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Volumn 645, Issue 2, 2010, Pages 103-108

A formal scan rate in staircase and square-wave voltammetry

Author keywords

Formal scan rate; Potential step increment; Square wave voltammetry; Staircase voltammetry

Indexed keywords

EUROPIUM; STAIRS; VOLTAMMETRY;

EID: 77955268441     PISSN: 15726657     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jelechem.2010.04.016     Document Type: Article
Times cited : (16)

References (26)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.