Mechanical Properties of Silicon Nanowires

Nanoscale Research Letters

Volumn 5, Issue 1, 2010, Pages 211-216

  Sohn, Young Soo ^a   Park, Jinsung ^b   Yoon, Gwonchan ^b   Song, Jiseok ^b   Jee, Sang Won ^c   Lee, Jung Ho ^c   Na, Sungsoo ^b   Kwon, Taeyun ^d   Eom, Kilho ^b  

^a Catholic University of Daegu   (South Korea)

^b Korea University   (South Korea)

^c Hanyang University   (South Korea)

^d Yonsei University Wonju   (South Korea)

Author keywords

Atomic force microscope; Elastic modulus; Nanoindentation; Silicon nanowire

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPE; ATOMIC FORCE MICROSCOPES; BULK SILICON; ELASTIC BEHAVIOR; FINITE SIZE EFFECT; HERTZ THEORY; MECHANICAL FUNCTIONS; NANOINDENTATION EXPERIMENTS; NANOSCALE BUILDING BLOCKS; SILICON NANOWIRES; SURFACE EFFECT;

ATOMS; ELASTIC MODULI; ELECTROMECHANICAL DEVICES; MECHANICAL PROPERTIES; MICROSCOPES; NANOINDENTATION;

NANOWIRES;

EID: 77952884259     PISSN: 19317573     EISSN: 1556276X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s11671-009-9467-7     Document Type: Article

References (26)

1. C. Q. Chen, Y. Shi, Y. S. Zhang, J. Zhu, Y. J. Yan, Phys. Rev. Lett. 96, 075505 (2006).
2. R. H. Baughman, C. Cui, A. A. Zakhidov, Z. Iqbal, J. N. Barisci, G. M. Spinks, G. G. Wallace, A. Mazzoldi, D. De Rossi, A. G. Rinzler, O. Jaschinski, S. Roth, M. Kertesz, Science 284, 1340 (1999).
3. C. Lee, X. Wei, J. W. Kysar, J. Hone, Science 321, 385 (2008).
4. L. T. Ngo, D. Almecija, J. E. Sader, B. Daly, N. Petkov, J. D. Holmes, D. Erts, J. J. Boland, Nano Lett. 6, 2964 (2006).
5. B. Wu, A. Heidelberg, J. J. Boland, Nat. Mater. 4, 525 (2005).
6. A. Husain, J. Hone, H. W. C. Postma, X. M. H. Huang, T. Drake, M. Barbic, A. Scherer, M. L. Roukes, Appl. Phys. Lett. 83, 1240 (2003).
7. X. L. Feng, R. He, P. Yang, M. L. Roukes, Nano Lett. 7, 1953 (2007).
8. K. Jensen, C. Girit, W. Mickelson, A. Zettl, Phys. Rev. Lett. 96, 215503 (2006).
9. J. S. Bunch, A. M. van der Zande, S. S. Verbridge, I. W. Frank, D. M. Tanenbaum, J. M. Parpia, H. G. Craighead, P. L. McEuen, Science 315, 490 (2007).
10. Y. T. Yang, C. Callegari, X. L. Feng, K. L. Ekinci, M. L. Roukes, Nano Lett. 6, 583 (2006).
11. K. Eom, T. Y. Kwon, D. S. Yoon, H. L. Lee, T. S. Kim, Phys. Rev. B 76, 113408 (2007).
12. K. Jensen, K. Kim, A. Zettl, Nat. Nanotechnol. 3, 533 (2008).
13. M. Zheng, K. Eom, C. Ke, J. Phys. D Appl. Phys. 42, 145408 (2009).
14. R. He, P. Yang, Nat. Nanotechnol. 1, 42 (2006).
15. A. Heidelberg, L. T. Ngo, B. Wu, M. A. Phillips, S. Sharma, T. I. Kamins, J. E. Sader, J. J. Boland, Nano. Lett. 6, 1101 (2006).
16. B. Wen, J. E. Sader, J. J. Boland, Phys. Rev. Lett. 101, 175502 (2008).
17. J. He, C. M. Lilley, Nano Lett. 8, 1798 (2008).
18. B. Peng, M. Locascio, P. Zapol, S. Li, S. L. Mielke, G. C. Schatz, H. D. Espinosa, Nat. Nanotechnol. 3, 626 (2008).
19. M. H. Zhao, Z.-Z. Ye, S. X. Mao, Phys. Rev. Lett. 102, 045502 (2009).
20. J. E. Sader, J. W. M. Chon, P. Mulvaney, Rev. Sci. Instrum. 70, 3967 (1999).
21. I. Palaci, S. Fedrigo, H. Brune, C. Klinke, M. Chen, E. Riedo, Phys. Rev. Lett. 94, 175502 (2005).
22. M. Lucas, W. Mai, R. Yang, Z. L. Wang, E. Riedo, Nano Lett. 7, 1314 (2007).
23. K. L. Johnson, Contact Mechanics (Cambridge University Press, Cambridge, 1987).
24. H. Ni, X. Li, H. Gao, Appl. Phys. Lett. 88, 043108 (2006).
25. G. Wang, X. Li, Appl. Phys. Lett. 91, 231912 (2007).
26. Y. Zhu, F. Xu, Q. Qin, W. Y. Fung, W. Lu, Nano Lett. (2009). doi: 10. 1021/nl902132w (in press).