Erratum: Surface Plasmon-Enhanced Fluorescence Spectroscopy on Silver Based SPR Substrates (J. Phys. Chem. C (2010) 114:51 (22582−22589) DOI: 10.1021/jp107402r);Surface plasmon-enhanced fluorescence spectroscopy on silver based SPR substrates

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 114, Issue 51, 2010, Pages 22582-22589

  Touahir, Larbi ^a   Jenkins, A Tobias A ^b   Boukherroub, Rabah ^c   Gouget Laemmel, Anne Chantal ^a   Chazalviel, Jean Noël ^a   Peretti, Jacques ^a   Ozanam, François ^a   Szunerits, Sabine ^c,d  

^a LABORATOIRE DE PHYSIQUE DE LA MATIÈRE CONDENSÉE   (France)

^b University of Bath Claverton Down   (United Kingdom)

^c CNRS   (France)

^d INSTITUT D ELECTRONIQUE   (France)

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AMORPHOUS FILMS; AMORPHOUS SILICON; BINDING ENERGY; DNA; FLUORESCENCE; FLUORESCENCE SPECTROSCOPY; INTERFACES (MATERIALS); SILICON ALLOYS; SILVER;

LANGMUIRS; METAL-FILMS; SILICON CARBON ALLOYS; SILVER LAYER; SURFACE PLASMON ENHANCED FLUORESCENCE; SURFACE PLASMON RESONANCE SENSING; SURFACE-PLASMON; SURFACE-PLASMON RESONANCE; THICK LAYERS; THIN-FILMS;

SURFACE PLASMON RESONANCE;

EID: 78650613859     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/acs.jpcc.4c02679     Document Type: Erratum

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