Photoelectron imaging and theoretical studies of group 11 cyanides MCN (M = Cu, Ag, Au)

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 114, Issue 49, 2010, Pages 12839-12844

  Wu, Xia ^a   Qin, Zhengbo ^a   Xie, Hua ^a   Cong, Ran ^a   Wu, Xiaohu ^a   Tang, Zichao ^a   Fan, Hongjun ^a  

^a DALIAN INSTITUTE OF CHEMICAL PHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BOND PROPERTIES; BOND STRENGTH; FREE ATOMS; HARMONIC FREQUENCY; PHOTO-DETACHMENT; PHOTOELECTRON IMAGING; RELATIVISTIC EFFECTS; SINGLE BOND; STRETCHING MODES; STRUCTURE ANALYSIS; THEORETICAL STUDY; VELOCITY-MAP IMAGING; VIBRATIONAL PROGRESSIONS;

ELECTRONIC STRUCTURE; NEGATIVE IONS; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; PHOTONS; SILVER;

CYANIDES;

EID: 78650167365     PISSN: 10895639     EISSN: 15205215     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp1013708     Document Type: Article

References (33)

1. Zhdanov, G. S.; Shugam, E. A. Zh. Fiz. Khim. 1945, 19, 519
2. Hibble, S. J.; Cheyne, S. M.; Hannon, A. C.; Eversfield, S. G. Inorg. Chem. 2002, 41, 1042
3. Hibble, S. J.; Hannon, A. C.; Cheyne, S. M. Inorg. Chem. 2003, 42, 4724
4. Bowmaker, G. A.; Kennedy, B. J.; Reid, J. C. Inorg. Chem. 1998, 37, 3968
5. Boldyrev, A. I.; Li, X.; Wang, L. S. J. Chem. Phys. 2000, 112, 3627
6. Grotjahn, D. B.; Brewster, M. A.; Ziurys, L. M. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5895
7. Okabayashi, T.; Okabayashi, E. Y.; Koto, F.; Ishida, T.; Tanimoto, M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 11712
8. Nelin, C. J.; Bagus, P. S.; Philpott, M. R. J. Chem. Phys. 1987, 87, 2170
9. Veldkamp, A.; Frenking, G. Organometallics 1993, 12, 4613
10. Seminario, J. M.; Zacarias, A. G.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 411
11. Dietz, O.; Rayon, V. M.; Frenking, G. Inorg. Chem. 2003, 42, 4977
12. Lee, D. K.; Lim, I. S.; Lee, Y. S.; Hagebaum-Reignier, D.; Jeung, G. H. J. Chem. Phys. 2007, 126, 244313
13. Zaleski-Ejgierd, P.; Patzschke, M.; Pyykkö, P. J. Chem. Phys. 2008, 128, 224303
14. Wang, X. B.; Wang, Y. L.; Yang, J.; Xing, X. P.; Li, J.; Wang, L. S. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 16368
15. Wu, X.; Qin, Z.; Xie, H.; Tang, Z. Chin. J. Chem. Phys. 2010, 23, 373
16. Wiley, W. C.; McLaren, I. H. Rev. Sci. Instrum. 1955, 26, 1150
17. Eppink, A.; Parker, D. H. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 3477
18. Osterwalder, A.; Nee, M. J.; Zhou, J.; Neumark, D. M. J. Chem. Phys. 2004, 121, 6317
19. Dribinski, V.; Ossadtchi, A.; Mandelshtam, V. A.; Reisler, H. Rev. Sci. Instrum. 2002, 73, 2634
20. Werner, H. J.; Knowles, P. J.; Lindh, R.; Manby, F. R.; Schütz, M.; Celani, P.; Korona, T.; Rauhut, G.; Amos, R. D.; Bernhardsson, A.; Berning, A.; Cooper, D. L.; Deegan, M. J. O.; Dobbyn, A. J.; Eckert, F.; Hampel, C.; Hetzer, G.; Lloyd, A. W.; McNicholas, S. J.; Meyer, W.; Mura, M. E.; Nicklass, A.; Palmieri, P.; Pitzer, R.; Schumann, U.; Stoll, H.; Stone, A. J.; Tarroni, R.; Thorsteinsson, T. MOLPRO, version 2006.1; Cardiff University: United Kingdom, 2006.
21. Dunning, T. H. J. Chem. Phys. 1989, 90, 1007
22. Kendall, R. A.; Dunning, T. H.; Harrison, R. J. J. Chem. Phys. 1992, 96, 6796
23. Woon, D. E.; Dunning, T. H. J. Chem. Phys. 1993, 98, 1358
24. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 1372
25. Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1988, 37, 785
26. Foster, J. P.; Weinhold, F. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 7211
27. Becke, A. D. Phys. Rev. A 1988, 38, 3098
28. Baerends, E. J.; Ziegler, T.; Autschbach, J.; Bashford, D.; Bérces, A.; Bickelhaupt, F. M.; Bo, C.; Boerrigter, P. M.; Cavallo, L.; Chong, D. P.; Deng, L.; Dickson, R. M.; Ellis, D. E.; van Faassen, M.; Fan, L.; Fischer, T. H.; Fonseca Guerra, C.; Ghysels, A.; Giammona, A.; van Gisbergen, S. J. A.; Götz, A. W.; Groeneveld, J. A.; Gritsenko, O. V.; Grüning, M.; Gusarov, S.; Harris, F. E.; van den Hoek, P.; Jacob, C. R.; Jacobsen, H.; Jensen, L.; Kaminski, J. W.; van Kessel, G.; Kootstra, F.; Kovalenko, A.; Krykunov, M. V.; van Lenthe, E.; McCormack, D. A.; Michalak, A.; Mitoraj, M.; Neugebauer, J.; Nicu, V. P.; Noodleman, L.; Osinga, V. P.; Patchkovskii, S.; Philipsen, P. H. T.; Post, D.; Pye, C. C.; Ravenek, W.; Rodríguez, J. I.; Ros, P.; Schipper, P. R. T.; Schreckenbach, G.; Seldenthuis, J. S.; Seth, M.; Snijders, J. G.; Solà, M.; Swart, M.; Swerhone, D.; te Velde, G.; Vernooijs, P.; Versluis, L.; Visscher, L.; Visser, O.; Wang, F.; Wesolowski, T. A.; van Wezenbeek, E. M.; Wiesenekker, G.; Wolff, S. K.; Woo, T. K.; Yakovlev, A. L. ADF2007.01. SCM Theoretical Chemistry; Vrije Universiteit: Amsterdam, The Netherlands, 2007.
29. Te Velde, G.; Bickelhaupt, F. M.; Baerends, E. J.; Guerra, C. F.; Van Gisbergen, S. J. A.; Snijders, J. G.; Ziegler, T. J. Comput. Chem. 2001, 22, 931
30. Tripathi, U. M.; Bauer, A.; Schmidbaur, H. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 1997, 2865
31. Cordero, B.; Gómez, V.; Platero-Prats, A. E.; Revés, M.; Echeverría, J.; Cremades, E.; Barragán, F.; Alvarez., S. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 2008, 2832
32. Pyykkö, P.; Atsumi, M. Chem.-Eur. J. 2009, 15, 12770
33. Liao, M. S.; Schwarz, W. H. E. Acta Cryst. B 1994, 50, 9