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Volumn 82, Issue 6, 2010, Pages

Thickness-dependent twinning evolution and ferroelectric behavior of epitaxial BiFeO3 (001) thin films

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EID: 77957560996     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.82.064108     Document Type: Article
Times cited : (35)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.