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Physical Chemistry Chemical Physics

Volumn 12, Issue 27, 2010, Pages 7702-7711

Characterizing industrial catalysts using in situ XAFS under identical conditions

(6) Bare, Simon R a Kelly, Shelly D b Ravel, Bruce c Greenlay, Nan a King, Lisa a Mickelson, George E a

a UOP LLC (United States)

b EXAFS Analysis (United States)

c NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY (United States)

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EID: 77954321304 PISSN: 14639076 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1039/b926621f Document Type: Article

Times cited : (29)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.