Charge writing at the LaAlO3/SrTiO3 surface

Nano Letters

Volumn 10, Issue 7, 2010, Pages 2588-2591

  Xie, Yanwu ^a,b   Bell, Christopher ^a,c   Yajima, Takeaki ^a   Hikita, Yasuyuki ^a   Hwang, Harold Y ^a,c  

^a UNIVERSITY OF TOKYO   (Japan)

^b YANSHAN UNIVERSITY   (China)

^c JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

Author keywords

Atomic force microscopy; Charge writing; Complex oxides; Heterointerfaces

Indexed keywords

AFM; BUILT-IN POTENTIAL; BULK CRYSTALS; CHARGE WRITING; COMPLEX OXIDES; CONDUCTIVITY SWITCHING; EXPERIMENTAL EVIDENCE; HETERO-INTERFACES; METALLIC LINES; NANO SCALE; SRTIO; UNIT CELLS;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; LANTHANUM ALLOYS; STRONTIUM ALLOYS;

ATOMS;

EID: 77955332555     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl1012695     Document Type: Article

References (30)

1. Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, Ch. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930-933
2. Giessibl, F. J. Science 1995, 267, 68-71
3. García, R.; Pérez, R. Surf. Sci. Rep. 2002, 47, 197-301
4. Ahn, C. H.; Tybell, T.; Antognazza, L.; Char, K.; Hammond, R. H.; Beasley, M. R.; Fischer, Ø.; Triscone, J. M. Science 1997, 276, 1100-1103
5. Wouters, D.; Schubert, U. S. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 2480-2495
6. Custance, O.; Perez, R.; Morita, S. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 803-810
7. Barrett, R. C.; Quate, C. F. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 262-267
8. Mesquida, P.; Stemmer, A. Adv. Mater. 2001, 13, 1395-1398
9. Crook, R.; Graham, A. C.; Smith, C. G.; Farrer, I.; Beere, H. E.; Ritchie, D. A. Nature 2003, 424, 751-754
10. Tessmer, S. H.; Glicofridis, P. I.; Ashoori, R. C.; Levitov, L. S.; Melloch, M. R. Nature 1998, 392, 51-54
11. Cen, C.; Thiel, S.; Hammerl, G.; Schneider, C. W.; Andersen, K. E.; Hellberg, C. S.; Mannhart, J.; Levy, J. Nat. Mater. 2008, 7, 298-302
12. Cen, C.; Thiel, S.; Mannhart, J.; Levy, J. Science 2009, 323, 1026-1030
13. Ohtomo, A.; Hwang, H. Y. Nature 2004, 427, 423-426
14. Popovic, Z. S.; Satpathy, S.; Martin, R. M. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 256801
15. Lee, J.; Demkov, A. A. Phys. Rev. B 2008, 78, 193104
16. Pentcheva, R.; Pickett, W. E. Phys. Rev. Lett. 2009, 102, 107602
17. Thiel, S.; Hammerl, G.; Schmehl, A.; Schneider, C. W.; Mannhart, J. Science 2006, 313, 1942-1945
18. Nakagawa, N.; Hwang, H. Y.; Muller, D. A. Nat. Mater. 2006, 5, 204-209
19. Hwang, H. Y. Science 2006, 313, 1895-1896
20. Guillemot, C.; Budau, P.; Chevriver, J.; Marchi, F.; Comn, F.; Alandi, C.; Bertin, F.; Buffet, N.; Wyon, Ch.; Mur, P. Europhys. Lett. 2002, 59, 566-571
21. Yan, M.; Bernstein, G. H. Ultramicroscopy 2006, 106, 582-586
22. Buh, G. H.; Chung, H. J.; Kuk, Y. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 2010-2012
23. Frohman-Bentchkowsky, D.; Lenzlinger, M. J. Appl. Phys. 1969, 40, 3307-3319
24. Haeni, J. H.; Irvin, P.; Chang, W.; Uecker, R.; Reiche, P.; Li, Y. L.; Choudhury, S.; Tian, W.; Hawley, M. E.; Craigo, B.; Tagantsev, A. K.; Pan, X. Q.; Streiffer, S. K.; Chen, L. Q.; Kirchoefer, S. W.; Levy, J.; Schlom, D. G. Nature 2004, 430, 758-761
25. Ogawa, N.; Miyano, K.; Hosoda, M.; Higuchi, T.; Bell, C.; Hikita, Y.; Hwang, H. Y. Phys. Rev. B 2009, 80, 081106
26. Uchihashi, T.; Okusako, T.; Yamada, J.; Fukano, Y.; Sugawara, Y.; Igarashi, M.; Kaneko, R.; Morita, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1994, 33, L374-376
27. Knorr, N.; Rosselli, S.; Miteva, T.; Nelles, G. J. Appl. Phys. 2009, 105, 114111
28. Rezende, C. A.; Gouveia, R. F.; da Silva, M. A.; Galembeck, F. J. Phys.: Condens. Matter 2009, 21, 263002
29. Higuchi, T.; Hotta, Y.; Susaki, T.; Fujimori, A.; Hwang, H. Y. Phys. Rev. B 2009, 79, 075415
30. Takizawa, M.; Hotta, Y.; Susaki, T.; Ishida, Y.; Wadati, H.; Takata, Y.; Horiba, K.; Matsunami, M.; Shin, S.; Yabashi, M.; Tamasaku, K.; Nishino, Y.; Ishikawa, T.; Fujimori, A.; Hwang, H. Y Phys. Rev. Lett. 2009, 102, 236401