Applications of resonant inelastic X-ray scattering to chemical-state analysis

Bunseki Kagaku

Volumn 59, Issue 6, 2010, Pages 425-435

  Hayashi, Hisashi ^a  

^a JAPAN WOMEN'S UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

Chemical state analysis; Material characterization; Resonant inelastic X ray scatterings; XAFS

Indexed keywords

EID: 77954467413     PISSN: 05251931     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.2116/bunsekikagaku.59.425     Document Type: Article

References (30)

1. A. S. Koster, H. Mendel : J. Phys. Chem. Solids, 31, 2511 (1970).
2. T. Mukoyama, K. Taniguchi, H. Adachi : Phys. Rev. B, 34, 3710 (1986).
3. B. K. Agarwal : "X-Ray Spectroscopy", (1989), (Springer-Verlag, New York).
4. J. Kawai, E. Nakamura, Y. Nihei, K. Fujisawa, Y. Gohshi : Spectrochim. Acta., 45B, 463 (1990).
5. F. de Groot : Chem. Rev., 101, 1779 (2001).
6. P. Glatzel, U. Bergmann : Coordination Chem. Rev., 249, 65 (2005).
7. G. Zschornack : "Handbook of X-Ray Data", (2007), (Springer-Verlag, New York).
8. F. de Groot, A. Kotani : "Core Level Spectroscopy of Solids", (2008), (CRC press, New York).
9. H. Hayashi : Anal. Sci., 24, 15 (2008).
10. H. Hayashi, R. Takeda, M. Kawata, Y. Udagawa, N. Kawamura, Y. Watanabe, S. Nanao : Phys. Rev. B, 70, 155113 (2004).
11. J. Tulkki, T. Åberg : J. Phys. B : At. Mol. Phys., 15, L435 (1982).
12. H. Hayashi, M. Kawata, A. Sato, Y. Udagawa, T. Inami, K. Ishii, H. Ogasawara, S. Nanao : Phys. Rev. B, 72, 045114 (2005).
13. H. Hayashi, Y. Udagawa, W. A. Caliebe, C.-C. Kao : Chem. Phys. Lett., 371, 125 (2003).
14. H. Hayashi, R. Takeda, Y. Udagawa, T. Nakamura, H. Miyagawa, H. Syoji, S. Nanao, N. Kawamura : Phys. Rev. B, 68, 045122 (2003).
15. M. O. Krause, J. H. Oliver : J. Phys. Chem. Ref. Data, 8, 329 (1979).
16. H. Hayashi, M. Kawata, Y. Udagawa, N. Kawamura, S. Nanao : Phys. Rev. B, 70, 134427 (2004).
17. H. Hayashi, M. Kawata, R. Takeda, A. Sato, Y. Udagawa, N. Kawamura, S. Nanao : J. Phys. Chem. Solids, 66, 2168 (2005).
18. H. Hayashi, T. Azumi, A. Sato, Y. Udagawa : J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 168, 34 (2008).
19. H. Hayashi, R. Takeda, M. Kawata, Y. Udagawa, Y. Watanabe, T. Takano, S. Nanao, N. Kawamura, T. Uefuji, K. Yamada : J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 136, 199 (2004).
20. H. Hayashi, T. Azumi, A. Sato, R. Takeda, M. Kawata, Y. Udagawa, N. Kawamura, K. Yamada, K. Ikeuchi : Rad. Phys. Chem., 75, 1586 (2006).
21. G. Vanko, F. M. F. de Groot, S. Huotari, R. J. Cava, T. Lorentz, M. Reuther : arXiv:0802.2744v1 : .
22. M. Kurakado : "X-Ray Spectrometry : Recent Technological Advances", Edited by K. Tsuji, J. Injuk, R. Van Grieken, p. 217 (2004), (Wiley, West Sussex).
23. L. von Hámos : Ann. Phys., 17, 716 (1933).
24. H. Hayashi, M. Kawata, R. Takeda, Y. Udagawa, Y. Watanabe, T. Takano, S. Nanao, N. Kawamura : J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 136, 191 (2004).
25. .
26. U. Bergmann, M. M. Grush, C. R. Horne, P. DeMarois, J. E. Penner-Hahn, C. F. Yocum, D. W. Wright, C. E. Dubé, W. H. Armstrong, G. Christou, H. J. Eppley, S. P. Cramer : J. Phys. Chem. B, 102, 8350 (1998).
27. H. Hayashi, N. Kawamura, M. Mizumaki, T. Takabatake : Anal. Chem., 81, 1522 (2009).
28. H. Hayashi, N. Kawamura, M. Mizumaki, T. Takabatake, H. Imura, K. Okamoto, T. Akai : J. Phys. Conference Series, 190, 012050 (2009).
29. H. Hayashi : AIP Conference Proceedings, 882, 833 (2007).
30. H. Hayashi, A. Sato, T. Azumi, Y. Udagawa, T. Inami, K. Ishii, K. B. Garg : Phys. Rev. B, 73, 134405 (2006).