Yield strength asymmetry in metal nanowires

Nano Letters

Volumn 4, Issue 10, 2004, Pages 1863-1867

  Diao, Jiankuai ^a   Gall, Ken ^a   Dunn, Martin L ^a  

^a UCB 450   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COMPUTER SIMULATION; DISLOCATIONS (CRYSTALS); GOLD; LOADING; NUCLEATION; STRESSES; YIELD STRESS;

ATOMISTIC SIMULATIONS; COMPRESSIVE LOADING; GOLD NANOWIRES; SURFACE STRESSES;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

GOLD; METAL;

ARTICLE; ATOM; COMPRESSION; NANOTECHNOLOGY; SIMULATION; STRENGTH; STRESS; SURFACE PROPERTY; TENSILE STRENGTH; TENSION;

EID: 7644220092     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl0489992     Document Type: Article

References (24)

1. Marszalek, P. E.; Greenleaf, W. J.; Li, H. B.; Oberhauser, A. F.; Fernandez, J. M. PNAS 2000, 97, 6282.
2. Horstemeyer, M. F.; Baskes, M. I.; Plimpton, S. J. Acta Mater. 2001, 49, 4363.
3. Sorensen, M. R.; Randbyge, M.; Jacobsen, K. W. Phys. Rev. B 1998, 57, 283.
4. Kang J. W.; Hwang, H. J. Nanotechnology 2001, 12, 295.
5. Liang, H. Y.; Wang, X. X.; Wu, H. G.; Wang, Y. Acta mecnanica sinica 2002, 34, 208.
6. Landman, U.; Luedtke, W. D.; Burnham, N. A.; and Colton, R. J. Science 1990, 248, 454.
7. Ikeda, H.; Qi Y.; Cagin, T.; Samwer, K.; Johnson, W. L.; Goddard, W. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 2900.
8. da Silva, E. Z.; da Silva, A. J. R.; Fazzio, A. Comput. Mater. Sci. 2004 30, 73.
9. da Silva, E. Z.; Novaes, F. D.; da Silva, A. J. R.; Fazzio, A. Phys. Rev. B 2004, 69 15411.
10. da Silva, E. Z.; da Silva, A. J. R.; Fazzio, A. Phys. Rev. Lett. 2001, 87 256102.
11. Wu, H. A.; Soh, A. K.; Wang, X. X.; Sun, Z. H. Key Eng. Mater. 2004 261-263, 33.
12. Mehrez, M.; Ciraci, S.; Fong, C. Y.; Erkoc, S. J. Phys.: Condens. Matter 1997, 9, 10843.
13. Finbow, G. M.; Lynden-Bell, R. M.; McDonald, I. R. Mol. Phys. 1997 92, 705.
14. Foiles, S. M.; Daw, M. S.; Baskes, M. I. Phys. Rev. B 1986, 33, 7983.
15. Egami, T.; Maeda, K.; Vitek, V. Philosophical Magazine A 1980 41, 883.
16. Cheung, K. S.; Yip, S. J. Appl. Phys. 1991, 70, 5688.
17. Zhou, M. Proc. R. Soc. London A, 2003, 459, 2347.
18. Diao, J.; Gall, K.; Dunn, M. L. Phys. Rev. B, 2004a, in press.
19. Miller, R. E.; Acharya, A. JMPS 2004, 52, 1507.
20. Li, J.; Van Vliet, K. J.; Zhu, T.; Yip, S.; Suresh, S. Nature 2002, 418, 307.
21. Needs, R. J.; Godfrey, M. J.; Mansfield, M. Surf. Sci. 1991, 42, 215.
22. Fiorentini, V.; Methfessel, M.; Schoffler, M. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 1051.
23. Diao, J.; Gall, K.; Dunn, M. L. JMPS, 2004b, 52, 1935.
24. Zimmerman, J. A.; Kelchner, C. L.; Lein, P. A., Hamilton, J. C.; Foiles, S. M. Phys. Rev. Lett 2001, 87, 165507.