메뉴 건너뛰기




Volumn 86, Issue 7, 2010, Pages 250-252

OP-FTIR spectrometer virtual calibration for biomass combustion processes diagnostics;Wirtualna kalibracja spektrometru do diagnostyki procesów spalania biomasy

Author keywords

Calibration; Combustion diagnostics; Optical measurement; Partial least square

Indexed keywords


EID: 77954317410     PISSN: 00332097     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (1)

References (7)
  • 1
    • 77954345084 scopus 로고    scopus 로고
    • Pomiary widm procesów spalania z wykorzystaniem spektrometru FTIR
    • Wojcik W., Ciȩszczyk S., Komada P., Kisata P., Pomiary widm procesów spalania z wykorzystaniem spektrometru FTIR, Elektronika, 6 (2008), 230-232
    • (2008) Elektronika , vol.6 , pp. 230-232
    • Wojcik, W.1    Ciȩszczyk, S.2    Komada, P.3    Kisata, P.4
  • 2
    • 77954341823 scopus 로고    scopus 로고
    • Widmo promieniowania procesow spalania w zakresie średniej podczerwieni jako sygnał diagnostyczny
    • Wójcik W., Ciȩszczyk S., Kisata P., Komada P., Widmo promieniowania procesow spalania w zakresie średniej podczerwieni jako sygnał diagnostyczny, Ceramika, 108 (2008), 230-232
    • (2008) Ceramika , vol.108 , pp. 230-232
    • Wójcik, W.1    Ciȩszczyk, S.2    Kisata, P.3    Komada, P.4
  • 4
    • 47749110578 scopus 로고    scopus 로고
    • Enhanced discrimination and calibration of biomass NIR spectral data using non-linear kernel methods
    • Labe N., Lee S., Cho H., Jeong M., Andre N., Enhanced discrimination and calibration of biomass NIR spectral data using non-linear kernel methods, Bioresource Technology, 99 (2008), 8445-8452
    • (2008) Bioresource Technology , vol.99 , pp. 8445-8452
    • Labe, N.1    Lee, S.2    Cho, H.3    Jeong, M.4    Andre, N.5
  • 7
    • 58049173305 scopus 로고    scopus 로고
    • Planowanie eksperymentu kalibracji przetwornika inteligentnego
    • Żelezik J., Planowanie eksperymentu kalibracji przetwornika inteligentnego, Przeglαd Elektrotechniczny, 12 (2008), 326-329
    • (2008) Przeglαd Elektrotechniczny , vol.12 , pp. 326-329
    • Zelezik, J.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.