|
Volumn 86, Issue 9, 2010, Pages 80-83
|
Possibilities of increasing of reliability of the measuring device by code control measure and modern information technology;Możliwości zwiȩkszania niezawodności metrologicznej przyrza̧dów pomiarowych z zastosowaniem wzorców miar sterowanych kodowo oraz nowoczesnych technologii informacyjnych
|
Author keywords
Code control measure; Error model; Inverse commutating (flip flop) method; Metrological reliability
|
Indexed keywords
|
EID: 77956118734
PISSN: 00332097
EISSN: None
Source Type: Journal
DOI: None Document Type: Article |
Times cited : (1)
|
References (12)
|