-
1
-
-
34447580226
-
-
Koch, N. ChemPhysChem 2007, 8, 1438-1455
-
(2007)
ChemPhysChem
, vol.8
, pp. 1438-1455
-
-
Koch, N.1
-
2
-
-
33646176337
-
-
Koch, N.; Vollmer, A.; Salzmann, I.; Nickel, B.; Weiss, H.; Rabe, J. P. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 156803
-
(2006)
Phys. Rev. Lett.
, vol.96
, pp. 156803
-
-
Koch, N.1
Vollmer, A.2
Salzmann, I.3
Nickel, B.4
Weiss, H.5
Rabe, J.P.6
-
3
-
-
0000084645
-
-
Salih, A. J.; Lau, S. P.; Marshall, J. M.; Maud, J. M.; Bowen, W. R.; Hilal, N.; Lovitt, R. W.; Williams, P. M. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2231
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.69
, pp. 2231
-
-
Salih, A.J.1
Lau, S.P.2
Marshall, J.M.3
Maud, J.M.4
Bowen, W.R.5
Hilal, N.6
Lovitt, R.W.7
Williams, P.M.8
-
5
-
-
0001144507
-
-
Fenter, P.; Schreiber, F.; Zhou, L.; Eisenberger, P.; Forrest, S. R. Phys. Rev. B 1997, 56, 3046
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.56
, pp. 3046
-
-
Fenter, P.1
Schreiber, F.2
Zhou, L.3
Eisenberger, P.4
Forrest, S.R.5
-
6
-
-
0035396180
-
-
Peisert, H.; Schwieger, T.; Auerhammer, J. M.; Knupfer, M.; Golden, M. S.; Fink, J.; Bressler, P. R.; Mast, M. J. Appl. Phys. 2001, 90, 466-469
-
(2001)
J. Appl. Phys.
, vol.90
, pp. 466-469
-
-
Peisert, H.1
Schwieger, T.2
Auerhammer, J.M.3
Knupfer, M.4
Golden, M.S.5
Fink, J.6
Bressler, P.R.7
Mast, M.8
-
7
-
-
1142292395
-
-
Ellis, T. S.; Park, K. T.; Hulbert, S. L.; Ulrich, M. D.; Rowe, J. E. J. Appl. Phys. 2004, 95, 982
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.95
, pp. 982
-
-
Ellis, T.S.1
Park, K.T.2
Hulbert, S.L.3
Ulrich, M.D.4
Rowe, J.E.5
-
8
-
-
0343680215
-
-
Schmitz-Hübsch, T.; Fritz, T.; Staub, R.; Back, A.; Armstrong, N. R.; Leo, K. Surf. Sci. 1999, 437, 163
-
(1999)
Surf. Sci.
, vol.437
, pp. 163
-
-
Schmitz-Hübsch, T.1
Fritz, T.2
Staub, R.3
Back, A.4
Armstrong, N.R.5
Leo, K.6
-
9
-
-
0029336272
-
-
Schuerlein, T. J.; Schmidt, A.; Lee, P. A.; Nebesny, K. W.; Armstrong, N. R. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 3837-3845
-
(1995)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.34
, pp. 3837-3845
-
-
Schuerlein, T.J.1
Schmidt, A.2
Lee, P.A.3
Nebesny, K.W.4
Armstrong, N.R.5
-
10
-
-
0037452729
-
-
France, C. B.; Schroeder, P. G.; Forsythe, J. C.; Parkinson, B. A. Langmuir 2003, 19, 1274-1281
-
(2003)
Langmuir
, vol.19
, pp. 1274-1281
-
-
France, C.B.1
Schroeder, P.G.2
Forsythe, J.C.3
Parkinson, B.A.4
-
13
-
-
34548300015
-
-
Wang, H. B.; Zhu, F.; Yang, J.; Geng, Y.; Yan, D. Adv. Mater. 2007, 19, 2168-2171
-
(2007)
Adv. Mater.
, vol.19
, pp. 2168-2171
-
-
Wang, H.B.1
Zhu, F.2
Yang, J.3
Geng, Y.4
Yan, D.5
-
14
-
-
60749105743
-
-
Huang, Y. L.; Chen, W.; Chen, S.; Wee, A. T. S. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2009, 95, 107-111
-
(2009)
Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
, vol.95
, pp. 107-111
-
-
Huang, Y.L.1
Chen, W.2
Chen, S.3
Wee, A.T.S.4
-
15
-
-
0031103927
-
-
Gundlach, D. J.; Lin, Y. Y.; Jackson, T. N.; Nelson, S. F.; Schlom, D. G. IEEE Electron Device Lett. 1997, 18, 87-89
-
(1997)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.18
, pp. 87-89
-
-
Gundlach, D.J.1
Lin, Y.Y.2
Jackson, T.N.3
Nelson, S.F.4
Schlom, D.G.5
-
16
-
-
18744383136
-
-
Klauk, H.; Halik, M.; Zschieschang, U.; Schmid, G.; Radlik, W.; Weber, W. J. Appl. Phys. 2002, 92, 5259
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.92
, pp. 5259
-
-
Klauk, H.1
Halik, M.2
Zschieschang, U.3
Schmid, G.4
Radlik, W.5
Weber, W.6
-
17
-
-
33746304453
-
-
Singh, T. B.; Senkarabacak, P.; Sariciftci, N. S.; Tanda, A.; Lackner, C.; Hagelauer, R.; Horowitz, G. Appl. Phys. Lett. 2006, 89 033512
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 033512
-
-
Singh, T.B.1
Senkarabacak, P.2
Sariciftci, N.S.3
Tanda, A.4
Lackner, C.5
Hagelauer, R.6
Horowitz, G.7
-
18
-
-
3042811341
-
-
Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Kobayashi, M.; Gao, Y.; Fukai, Y.; Inoue, Y.; Sato, F.; Tokio, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8138-8140
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 8138-8140
-
-
Sakamoto, Y.1
Suzuki, T.2
Kobayashi, M.3
Gao, Y.4
Fukai, Y.5
Inoue, Y.6
Sato, F.7
Tokio, S.8
-
19
-
-
33847111592
-
-
Klauk, H.; Zschieschang, U.; Pflaum, J.; Halik, M. Nature 2007, 445, 745-748
-
(2007)
Nature
, vol.445
, pp. 745-748
-
-
Klauk, H.1
Zschieschang, U.2
Pflaum, J.3
Halik, M.4
-
20
-
-
23944449031
-
-
Inoue, Y.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Kobayashi, M.; Gao, Y.; Tokito, S. J. Appl. Phys. 2005, 44, 3663
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.44
, pp. 3663
-
-
Inoue, Y.1
Sakamoto, Y.2
Suzuki, T.3
Kobayashi, M.4
Gao, Y.5
Tokito, S.6
-
21
-
-
33846444330
-
-
Koch, N.; Vollmer, A.; Duhm, S.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T. Adv. Mater. 2006, 19, 112-116
-
(2006)
Adv. Mater.
, vol.19
, pp. 112-116
-
-
Koch, N.1
Vollmer, A.2
Duhm, S.3
Sakamoto, Y.4
Suzuki, T.5
-
22
-
-
44949179519
-
-
Koch, N.; Gerlach, A.; Duhm, S.; Glowatzki, H.; Heimel, G.; Vollmer, A.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Zegenhagen, J.; Rabe, J. P.; Schreiber, F. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 7300-7304
-
(2008)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.130
, pp. 7300-7304
-
-
Koch, N.1
Gerlach, A.2
Duhm, S.3
Glowatzki, H.4
Heimel, G.5
Vollmer, A.6
Sakamoto, Y.7
Suzuki, T.8
Zegenhagen, J.9
Rabe, J.P.10
Schreiber, F.11
-
23
-
-
67650314002
-
-
Salzmann, I.; Duhm, S.; Heimel, G.; Oehzelt, M.; Kniprath, R.; Rabe, J. P.; Koch, N. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12870-12871
-
(2008)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.130
, pp. 12870-12871
-
-
Salzmann, I.1
Duhm, S.2
Heimel, G.3
Oehzelt, M.4
Kniprath, R.5
Rabe, J.P.6
Koch, N.7
-
24
-
-
77952739686
-
-
Jacobs, R. M. J.; Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Schreiber, F. J. Chem. Phys. 2007, 127, 194705
-
(2007)
J. Chem. Phys.
, vol.127
, pp. 194705
-
-
Jacobs, R.M.J.1
Sakamoto, Y.2
Suzuki, T.3
Schreiber, F.4
-
25
-
-
47949089337
-
-
Kowarik, S.; Gerlach, A.; Hinderhofer, A.; Milita, S.; Borgatti, F.; Zontone, F.; Suzuki, T.; Biscarini, F.; Schreiber, F. Phys. Status Solidi RRL 2008, 2, 120-122
-
(2008)
Phys. Status Solidi RRL
, vol.2
, pp. 120-122
-
-
Kowarik, S.1
Gerlach, A.2
Hinderhofer, A.3
Milita, S.4
Borgatti, F.5
Zontone, F.6
Suzuki, T.7
Biscarini, F.8
Schreiber, F.9
-
26
-
-
61349125503
-
-
Dougherty, D. B.; Jin, W.; Cullen, W. G.; Reutt-Robey, J. E.; Robey, S. W. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 20334-20339
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 20334-20339
-
-
Dougherty, D.B.1
Jin, W.2
Cullen, W.G.3
Reutt-Robey, J.E.4
Robey, S.W.5
-
27
-
-
29844442338
-
-
Eremtchenko, M.; Temirov, R.; Bauer, D.; Schaefer, J. A.; Tautz, F. S. Phys. Rev. B 2005, 72, 115430
-
(2005)
Phys. Rev. B
, vol.72
, pp. 115430
-
-
Eremtchenko, M.1
Temirov, R.2
Bauer, D.3
Schaefer, J.A.4
Tautz, F.S.5
-
29
-
-
40949155821
-
-
Zhang, H. L.; Chen, W.; Huang, H.; Chen, L.; Wee, A. T. S. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 2720
-
(2008)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.130
, pp. 2720
-
-
Zhang, H.L.1
Chen, W.2
Huang, H.3
Chen, L.4
Wee, A.T.S.5
-
31
-
-
17444408167
-
-
Yu, X. J.; Wilhelmi, O.; Moser, H. O.; Vidyaraj, S. V.; Gao, X. Y.; Wee, A. T. S.; Nyunt, T.; Qian, H. J.; Zheng, H. W. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2005, 144, 1031-1034
-
(2005)
J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.
, vol.144
, pp. 1031-1034
-
-
Yu, X.J.1
Wilhelmi, O.2
Moser, H.O.3
Vidyaraj, S.V.4
Gao, X.Y.5
Wee, A.T.S.6
Nyunt, T.7
Qian, H.J.8
Zheng, H.W.9
-
32
-
-
57549091743
-
-
Chen, W.; Huang, H.; Chen, S.; Huang, Y. L.; Gao, X. Y.; Wee, A. T. S. Chem. Mater. 2008, 20, 7017-7021
-
(2008)
Chem. Mater.
, vol.20
, pp. 7017-7021
-
-
Chen, W.1
Huang, H.2
Chen, S.3
Huang, Y.L.4
Gao, X.Y.5
Wee, A.T.S.6
-
33
-
-
70349637124
-
-
Chen, W.; Chen, S.; Huang, Y. L.; Huang, H.; Qi, D. C.; Gao, X. Y.; Ma, J.; Wee, A. T. S. J. Appl. Phys. 2009, 106 064910
-
(2009)
J. Appl. Phys.
, vol.106
, pp. 064910
-
-
Chen, W.1
Chen, S.2
Huang, Y.L.3
Huang, H.4
Qi, D.C.5
Gao, X.Y.6
Ma, J.7
Wee, A.T.S.8
-
34
-
-
33846689886
-
-
Oison, V.; Koudia, M.; Abel, M.; Porte, L. Phys. Rev. B 2007, 75 035428
-
(2007)
Phys. Rev. B
, vol.75
, pp. 035428
-
-
Oison, V.1
Koudia, M.2
Abel, M.3
Porte, L.4
-
35
-
-
33745799520
-
-
Koudia, M.; Abel, M.; Maurel, C.; Bliek, A.; Catalin, D.; Mossoyan, M.; Mossoyan, J.; Porte, L. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 10058-10062
-
(2006)
J. Phys. Chem. B
, vol.110
, pp. 10058-10062
-
-
Koudia, M.1
Abel, M.2
Maurel, C.3
Bliek, A.4
Catalin, D.5
Mossoyan, M.6
Mossoyan, J.7
Porte, L.8
-
36
-
-
27244438335
-
-
Jäckel, F.; Min, Ai; Wu, J.; Müllen, K.; Rabe, P. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 14580-14581
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.127
, pp. 14580-14581
-
-
Jäckel, F.1
Min, A.2
Wu, J.3
Müllen, K.4
Rabe, P.5
-
37
-
-
29144449994
-
-
Thayer, G. E.; Sadowski, J. T.; zu Heringdorf, F. M.; Sakurai, T.; Tromp, R. M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 256106
-
(2005)
Phys. Rev. Lett.
, vol.95
, pp. 256106
-
-
Thayer, G.E.1
Sadowski, J.T.2
Zu Heringdorf, F.M.3
Sakurai, T.4
Tromp, R.M.5
-
38
-
-
53849124340
-
-
Huang, H.; Chen, W.; Wee, A. T. S. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 14913-14918
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 14913-14918
-
-
Huang, H.1
Chen, W.2
Wee, A.T.S.3
-
39
-
-
77954820240
-
-
Duhm, S.; Hosoumi, S.; Salzmann, I.; Gerlach, A.; Oehzelt, M.; Wedl, B.; Lee, T.; Schreiber, F.; Koch, N.; Ueno, N.; Kera, S. Phys. Rev. B 2010, 81 045418
-
(2010)
Phys. Rev. B
, vol.81
, pp. 045418
-
-
Duhm, S.1
Hosoumi, S.2
Salzmann, I.3
Gerlach, A.4
Oehzelt, M.5
Wedl, B.6
Lee, T.7
Schreiber, F.8
Koch, N.9
Ueno, N.10
Kera, S.11
-
40
-
-
0038403737
-
-
Scudiero, L.; Hipps, K.; Barlow, D. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 2903
-
(2003)
J. Phys. Chem. B
, vol.107
, pp. 2903
-
-
Scudiero, L.1
Hipps, K.2
Barlow, D.3
-
41
-
-
0037091660
-
-
Peisert, H.; Knupfer, M.; Schwieger, T.; Auerhammer, J. M.; Golden, M. S.; Fink, J. J. Appl. Phys. 2002, 91, 4872
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.91
, pp. 4872
-
-
Peisert, H.1
Knupfer, M.2
Schwieger, T.3
Auerhammer, J.M.4
Golden, M.S.5
Fink, J.6
-
42
-
-
79956045469
-
-
Watkins, N. J.; Li, Y.; Gao, Y. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4384
-
(2002)
Appl. Phys. Lett.
, vol.80
, pp. 4384
-
-
Watkins, N.J.1
Li, Y.2
Gao, Y.3
-
43
-
-
0011336568
-
-
Hisao, I.; Sugiyama, K.; Ito, E.; Seki, K. Adv. Mater. 1999, 11, 605-625
-
(1999)
Adv. Mater.
, vol.11
, pp. 605-625
-
-
Hisao, I.1
Sugiyama, K.2
Ito, E.3
Seki, K.4
|