Backscatter measurements for NIF ignition targets

Review of Scientific Instruments

Volumn 81, Issue 10, 2010, Pages

  Moody, J D ^a   Datte, P ^a   Krauter, K ^a   Bond, E ^a   Michel, P A ^a   Glenzer, S H ^a   Divol, L ^a   Niemann, C ^b   Suter, L ^a   Meezan, N ^a   MacGowan, B J ^a   Hibbard, R ^a   London, R ^a   Kilkenny, J ^a   Wallace, R ^a   Kline, J L ^c   Knittel, K ^a   Frieders, G ^a   Golick, B ^a   Ross, G ^a   Widmann, K ^a   Jackson, J ^a   Vernon, S ^a   Clancy, T ^a   more..

^a LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^c LOS ALAMOS NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BACKSCATTERED LIGHT; BACKSCATTERED POWER; HOHLRAUMS; IGNITION TARGETS; LASER-PLASMA INSTABILITIES; SCATTERED LIGHT; SPATIAL IMAGES; STIMULATED BRILLOUIN; STIMULATED RAMAN; TEMPORALLY RESOLVED; TIME-RESOLUTION; TWO BEAMS;

ELECTROMAGNETIC FIELDS; LASER FUSION; MAGNETIC FIELD EFFECTS; PLASMA DIAGNOSTICS;

BACKSCATTERING;

EID: 78149421509     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3491035     Document Type: Conference Paper

References (16)

1. S. H. Glenzer, B. J. MacGowan, P. Michel, N. B. Meezan, L. J. Suter, S. N. Dixit, J. L. Kline, G. A. Kyrala, D. K. Bradley, D. A. Callahan, E. L. Dewald, L. Divol, E. Dzenitis, M. J. Edwards, A. V. Hamza, C. A. Haynam, D. E. Hinkel, D. H. Kalantar, J. D. Kilkenny, O. L. Landen, J. D. Lindl, S. LePape, J. D. Moody, A. Nikroo, T. Parham, M. B. Schneider, R. P. J. Town, P. Wegner, K. Widmann, P. Whitman, B. K. F. Young, B. Van Wonterghem, L. J. Atherton, and E. I. Moses, Science SCIEAS 0036-8075 327, 1228 (2010). 10.1126/science.1185634
2. E. I. Moses and C. I. Wuest, Fusion Sci. Technol. FSTUCY 1536-1055 47, 314 (2005).
3. J. D. Lindl, Phys. Plasmas PHPAEN 1070-664X 2, 3933 (1995). 10.1063/1.871025
4. S. W. Haan, S. M. Pollaine, J. D. Lindl, L. J. Suter, R. L. Berger, L. V. Powers, W. E. Alley, P. A. Amendt, J. A. Futterman, W. K. Levedahl, M. D. Rosen, D. P. Rowley, R. A. Sacks, A. I. Shestakov, G. L. Strobel, M. Tabak, S. V. Weber, and G. B. Zimmerman, Phys. Plasmas PHPAEN 1070-664X 2, 2480 (1995). 10.1063/1.871209
5. R. K. Kirkwood, C. A. Back, M. A. Blain, D. E. Desenne, A. G. Dulieu, S. H. Glenzer, B. J. MacGowan, D. S. Montgomery, and J. D. Moody, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 68, 636 (1997). 10.1063/1.1147671
6. J. M. Soures, R. L. McCrory, C. P. Verdon, A. Babushkin, R. E. Bahr, T. R. Boehly, R. Boni, D. K. Bradley, D. L. Brown, R. S. Craxton, J. A. Delettrez, W. R. Donaldson, R. Epstein, P. A. Jaanimagi, S. D. Jacobs, K. Kearney, R. L. Keck, J. H. Kelly, T. J. Kessler, R. L. Kremens, J. P. Knauer, S. A. Kumpan, S. A. Letzring, D. J. Lonobile, S. J. Loucks, L. D. Lund, F. J. Marshall, P. W. McKenty, D. D. Meyerhofer, S. F. B. Morse, A. Okishev, S. Papernov, G. Pien, W. Seka, R. Short, M. J. Shoup, M. Skeldon, S. Skupsky, A. W. Schmid, D. J. Smith, S. Swales, M. Wittman, and B. Yaakobi, Phys. Plasmas PHPAEN 1070-664X 3, 2108 (1996). 10.1063/1.871662
7. P. Neumayer, C. Sorce, D. H. Froula, L. Divol, V. Rekow, K. Loughman, R. Knight, S. H. Glenzer, R. Bahr, and W. Seka, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 79, 10F548 (2008). 10.1063/1.2953413
8. D. H. Froula, D. Bower, M. Chrisp, S. Grace, J. H. Kamperschroer, T. M. Kelleher, R. K. Kirkwood, B. MacGowan, T. McCarville, N. Sewall, F. Y. Shimamoto, S. J. Shiromizu, B. Young, and S. H. Glenzer, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 75, 4168 (2004). 10.1063/1.1789592
9. D. E. Bower, T. J. McCarville, S. S. Alvarez, L. E. Ault, M. D. Brown, M. P. Chrisp, C. M. Damian, W. J. DeHope, D. H. Froula, S. H. Glenzer, S. E. Grace, K. Gu, F. R. Holdener, C. K. Huffer, J. H. Kamperschroer, T. M. Kelleher, J. R. Kimbrough, R. Kirkwood, D. W. Kurita, A. P. Lee, F. D. Lee, I. T. Lewis, F. J. Lopez, B. J. MacGowan, M. W. Poole, M. A. Rhodes, M. B. Schneider, N. R. Sewall, F. Y. Shimamoto, S. J. Shiromizu, D. Voloshin, A. L. Warrick, C. R. Wendland, and B. K. Young, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 75, 4177 (2004). 10.1063/1.1791749
10. R. K. Kirkwood, T. Mccarville, D. H. Froula, B. Young, D. Bower, N. Sewall, C. Niemann, M. Schneider, J. Moody, G. Gregori, F. Holdener, M. Chrisp, B. J. MacGowan, S. H. Glenzer, and D. S. Montgomery, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 75, 4174 (2004). 10.1063/1.1789593
11. A. J. Mackinnon, T. McCarville, K. Piston, C. Niemann, G. Jones, I. Reinbachs, R. Costa, J. Celeste, G. Holtmeier, R. Griffith, R. Kirkwood, B. MacGowan, S. H. Glenzer, and M. R. Latta, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 75, 4183 (2004). 10.1063/1.1789594
12. A. J. Mackinnon, C. Niemann, K. Piston, G. Holtmeier, T. McCarville, G. Jones, I. Reinbachs, R. Costa, J. Celeste, R. Grifth, R. K. Kirkwood, B. J. MacGowan, and S. H. Glenzer, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 77, 10E529 (2006). 10.1063/1.2336466
13. D. S. Montgomery and R. P. Johnson, Rev. Sci. Instrum. RSINAK 0034-6748 72, 979 (2001). 10.1063/1.1319603
14. Electro-Optics Technology, Inc., 5835 Shugart Lane, Traverse City, MI. 49684 USA, Tel.: +1 231 935 4044, FAX: +1 231 935 4046, US Free: 800-697-6782, Electronic mail: sales@eotech.com, www.eotech.com.
15. Advanced Thin Films, 5733 Central Avenue, Boulder, CO 80301, Tel.: 303-815-1545, FAX: 720-652-9948, http://www.atfilms.com.
16. See: http://www.newport.com/Pencil-Style-Calibration-Lamps/377846/1033/ catalog.aspx for example.