Probing strain in bent semiconductor nanowires with raman spectroscopy

Nano Letters

Volumn 10, Issue 4, 2010, Pages 1280-1286

  Chen, Jianing ^a   Conache, Gabriela ^a   Pistol, Mats Erik ^a   Gray, Struan M ^a   Borgström, Magnus T ^a   Xu, Hongxing ^a   Xu, H Q ^a   Samuelson, Lars ^a   Håkanson, Ulf ^a  

^a LUND UNIVERSITY   (Sweden)

Author keywords

Nanowire; Phonon shift; Raman spectroscopy; Strain mapping

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPES; DEFORMATION POTENTIAL THEORY; INP; LOCAL STRAINS; NONINVASIVE OPTICAL METHOD; OPTICAL PHONON FREQUENCIES; PHONON ENERGIES; PHONON LINES; SEMICONDUCTOR NANOWIRE; STRAIN MAPPING;

ATOMIC SPECTROSCOPY; NANOWIRES; PHONONS; RAMAN SCATTERING; RAMAN SPECTROSCOPY;

TENSILE STRAIN;

INDIUM; INDIUM PHOSPHIDE; NANOWIRE; PHOSPHINE DERIVATIVE;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMISTRY; INSTRUMENTATION; NANOTECHNOLOGY; RAMAN SPECTROMETRY; SEMICONDUCTOR;

INDIUM; MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; NANOTECHNOLOGY; NANOWIRES; PHOSPHINES; SEMICONDUCTORS; SPECTRUM ANALYSIS, RAMAN;

EID: 77951072178     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl904040y     Document Type: Article

References (47)

1. Gudiksen, M. S.; Lauhon, L. J.; Wang, J.; Smith, D. C.; Lieber, C. M. Nature 2002, 415 (6872) 617-620
2. Pauzauskie, P. J.; Yang, P. Mater. Today 2006, 9 (10) 36-45
3. Thelander, C.; Agarwal, P.; Brongersma, S.; Eymery, J.; Feiner, L. F.; Forchel, A.; Scheffler, M.; Riess, W.; Ohlsson, B. J.; Gosele, U.; Samuelson, L. Mater. Today 2006, 9 (10) 28-35
4. Algra, R. V., M. A.; Borgström, M. T.; Feiner, L. F.; Immink, G.; van Enckevort, W. J. P.; Vlieg, E.; Bakkers, E. P. A. M. Nature 2008, 456, 369-372
5. Caroff, P. D., K. A.; Johansson, J.; Messing, M. E.; Deppert, K.; Samuelson, L. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 50-55
6. Pistol, M.-E.; Gerling, M.; Hessman, D.; Samuelson, L. Phys. Rev. B 1992, 45 (7) 3628-3635
7. Pistol, M.-E.; Pryor, C. P. Phys. Rev. B 2009, 80 035316
8. Wang, X. D.; Zhou, J.; Song, J. H.; Liu, J.; Xu, N. S.; Wang, Z. L. Nano Lett. 2006, 6 (12) 2768-2772
9. Lin, X.; He, X. B.; Yang, T. Z.; Guo, W.; Shi, D. X.; Gao, H. J.; Ma, D. D. D.; Lee, S. T.; Liu, F.; Xie, X. C. Appl. Phys. Lett. 2006, 89 (4 043103
10. Han, X.; Kou, L.; Lang, X.; Xia, J.; Wang, N.; Qin, R.; Lu, J.; Liao, Z.; Zhang, X.; Shan, X.; Song, X.; Gao, J.; Guo, W.; Yu, D. Adv. Mater. 2009, 21, 4937
11. Bjork, M. T.; Ohlsson, B. J.; Sass, T.; Persson, A. I.; Thelander, C.; Magnusson, M. H.; Deppert, K.; Wallenberg, L. R.; Samuelson, L. Nano Lett. 2002, 2 (2) 87-89
12. Larsson, M. W.; Wagner, J. B.; Wallin, M.; Hakansson, P.; Froberg, L. E.; Samuelson, L.; Wallenberg, L. R. Nanotechnology 2007, 18 (1) 015504
13. Zheng, K.; Han, X. D.; Wang, L. H.; Zhang, Y. F.; Yue, Y. H.; Qin, Y.; Zhang, X. N.; Zhang, Z. Nano Lett. 2009, 9 (6) 2471-2476
14. Lopez, F. J.; Hemesath, E. R.; Lauhon, L. J. Nano Lett. 2009, 9 (7) 2774-2779
15. Bell, D. C.; Wu, Y.; Barrelet, C. J.; Gradecak, S.; Xiang, J.; Timko, B. P.; Lieber, C. M. Microsc. Res. Tech. 2004, 64 (5?6) 373-389
16. Larsson, M. W.; Wallenberg, R. W.; Persson, A. I.; Samuelson, L. Microsc. Microanal. 2004, 10, 41-46
17. Weber, W. H.; Merlin, R. Raman Scattering in Material Science; Springer: Berlin, 2000; Vol. 42.
18. Gupta, R.; Xiong, Q.; Mahan, G. D.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2003, 3 (12) 1745-1750
19. Begum, N.; Piccin, M.; Jabeen, F.; Bais, G.; Rubini, S.; Martelli, F.; Bhatti, A. S. J. Appl. Phys. 2008, 104 (10) 104311
20. Spirkoska, D.; Abstreiter, G.; I Morral, A. F. Nanotechnology 2008, 19 (43) 435704
21. Pauzauskie, P. J.; Talaga, D.; Seo, K.; Yang, P. D.; Lagugne-Labarthet, F. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127 (49) 17146-17147
22. Adu, K. W.; Xiong, Q.; Gutierrez, H. R.; Chen, G.; Eklund, P. C. Appl. Phys. A 2006, 85 (3) 287-297
23. Xiong, Q. H.; Wang, J. G.; Reese, O.; Voon, L.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2004, 4 (10) 1991-1996
24. Xing, Y. J.; Xi, Z. H.; Xue, Z. Q.; Zhang, X. D.; Song, J. H.; Wang, R. M.; Xu, J.; Song, Y.; Zhang, S. L.; Yu, D. P. Appl. Phys. Lett. 2003, 83 (9) 1689-1691
25. Mahan, G. D.; Gupta, R.; Xiong, Q.; Adu, C. K.; Eklund, P. C. Phys. Rev. B 2003, 68 (7 073402
26. Mahan, G. D. Phys. Rev. B 2006, 74 (3 033407
27. Adu, K. W.; Gutierrez, H. R.; Kim, U. J.; Sumanasekera, G. U.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2005, 5 (3) 409-414
28. Piscanec, S.; Cantoro, M.; Ferrari, A. C.; Zapien, J. A.; Lifshitz, Y.; Lee, S. T.; Hofmann, S.; Robertson, J. Phys. Rev. B 2003, 68 (24) 241312
29. Chen, G.; Wu, J.; Lu, Q. J.; Gutierrez, H. R. H.; Xiong, Q.; Pellen, M. E.; Petko, J. S.; Werner, D. H.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2008, 8 (5) 1341-1346
30. Bordag, M.; Ribayrol, A.; Conache, G.; Froberg, L. E.; Gray, S.; Samuelson, L.; Montelius, L.; Pettersson, H. Small 2007, 3 (8) 1398-1401
31. Conache, G.; Gray, S. M.; Ribayrol, A.; Froberg, L. E.; Samuelson, L.; Pettersson, H.; Montelius, L. Small 2009, 5 (2) 203-207
32. Borgstrom, M. T.; Norberg, E.; Wickert, P.; Nilsson, H. A.; Tragardh, J.; Dick, K. A.; Statkute, G.; Ramvall, P.; Deppert, K.; Samuelson, L. Nanotechnology 2008, 19 (44) 445602
33. Mooradia, A.; Wright, G. B. Solid State Commun. 1966, 4 (9) 431-434
34. Wang, J. F.; Gudiksen, M. S.; Duan, X. F.; Cui, Y.; Lieber, C. M. Science 2001, 293 (5534) 1455-1457
35. Xiong, Q.; Chen, G.; Gutierrez, H. R.; Eklund, P. C. Appl. Phys. A 2006, 85 (3) 299-305
36. Sirbuly, D. J.; Law, M.; Yan, H. Q.; Yang, P. D. J. Phys. Chem. B 2005, 109 (32) 15190-15213
37. Cerdeira, F.; Buchenau, C. J.; Cardona, M.; Pollak, F. H. Phys. Rev. B 1972, 5 (2) 580-593
38. Anastassakis, E.; Raptis, Y. S.; Hunermann, M.; Richter, W.; Cardona, M. Phys. Rev. B 1988, 38 (11) 7702-7709
39. Anastassakis, E. J. Appl. Phys. 1997, 82 (4) 1582-1591
40. Richter, H.; Wang, Z. P.; Ley, L. Solid State Commun. 1981, 39 (5) 625-629
41. Campbell, I. H.; Fauchet, P. M. Solid State Commun. 1986, 58 (10) 739-741
42. Wang, R. P.; Zhou, G. W.; Liu, Y. L.; Pan, S. H.; Zhang, H. Z.; Yu, D. P.; Zhang, Z. Phys. Rev. B 2000, 61 (24) 16827-16832
43. Watt, M.; Torres, C. M. S.; Arnot, H. E. G.; Beaumont, S. P. Semicond. Sci. Technol. 1990, 5 (4) 285-290
44. Ruppin, R.; Englman, R. Rep. Prog. Phys. 1970, 33 (2) 149-196
45. Anderson, N.; Hartschuh, A.; Cronin, S.; Novotny, L. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127 (8) 2533-2537
46. Bailo, E.; Deckert, V. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47 (9) 1658-1661
47. Hartschuh, A.; Sanchez, E. J.; Xie, X. S.; Novotny, L. Phys. Rev. Lett. 2003, 90 (9 095503