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Volumn 172, Issue 2, 2010, Pages 159-

Focal issue on hybrid imaging

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ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CRYOELECTRON MICROSCOPY; EDITORIAL; HIPPOCAMPUS; IMAGING; MASS SPECTROMETRY; MICROSCOPY; PRIORITY JOURNAL; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 77957941761     PISSN: 10478477     EISSN: 10958657     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jsb.2010.09.014     Document Type: Editorial
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.