S.; Jinschek, J. R.; Chen, H.; Scholl, D. S.; Marand, E. Nano Lett. 2007, 7, 2807-2811
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 2807-2811
-
-
Kim, S.1
Jinschek, J.R.2
Chen, H.3
Scholl, D.S.4
Marand, E.5
-
8
-
-
78650694053
-
-
Roth, S. V.; Rothkirch, A.; Autenrieth, T.; Gehrke, R.; Wroblewski, T.; Burghammer, M. C.; Riekel, C.; Schulz, L.; Hengstler, R.; Müeller- Buschbaum, P. Langmuir 2009.
-
(2009)
Langmuir
-
-
Roth, S.V.1
Rothkirch, A.2
Autenrieth, T.3
Gehrke, R.4
Wroblewski, T.5
Burghammer, M.C.6
Riekel, C.7
Schulz, L.8
Hengstler, R.9
Müeller-Buschbaum, P.10
-
9
-
-
84862832999
-
-
Kaune, G.; Ruderer, M. A.; Metwalli, E.; Wang, W.; Couet, S.; Schlage, K.; Röhlsberger, R.; Roth, S. V.; Müller-Buschbaum, P. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 353-360
-
(2009)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.1
, pp. 353-360
-
-
Kaune, G.1
Ruderer, M.A.2
Metwalli, E.3
Wang, W.4
Couet, S.5
Schlage, K.6
Röhlsberger, R.7
Roth, S.V.8
Müller-Buschbaum, P.9
-
10
-
-
33748741871
-
-
Schürmann, U.; Takele, H.; Zaporojtchenko, V.; Faupel, F. Thin Solid Films 2006, 515, 801-804
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.515
, pp. 801-804
-
-
Schürmann, U.1
Takele, H.2
Zaporojtchenko, V.3
Faupel, F.4
-
11
-
-
30744438294
-
-
Roth, S. V.; Walter, H.; Burghammer, M.; Riekel, C.; Lengeler, B.; Schroer, C.; Kuhlmann, M.; Walther, T.; Sehrbrock, A.; Domnick, R.; Müller-Buschbaum, P. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 021910
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.88
, pp. 021910
-
-
Roth, S.V.1
Walter, H.2
Burghammer, M.3
Riekel, C.4
Lengeler, B.5
Schroer, C.6
Kuhlmann, M.7
Walther, T.8
Sehrbrock, A.9
Domnick, R.10
Müller-Buschbaum, P.11
-
12
-
-
42449147923
-
-
Metwalli, E.; Couet, S.; Schlage, K.; Röhlsberger, R.; Körstgens, V.; Ruderer, M. A.; Wang, W.; Kaune, G.; Roth, S. V.; Müller-Buschbaum, P. Langmuir 2008, 24, 4265-4272
-
(2008)
Langmuir
, vol.24
, pp. 4265-4272
-
-
Metwalli, E.1
Couet, S.2
Schlage, K.3
Röhlsberger, R.4
Körstgens, V.5
Ruderer, M.A.6
Wang, W.7
Kaune, G.8
Roth, S.V.9
Müller-Buschbaum, P.10
-
13
-
-
79956047146
-
-
Okuda, H.; Ochiai, S.; Ito, K.; Amemiya, Y. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2358-2360
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.81
, pp. 2358-2360
-
-
Okuda, H.1
Ochiai, S.2
Ito, K.3
Amemiya, Y.4
-
14
-
-
1442283814
-
-
Siegal, M. P.; Yelton, W. G.; Overmeyer, D. L.; Provencio, P. P. Langmuir 2004, 20, 1194-1198
-
(2004)
Langmuir
, vol.20
, pp. 1194-1198
-
-
Siegal, M.P.1
Yelton, W.G.2
Overmeyer, D.L.3
Provencio, P.P.4
-
15
-
-
54549116940
-
-
Röder, J.; Faupel, J.; Krebs, H.-U. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Processing 2008, 93, 863-867
-
(2008)
Appl. Phys. A: Mater. Sci. Processing
, vol.93
, pp. 863-867
-
-
Röder, J.1
Faupel, J.2
Krebs, H.-U.3
-
17
-
-
0034620336
-
-
Xia, S. J.; Liu, G.; Birss, V. I. Langmuir 2000, 16, 1379-1387
-
(2000)
Langmuir
, vol.16
, pp. 1379-1387
-
-
Xia, S.J.1
Liu, G.2
Birss, V.I.3
-
18
-
-
33748254541
-
-
Frömsdorf, A.; Capek, R.; Roth, S. V. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 15166-15171
-
(2006)
J. Phys. Chem. B
, vol.110
, pp. 15166-15171
-
-
Frömsdorf, A.1
Capek, R.2
Roth, S.V.3
-
19
-
-
34548389788
-
-
Roth, S. V.; Autenrieth, T.; Gruebel, G.; Riekel, C.; Burghammer, M.; Hengstler, R.; Schulz, L.; Müller-Buschbaum, P. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 091915
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.91
, pp. 091915
-
-
Roth, S.V.1
Autenrieth, T.2
Gruebel, G.3
Riekel, C.4
Burghammer, M.5
Hengstler, R.6
Schulz, L.7
Müller-Buschbaum, P.8
-
20
-
-
42449084582
-
-
Shah, S. A.; Nag, M.; Kalagara, T.; S., S.; Manorama, S. V. Chem. Mater. 2008, 20, 2455-2460
-
(2008)
Chem. Mater.
, vol.20
, pp. 2455-2460
-
-
Shah, S.A.1
Nag, M.2
Kalagara, T.3
Manorama, S.V.4
-
21
-
-
34548425864
-
-
Biswas, B.; Karulkar, P.; Eilers, H.; Norton, M.; Skorski, D.; Davitt, C.; Greve, H.; Schürmann, U.; Zaporojtchenko, V.; Faupel, F. Vac. Technol. Coat. 2006, 54-59
-
(2006)
Vac. Technol. Coat.
, pp. 54-59
-
-
Biswas, B.1
Karulkar, P.2
Eilers, H.3
Norton, M.4
Skorski, D.5
Davitt, C.6
Greve, H.7
Schürmann, U.8
Zaporojtchenko, V.9
Faupel, F.10
-
22
-
-
60749101893
-
-
Park, S.; Lee, D. H.; Xu, J.; Kim, B.; Hong, S.; Jeong, U.; Xu, T.; Russell, T. P. Science 2009, 323, 1030-1033
-
(2009)
Science
, vol.323
, pp. 1030-1033
-
-
Park, S.1
Lee, D.H.2
Xu, J.3
Kim, B.4
Hong, S.5
Jeong, U.6
Xu, T.7
Russell, T.P.8
-
23
-
-
77953957215
-
-
Kaune, G.; Memesa, M.; Ruderer, M.; Diethert, A.; Roth, S. V.; D'Acunzi, M.; Gutmann, J. S.; Müeller-Buschbaum, P. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 2862-2869
-
(2009)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.1
, pp. 2862-2869
-
-
Kaune, G.1
Memesa, M.2
Ruderer, M.3
Diethert, A.4
Roth, S.V.5
D'Acunzi, M.6
Gutmann, J.S.7
Müeller-Buschbaum, P.8
-
24
-
-
0033733568
-
-
Xia, Y.; Gates, B.; Yin, Y.; Lu, Y. Adv. Mater. 2000, 12, 693-713
-
(2000)
Adv. Mater.
, vol.12
, pp. 693-713
-
-
Xia, Y.1
Gates, B.2
Yin, Y.3
Lu, Y.4
-
25
-
-
33747860187
-
-
Roth, S. V.; Döhrmann, R.; Dommach, M.; Kuhlmann, M.; Kröger, I.; Gehrke, R.; Walter, H.; Schroer, C.; Lengeler, B.; Müller-Buschbaum, P. Rev. Sci. Instrum. 2006, 77, 085106
-
(2006)
Rev. Sci. Instrum.
, vol.77
, pp. 085106
-
-
Roth, S.V.1
Döhrmann, R.2
Dommach, M.3
Kuhlmann, M.4
Kröger, I.5
Gehrke, R.6
Walter, H.7
Schroer, C.8
Lengeler, B.9
Müller-Buschbaum, P.10
-
26
-
-
54749128226
-
-
Couet, S.; Diederich, T.; Schlage, K.; Röhlsberger, R. Rev. Sci. Instrum. 2008, 79, 093908
-
(2008)
Rev. Sci. Instrum.
, vol.79
, pp. 093908
-
-
Couet, S.1
Diederich, T.2
Schlage, K.3
Röhlsberger, R.4
-
28
-
-
33846041352
-
-
Walter, H.; Bauer, G.; Domnick, R.; Jakopic, G.; Leitner, A. Opt. Eng. 2006, 45, 103801
-
(2006)
Opt. Eng.
, vol.45
, pp. 103801
-
-
Walter, H.1
Bauer, G.2
Domnick, R.3
Jakopic, G.4
Leitner, A.5
|